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Microscópio electrónico escaneando

Microscópio electrónico escaneando, Total: 98 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Microscópio electrónico escaneando son: Química analítica, Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Vocabularios, Medidas lineales y angulares., Educación, Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura., Dispositivos de visualización electrónica., Calidad del aire, Tratamiento superficial y revestimiento., Materiales de construcción, Fotografía.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
GB/T 23414-2009 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
GB/T 19267.6-2003 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopía electrónica de barrido.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Microscópio electrónico escaneando

GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
GB/T 33838-2017 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Métodos para evaluar la nitidez de la imagen.

International Organization for Standardization (ISO), Microscópio electrónico escaneando

ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO 22493:2014 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Microscópio electrónico escaneando

JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)

Professional Standard - Machinery, Microscópio electrónico escaneando

JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Microscópio electrónico escaneando

KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS A ISO 16067-2-2005(2020) Fotografía－Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas－Medición de resolución espacial－Parte 2: Escáneres de película

KR-KS, Microscópio electrónico escaneando

KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario

British Standards Institution (BSI), Microscópio electrónico escaneando

BS ISO 22493:2014 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
BS ISO 16067-2:2004 Fotografía. Escáneres electrónicos para imágenes fotográficas. Medidas de resolución espacial. Escáneres de película
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Microscópio electrónico escaneando

ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-16
ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido

Association Francaise de Normalisation, Microscópio electrónico escaneando

NF X21-010:2009 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario.
NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido: métodos para evaluar la nitidez de la imagen
NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
NF T25-111-4:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 4: Fractografía mediante microscopio electrónico de barrido

Professional Standard - Education, Microscópio electrónico escaneando

JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

Professional Standard - Petroleum, Microscópio electrónico escaneando

SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

国家能源局, Microscópio electrónico escaneando

SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

Professional Standard - Judicatory, Microscópio electrónico escaneando

SF/T 0139-2023

Group Standards of the People's Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

T/QGCML 1940-2023

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Microscópio electrónico escaneando

DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno

SE-SIS, Microscópio electrónico escaneando

SIS SS-ISO 9220:1989
SIS SS CECC 00013-1985 Especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores

European Committee for Standardization (CEN), Microscópio electrónico escaneando

EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)

RU-GOST R, Microscópio electrónico escaneando

GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación

Danish Standards Foundation, Microscópio electrónico escaneando

DS/EN ISO 9220:1995
DS/ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.

German Institute for Standardization, Microscópio electrónico escaneando

DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022

ES-UNE, Microscópio electrónico escaneando

UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).

Professional Standard - Public Safety Standards, Microscópio electrónico escaneando

GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X

Professional Standard - Commodity Inspection, Microscópio electrónico escaneando

SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.

AENOR, Microscópio electrónico escaneando

UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , Microscópio electrónico escaneando

LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).