ZH
EN
ES

сканирующий электронный микроскоп

сканирующий электронный микроскоп, Всего: 98 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к сканирующий электронный микроскоп, являются: Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Словари, Линейные и угловые измерения, Образование, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры, Электронные устройства отображения, Качество воздуха, Обработка поверхности и покрытие, Строительные материалы, Фотография.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, сканирующий электронный микроскоп

GB/T 17361-2013 Микролучевой анализ. Идентификация аутигенного глинистого минерала в осадочных породах методом сканирующего электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
GB/T 23414-2009 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
GB/T 19267.6-2003 Физическое и химическое исследование следов доказательств в судебной медицине. Часть 6. Сканирующая электронная микроскопия.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, сканирующий электронный микроскоп

GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 33838-2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.

International Organization for Standardization (ISO), сканирующий электронный микроскоп

ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO 22493:2014 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), сканирующий электронный микроскоп

JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, сканирующий электронный микроскоп

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

Professional Standard - Machinery, сканирующий электронный микроскоп

JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, сканирующий электронный микроскоп

JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), сканирующий электронный микроскоп

KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Словарь
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
KS A ISO 16067-2-2005(2020) Фотография－Электронные сканеры для фотографических изображений－Измерение пространственного разрешения－Часть 2:Сканеры для пленок

KR-KS, сканирующий электронный микроскоп

KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.

British Standards Institution (BSI), сканирующий электронный микроскоп

BS ISO 22493:2014 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
BS ISO 16067-2:2004 Фотография. Электронные сканеры фотографических изображений. Измерения пространственного разрешения. Пленочные сканеры
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа

American Society for Testing and Materials (ASTM), сканирующий электронный микроскоп

ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

Association Francaise de Normalisation, сканирующий электронный микроскоп

NF X21-010:2009 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь.
NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
NF T25-111-4:1991 Углеродные волокна. Текстура и структура. Часть 4. Фрактография с помощью сканирующего электронного микроскопа.

Professional Standard - Education, сканирующий электронный микроскоп

JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии

Professional Standard - Petroleum, сканирующий электронный микроскоп

SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, сканирующий электронный микроскоп

DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

国家能源局, сканирующий электронный микроскоп

SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии

Professional Standard - Judicatory, сканирующий электронный микроскоп

SF/T 0139-2023

Group Standards of the People's Republic of China, сканирующий электронный микроскоп

T/QGCML 1940-2023

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, сканирующий электронный микроскоп

DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок

SE-SIS, сканирующий электронный микроскоп

SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.

European Committee for Standardization (CEN), сканирующий электронный микроскоп

EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).

RU-GOST R, сканирующий электронный микроскоп

GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки

Danish Standards Foundation, сканирующий электронный микроскоп

DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.

German Institute for Standardization, сканирующий электронный микроскоп

DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.

ES-UNE, сканирующий электронный микроскоп

UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)

Professional Standard - Public Safety Standards, сканирующий электронный микроскоп

GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
GA/T 1937-2021 Судебная медицина Проверка резины Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия

Professional Standard - Commodity Inspection, сканирующий электронный микроскоп

SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.

AENOR, сканирующий электронный микроскоп

UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , сканирующий электронный микроскоп

LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)