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Requisitos de preparación de muestras para espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Requisitos de preparación de muestras para espectroscopía de fotoelectrones de rayos X son: Componentes electrónicos en general., Química analítica, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Física. Química, Equipo medico.

Professional Standard - Electron, Requisitos de preparación de muestras para espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

SJ/T 10458-1993 Guía estándar para el manejo de muestras en espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X

International Organization for Standardization (ISO), Requisitos de preparación de muestras para espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies - Espectroscopías electrónicas - Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X
ISO/TR 19319:2003

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Requisitos de preparación de muestras para espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

GB/T 41073-2021 Análisis químico de superficies—Espectroscopias electrónicas—Requisitos mínimos de informes para el ajuste de picos en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

British Standards Institution (BSI), Requisitos de preparación de muestras para espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

BS ISO 19830:2015 Análisis químico de superficies. Espectroscopias electrónicas. Requisitos mínimos de presentación de informes para el ajuste de picos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
BS ISO 20903:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
20/30423741 DC BS ISO 19318. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de los métodos utilizados para el control y la corrección de cargos.
BS ISO 19318:2021 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de los métodos utilizados para el control y la corrección de cargos.
IEC 62607-6-21:2022 Nanofabricación. Características clave de control. - Parte 6-21: Material a base de grafeno. Composición elemental, relación C/O: espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
BS EN 60601-2-68:2015 Equipos eléctricos médicos. Requisitos particulares para la seguridad básica y el rendimiento esencial de los equipos de radioterapia guiados por imágenes basados en rayos X para uso con aceleradores de electrones, equipos de terapia con haces de iones ligeros y equipos de terapia con haces de radionúclidos.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Requisitos de preparación de muestras para espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

GB/T 31470-2015 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones Auger y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
GB/T 25185-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga.
GB/T 29556-2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones de barrena y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Determinación de la resolución lateral, el área de análisis y el área de muestra vistas por el analizador.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Requisitos de preparación de muestras para espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

GB/T 33502-2017 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Requisitos de preparación de muestras para espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

ASTM E1523-97 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1523-15
ASTM E1217-11(2019) Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Requisitos de preparación de muestras para espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

KS D ISO 19318-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Informes de métodos utilizados para el control y la corrección de carga
KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS D ISO 19319:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador

Standard Association of Australia （SAA）, Requisitos de preparación de muestras para espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

AS ISO 19319:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia electrónica Augur y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vista por el analizador

Association Francaise de Normalisation, Requisitos de preparación de muestras para espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

NF X21-058:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.

International Electrotechnical Commission (IEC), Requisitos de preparación de muestras para espectroscopía de fotoelectrones de rayos X

IEC TS 62607-6-21:2022 Nanofabricación - Características de control clave - Parte 6-21: Material a base de grafeno - Composición elemental, relación C/O: espectroscopia de fotoelectrones de rayos X