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frecuencia de microcavidades
frecuencia de microcavidades, Total: 247 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en frecuencia de microcavidades son: Radiocomunicaciones, Circuitos integrados. Microelectrónica, válvulas, Materiales magnéticos, Dispositivos semiconductores, Fluidos aislantes, Componentes para equipos eléctricos., Conjuntos de componentes electrónicos., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Cerámica, Materiales aislantes, Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Motores aeroespaciales y sistemas de propulsión., Materiales conductores, Compatibilidad electromagnética (CEM), pruebas de metales, Astronomía. Geodesia. Geografía, Mediciones de radiación, Pruebas eléctricas y electrónicas., tubos electronicos, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Sistemas de telecomunicaciones.
IET - Institution of Engineering and Technology, frecuencia de microcavidades
Professional Standard - Electron, frecuencia de microcavidades
- SJ 21076-2016 Métodos de medición para sintetizador de frecuencia de microondas.
- SJ 20585-1996 Especificaciones generales para contador de frecuencia de microondas.
- SJ 20619-1997 Especificaciones generales para sintetizadores de frecuencia de microondas.
- SJ 20270-1993
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, frecuencia de microcavidades
- GJB 7052-2010 Métodos para medir las características de frecuencia y espectro de pulsos cortos de microondas de alta potencia.
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, frecuencia de microcavidades
- JJG 2009-2016 Instrumentos de medición de potencia de RF y microondas
- JJG 841-1993 Reglamento de verificación de contadores de frecuencia de microondas.
- JJG 841-2012 Reglamento de verificación de contadores de frecuencia de microondas.
- JJG 2009-1987 Esquema de verificación de instrumentos de medición de potencia de RF y microondas.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, frecuencia de microcavidades
- GB/T 35002-2018 Circuitos de microondas: métodos de medición para fuentes de frecuencia.
- GB/T 22586-2018 Mediciones características electrónicas: resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas.
Defense Logistics Agency, frecuencia de microcavidades
- DLA SMD-5962-93222 REV C-2011 MICROCIRCUITO, LINEAL, CONVERTIDOR, TENSIÓN A FRECUENCIA, FRECUENCIA A TENSIÓN, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-94562-1994 MICROCIRCUITO LINEAL CONMUTADOR DE VIDEO DE ALTA FRECUENCIA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-98550 REV C-2003 MICROCIRCUITO LINEAL SINTETIZADOR DE FRECUENCIA PLL SILICIO MONOLÍTICO
- DLA DSCC-VID-V62/11606 REV A-2011 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SINTETIZADOR DE FRECUENCIA PLL, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-90987 REV A-2010 MICROCIRCUITO, LINEAL, CONTROLADOR DE FRECUENCIA, BLOQUEO DE FASE, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-87607 REV C-2013 MICROCIRCUITO LINEAL CONVERTIDOR TENSIÓN-FRECUENCIA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-89564 REV A-1992 MICROCIRCUITOS LINEALES, SISTEMA IF FM DE BAJA POTENCIA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-93222 REV B-2002 MICROCIRCUITO, LINEAL, CONVERTIDOR, TENSIÓN A FRECUENCIA, FRECUENCIA A TENSIÓN, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA DSCC-VID-V62/11607 REV B-2011 MICROCIRCUITO, DIGITAL, DETECTOR DE FASE/SINTETIZADOR DE FRECUENCIA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-92339 REV E-2003 MICROCIRCUITO, LINEAL, QUAD, BAJA POTENCIA, BUFFER DE VIDEO, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-90987-1992 MICROCIRCUITO, LINEAL, CONTROLADOR DE FRECUENCIA, BLOQUEO DE FASE, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-97641 REV B-2005 MICROCIRCUITO, LINEAL, ENDURECIDO POR RADIACIÓN, FRECUENCIA ULTRA ALTA, DISTRIBUCIÓN TODO DE TRANSISTORES NPN, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-94694 REV B-2002 MICROCIRCUITO, LINEAL, BANDA ANCHA, ALTA VELOCIDAD DE SLEW, AMPLIFICADOR OPERACIONAL DE VIDEO, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA DSCC-DWG-13016-2013 ATENUADORES, FIJOS, MINIATURA, LÍNEA COAXIAL (CONECTORES SMA), RANGO DE FRECUENCIA: DC A 18 GHz, CLASE IV, BAJA POTENCIA
- DLA SMD-5962-87787 REV B-2007 MICROCIRCUITO, LINEAL, AMPLIFICADOR OPERACIONAL, BANDA ANCHA, ALTA TASA DE SLEW, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-94694 REV C-2009 MICROCIRCUITO, LINEAL, BANDA ANCHA, ALTA VELOCIDAD DE SLEW, AMPLIFICADOR OPERACIONAL DE VIDEO, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-94719 REV C-2003 MICROCIRCUITO, LINEAL, DUAL, BANDA ANCHA, AMPLIFICADOR OPERACIONAL DE VIDEO, SILICIO MONLITICO
- DLA SMD-5962-96508-1995 MICROCIRCUITO LINEAL, SISTEMA IF FM DE BAJA POTENCIA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-99536 REV E-2003 MICROCIRCUITO, DIGITAL, ENDURECIDO POR RADIACIÓN, CONTROLADOR DE MEDIO PUENTE DE ALTA FRECUENCIA, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-94603-1994
- DLA SMD-5962-94641-1994 MICROCIRCUITO, LINEAL, ENTRADA DE BUS DE DATOS DE 4 BITS SINTETIZADOR DE FRECUENCIA PLL, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-94725 REV C-2004 MICROCIRCUITO, LINEAL, BANDA ANCHA, REALIMENTACIÓN DE CORRIENTE, AMPLIFICADOR OPERACIONAL DOBLE, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-95671 REV B-2006 MICROCIRCUITO, LINEAL, ENDURECIDO POR RADIACIÓN, BANDA ANCHA, ALTA IMPEDENCIA, AMPLIFICADOR OPERACIONAL, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-95688 REV D-2007 MICROCIRCUITO, LINEAL, ENDURECIDO POR RADIACIÓN, BANDA ANCHA, ALTA IMPEDANCIA DE ENTRADA, AMPLIFICADOR OPERACIONAL, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-85126 REV C-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, BUFFERS, SILICIO MONOLÍTICO
- DLA SMD-5962-97512 REV D-2005 MICROCIRCUITO, LINEAL, ENDURECIDO POR RADIACIÓN, BANDA ANCHA DOBLE, AMPLIFICADOR OPERACIONAL NO COMPENSADO DE ALTA IMPEDANCIA DE ENTRADA, SILICIO MONOLÍTICO
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, frecuencia de microcavidades
- JJF 1885-2020 Especificación de calibración para medidores de potencia de microondas y RF
- JJF 1887-2020 Especificación de calibración para sensores de potencia de microondas y RF
- JJF 1678-2017 Especificación de calibración para amplificadores de potencia de microondas y RF
British Standards Institution (BSI), frecuencia de microcavidades
- BS IEC 60747-16-2:2001 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados de microondas. Preescaladores de frecuencia
- BS EN 60556:2006 Materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas. Métodos de medición de propiedades.
- BS EN 60556:2006+A1:2016 Materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas. Métodos de medición de propiedades.
- BS EN 61788-7:2002 Superconductividad - Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
- BS EN 61788-7:2007 Superconductividad - Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
- BS EN IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Medidas características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas.
- BS EN 61788-16:2013 Superconductividad. Medidas características electrónicas. Resistencia superficial dependiente de la potencia de superconductores en frecuencias de microondas.
- BS EN 136001:1977 Especificación para el sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco: magnetrones pulsados (excluidos los magnetrones de frecuencia ágil)
- BS EN 61788-15:2011 Superconductividad. Medidas características electrónicas. Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas.
- BS EN 61788-7:2006 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
- BS EN 62037-1:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Requisitos generales y métodos de medición.
- BS EN 62037-5:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en filtros.
- BS EN 62037-6:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en antenas.
- 18/30370111 DC BS EN 61788-7. Superconductividad. Parte 7. Medidas de características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores a frecuencias de microondas.
- BS EN 62037-4:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en cables coaxiales.
- BS EN 62037-2:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medición de intermodulación pasiva en conjuntos de cables coaxiales.
- BS EN 62037-3:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medida de nivel de intermodulación. Medida de intermodulación pasiva en conectores coaxiales.
European Standard for Electrical and Electronic Components, frecuencia de microcavidades
- EN 136001:1992 Especificación detallada en blanco: magnetrones pulsados (excluidos los magnetrones de frecuencia ágil)
RU-GOST R, frecuencia de microcavidades
- GOST 23089.13-1986 Microcircuitos integrados. Métodos de medición de la frecuencia de corte y la frecuencia de ganancia unitaria de los amplificadores operacionales.
- GOST 23089.15-1990 Microcircuitos integrados. Método para medir la frecuencia de potencia total de amplificadores operacionales.
- GOST R 25645.163-1996 Características de los radioruidos en la magnetosfera terrestre en el intervalo de frecuencia 0,1-50 MHz
- GOST R 8.623-2006 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Permitividad dieléctrica relativa y tangente de pérdida de dieléctricos sólidos. Procedimientos de mediciones en frecuencias de microondas.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), frecuencia de microcavidades
- KS C 6111-5-2008(2018) Mediciones del espesor de películas superconductoras en frecuencias de microondas.
- KS C 6111-4-2007(2017) Homogeneidad en la resistencia superficial de grandes películas superconductoras de alta Tc en frecuencias de microondas
- KS C 6111-4-2007(2022) Homogeneidad en la resistencia superficial de grandes películas superconductoras de alta Tc en frecuencias de microondas
- KS C IEC 61788-16:2020 Superconductividad. Parte 16: Mediciones características electrónicas. Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia a frecuencias de microondas.
- KS C 6111-3-2007(2022) Mediciones características electrónicas: impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras de alto TC en frecuencias de microondas
- KS C 6111-3-2007(2017) Mediciones características electrónicas: impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras de alto TC en frecuencias de microondas
- KS C CISPR 19-2004(2009) Compatibilidad electromagnética (EMC) - Orientación sobre el uso del método de sustitución para medir la radiación de hornos microondas para frecuencias superiores a 1 GHz
- KS C IEC 60130-6-2003(2008) Conectores para frecuencias inferiores a 3MHz (Mc/s) -Parte 6: Conectores multipolares en miniatura rectangulares con contactos de cuchilla
- KS C IEC 60122-2-1-2011(2021) Unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia-Parte 2: Guía para el uso de unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia-Sección uno: Unidades de cristal de cuarzo para relojes con microprocesador
- KS C IEC 60122-2-1-2011(2016) Unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia-Parte 2: Guía para el uso de unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia-Sección uno: Unidades de cristal de cuarzo para relojes con microprocesador
- KS C IEC 61338-1-5:2019 Resonadores dieléctricos de tipo guía de ondas. Parte 1-5: Información general y condiciones de prueba. Método de medición de la conductividad en la interfaz entre la capa conductora y el sustrato dieléctrico en microondas.
Professional Standard - Agriculture, frecuencia de microcavidades
- JJF 2009-2016 Tabla de sistemas de calibración para instrumentos de medida de potencia de radiofrecuencia y microondas.
International Electrotechnical Commission (IEC), frecuencia de microcavidades
- IEC 60747-16-2:2001+AMD1:2007 CSV Dispositivos semiconductores. Parte 16-2: Circuitos integrados de microondas. Preescaladores de frecuencia.
- IEC 60556:2006 Materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas. Métodos de medición de propiedades.
- IEC 60556:2006/AMD1:2016 Materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas. Métodos de medición de propiedades.
- IEC 60556:1982 Métodos de medición de propiedades de materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas.
- IEC 60556:2006+AMD1:2016 CSV Materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas. Métodos de medición de propiedades.
- IEC 60747-16-3:2010 Dispositivos semiconductores – Parte 16-3: Circuitos integrados de microondas – Convertidores de frecuencia
- IEC 60747-16-3:2002 Dispositivos semiconductores. Parte 16-3: Circuitos integrados de microondas; Convertidores de frecuencia
- IEC 60556/AMD1:1997 Métodos de medición de propiedades de materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas; Enmienda 1
- IEC 60747-16-2:2001 Dispositivos semiconductores. Parte 16-2: Circuitos integrados de microondas; Preescaladores de frecuencia
- IEC 60747-16-2:2001/AMD1:2007 Dispositivos semiconductores. Parte 16-2: Circuitos integrados de microondas. Preescaladores de frecuencia; Enmienda 1
- IEC 60747-16-2:2008 Dispositivos semiconductores. Parte 16-2: Circuitos integrados de microondas. Preescaladores de frecuencia.
- IEC 61788-7:2002
- IEC 60747-16-3:2002/AMD1:2009 Dispositivos semiconductores. Parte 16-3: Circuitos integrados de microondas. Convertidores de frecuencia; Enmienda 1
- IEC 61788-7:2006 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
- IEC 61788-7:2020 RLV Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas
- IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas
- IEC 61788-15:2011 Superconductividad - Parte 15: Mediciones características electrónicas - Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas
- IEC 60122-2-1:1991 Unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia; parte 2: guía para el uso de unidades de cristal de cuarzo para el control y selección de frecuencia; sección 1: unidades de cristal de cuarzo para suministro de reloj por microprocesador
- IEC 62037-1:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas. Medición del nivel de intermodulación. Parte 1: Requisitos generales y métodos de medición.
- IEC 60122-2-1:1991/AMD1:1993 Enmienda 1 - Unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia - Parte 2: Guía para el uso de unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia - Sección Primera: Unidades de cristal de cuarzo para mi
- IEC 62037-6:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 6: Medición de la intermodulación pasiva en antenas
- IEC 62037-5:2013 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 5: Medición de la intermodulación pasiva en filtros
- IEC 62047-7:2011 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 7: Filtro MEMS BAW y duplexor para control y selección de radiofrecuencia
- IEC 62037-4:2012 Dispositivos pasivos de RF y microondas, medición del nivel de intermodulación - Parte 4: Medición de la intermodulación pasiva en cables coaxiales
- IEC 61338-1-5:2015 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas. Parte 1-5: Información general y condiciones de prueba. Método de medición de la conductividad en la interfaz entre la capa conductora y el sustrato dieléctrico en microondas.
- IEC 62037-2:2012 Dispositivos pasivos de rf y microondas, Medición del nivel de intermodulación - Parte 2: Medición de la intermodulación pasiva en conjuntos coaxiales
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, frecuencia de microcavidades
- GB/T 9633-1988 Métodos de medición de propiedades de materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas.
- GB/T 9633-2012 Métodos de medición de propiedades de materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas.
- GB/T 14618-2012 Criterios de compartición de frecuencias entre sistemas de comunicaciones por radioenlaces con visibilidad directa y sistemas de comunicaciones por radio espaciales
- GB/T 14618-1993 Criterios de compartición de frecuencias entre sistemas de relevadores radioeléctricos con visibilidad directa y sistemas de radiocomunicaciones espaciales
US-FCR, frecuencia de microcavidades
Association Francaise de Normalisation, frecuencia de microcavidades
- NF C93-376/A1*NF EN 60556/A1:2016 Materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas. Métodos de medición de propiedades.
- NF C93-376*NF EN 60556:2006 Materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas. Métodos de medición de propiedades.
- NF C96-016-3/A1*NF EN 60747-16-3/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Parte 16-3: circuitos integrados de microondas. Convertidores de frecuencia.
- NF EN 60747-16-3/A2:2017 Dispositivos semiconductores. Parte 16-3: circuitos integrados de microondas. Convertidores de frecuencia.
- NF EN 60747-16-3/A1:2013 Dispositivos semiconductores. Parte 16-3: circuitos integrados de microondas. Convertidores de frecuencia.
- NF EN 60747-16-3:2003 Dispositivos semiconductores. Parte 16-3: circuitos integrados de microondas. Convertidores de frecuencia.
- NF C31-888-16*NF EN 61788-16:2013 Superconductividad - Parte 16: mediciones de características eléctricas - Resistencia superficial de superconductores dependiente de la potencia en frecuencias de microondas
- NF C31-888-7*NF EN IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Parte 7: mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
- NF C31-888-7*NF EN 61788-7:2006 Superconductividad - Parte 7: mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
- NF C31-888-7:2003 Superconductividad - Parte 7: mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas.
- NF Z86-157*NF ETS 300157:1996 Estaciones y sistemas terrestres de satélite (ses). Terminal de muy pequeña apertura (vsats) de sólo recepción que opera en las bandas de frecuencia de 11/12 GHz.
- NF C31-888-15*NF EN 61788-15:2012 Superconductividad - Parte 15: mediciones de características electrónicas - Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas
- NF EN 61788-15:2012 Superconductividad - Parte 15: mediciones de características electrónicas - Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas
- NF EN IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Parte 7: mediciones de características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura crítica en frecuencias de microondas
- NF C96-627-1-5*NF EN 61338-1-5:2015 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas. Parte 1-5: información general y condiciones de prueba. Método de medición de la conductividad en la interfaz entre la capa conductora y el sustrato dieléctrico a frecuencia de microondas.
German Institute for Standardization, frecuencia de microcavidades
- DIN EN 60556:2017-02 Materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas. Métodos de medición de propiedades (IEC 60556:2006 + A1:2016); Versión alemana EN 60556:2006 + A1:2016 / Nota: DIN EN 60556 (2007-01) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 20...
- DIN EN 61189-2-721:2016 Métodos de prueba para materiales eléctricos, tableros impresos y otras estructuras y conjuntos de interconexión. Parte 2-721: Métodos de prueba para materiales para estructuras de interconexión. Medición de la permitividad relativa y la tangente de pérdida para láminas revestidas de cobre.
- DIN EN 60556:2007 Materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas. Métodos de medición de propiedades (IEC 60556:2006); Versión alemana EN 60556:2006
- DIN EN 60747-16-3:2018-04 Dispositivos semiconductores - Parte 16-3: Circuitos integrados de microondas - Convertidores de frecuencia (IEC 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017); Versión alemana EN 60747-16-3:2002 + A1:2009 + A2:2017 / Nota: DIN EN 60747-16-3 (2009-11) sigue siendo válida junto con esta norma...
- DIN EN 61788-7:2007 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas (IEC 61788-7:2006); Versión alemana EN 61788-7:2006
- DIN IEC 60122-2-1:1992 Unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia; parte 2: guía para el uso de unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia; Sección primera: unidades de cristal de cuarzo para alimentación de relojes por microprocesador; idéntico a IEC 60122-2-1:1991
- DIN EN 61788-16:2013 Superconductividad - Parte 16: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores dependiente de la potencia en frecuencias de microondas (IEC 61788-16:2013); Versión alemana EN 61788-16:2013
- DIN EN 60556:2017 Materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas. Métodos de medición de propiedades (IEC 60556:2006 + A1:2016); Versión alemana EN 60556:2006 + A1:2016
- DIN EN 61338-1-5:2016-04 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas - Parte 1-5: Información general y condiciones de prueba - Método de medición de la conductividad en la interfaz entre la capa conductora y el sustrato dieléctrico a frecuencia de microondas (IEC 61338-1-5:2015); Versión alemana EN 6...
ES-UNE, frecuencia de microcavidades
- UNE-EN 60556:2006/A1:2016 Materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas - Métodos de medida de propiedades (Ratificada por AENOR en julio de 2016.)
- UNE-EN 60556:2006 Materiales giromagnéticos destinados a su aplicación en frecuencias de microondas. Métodos de medición de propiedades.
- UNE-EN 60747-16-3:2002/A2:2017 Dispositivos semiconductores - Parte 16-3: Circuitos integrados de microondas - Convertidores de frecuencia (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2018.)
- UNE-EN 60747-16-3:2002/A1:2009 Dispositivos semiconductores -- Parte 16-3: Circuitos integrados de microondas - Convertidores de frecuencia (Ratificada por AENOR en julio de 2009.)
- UNE-EN 60747-16-3:2002 Dispositivos semiconductores -- Parte 16-3: Circuitos integrados de microondas - Convertidores de frecuencia. (Ratificada por AENOR en diciembre de 2002.)
- UNE-EN 61788-16:2013 Superconductividad - Parte 16: Medidas características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en función de la potencia en frecuencias de microondas (Ratificada por AENOR en mayo de 2013.)
- UNE-EN IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Parte 7: Medidas características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2020.)
- UNE-EN 61788-15:2011 Superconductividad - Parte 15: Medidas características electrónicas - Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas (Ratificada por AENOR en marzo de 2012.)
- UNE-EN 61338-1-5:2015 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas - Parte 1-5: Información general y condiciones de ensayo - Método de medida de la conductividad en la interfaz entre capa conductora y sustrato dieléctrico a frecuencia de microondas (Ratificada por AENOR en octubre de 2015.)
IN-BIS, frecuencia de microcavidades
- IS 13621-1993 Determinación de la constante dieléctrica de la madera bajo frecuencias de microondas. método de prueba
- IS 8454-1977
- IS 8426 Pt.1-1977 MÉTODOS DE MEDICIÓN DE PROPIEDADES DE MATERIALES GIROMAGNÉTICOS PARA USO EN FRECUENCIAS DE MICROONDAS PARTE Ⅰ MAGNETIZACIÓN
- IS 13671-1993 Orientación sobre el uso del método de sustitución k para mediciones de radiación procedente de hornos microondas para frecuencias superiores a 1 GHz
- IS 8426 Pt.2-1977 MÉTODOS DE MEDICIÓN DE PROPIEDADES DE MATERIALES GIROMAGNÉTICOS PARA USO EN FRECUENCIAS DE MICROONDAS PARTE Ⅱ ANCHO DE LÍNEA DE RESONANCIA
- IS 8426 Pt.3-1977 MÉTODO DE MEDICIÓN DE PROPIEDADES DE MATERIALES GIROMAGNÉTICOS PARA USO EN FRECUENCIAS DE MICROONDAS PARTE Ⅲ PERMITIVIDAD, DENSIDAD APARENTE Y TEMPERATURA DE CURIE
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), frecuencia de microcavidades
- JIS R 1627:1996 Método de prueba de propiedades dieléctricas de cerámicas finas a frecuencia de microondas.
- JIS R 1641:2002 Método de prueba de propiedades dieléctricas de placas cerámicas finas a frecuencia de microondas.
- JIS R 1641:2007 Método de medición del dieléctrico de placas cerámicas finas a frecuencia de microondas.
- JIS R 1660-2:2004 Método de medición de las propiedades dieléctricas de cerámicas finas en el rango de frecuencia de ondas milimétricas. Parte 2: Método del resonador abierto.
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- ASTM D7449/D7449M-22a Método de prueba estándar para medir la permitividad compleja relativa y la permeabilidad magnética relativa de materiales sólidos en frecuencias de microondas utilizando una línea de aire coaxial
- ASTM D2520-95 Métodos de prueba estándar para la permitividad compleja (constante dieléctrica) de materiales aislantes eléctricos sólidos en frecuencias de microondas y temperaturas de hasta 1650 oC
- ASTM D2520-01 Métodos de prueba estándar para la permitividad compleja (constante dieléctrica) de materiales aislantes eléctricos sólidos en frecuencias de microondas y temperaturas de hasta 1650 oC
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- ASTM D7449/D7449M-08 Método de prueba estándar para medir la permitividad compleja relativa y la permeabilidad magnética relativa de materiales sólidos en frecuencias de microondas utilizando una línea de aire coaxial
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- ETSI TR 103 730-2021 Documento de referencia del sistema (SRdoc); Escáneres de seguridad de microondas de baja frecuencia (MWSSc) dentro del rango de frecuencia de 3,6 GHz a 12,4 GHz (V1.1.1)
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- EN IEC 61788-7:2020 Superconductividad - Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas
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- IEEE P287.2/D8, May 2021 Borrador de práctica recomendada del IEEE para conectores coaxiales de precisión en frecuencias de RF, microondas y ondas milimétricas - Parte 2: Procedimientos de prueba
- IEEE P287.2/D10, August 2021 Borrador de práctica recomendada del IEEE para conectores coaxiales de precisión en frecuencias de RF, microondas y ondas milimétricas - Parte 2: Procedimientos de prueba
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- IEEE/ANSI C95.3-1973 Técnicas e instrumentación estándar nacional estadounidense para la medición de radiación electromagnética potencialmente peligrosa en frecuencias de microondas
- IEEE 287.1-2021 Estándar IEEE para conectores coaxiales de precisión en frecuencias de RF, microondas y ondas milimétricas. Parte 1: requisitos generales, definiciones y especificaciones detalladas.
- IEEE Std 287.1-2021 Estándar IEEE para conectores coaxiales de precisión en frecuencias de RF, microondas y ondas milimétricas. Parte 1: requisitos generales, definiciones y especificaciones detalladas.
- IEEE P287.1/D11, October 2021 Borrador de estándar IEEE para conectores coaxiales de precisión en frecuencias de RF, microondas y ondas milimétricas - Parte 1: Requisitos generales, definiciones y especificaciones detalladas
- IEEE P287.1/D10, August 2021 Borrador de estándar IEEE para conectores coaxiales de precisión en frecuencias de RF, microondas y ondas milimétricas - Parte 1: Requisitos generales, definiciones y especificaciones detalladas
- IEEE P287.1/D8, May 2021 Borrador de estándar IEEE para conectores coaxiales de precisión en frecuencias de RF, microondas y ondas milimétricas. Parte 1: Requisitos generales, definiciones y especificaciones detalladas
- IEEE 287.3-2021 Práctica recomendada por IEEE para conectores coaxiales de precisión en frecuencias de RF, microondas y ondas milimétricas. Parte 3: efectos del conector, especificaciones de incertidumbre y recomendaciones para el rendimiento.
- IEEE Std 287.3-2021 Práctica recomendada por IEEE para conectores coaxiales de precisión en frecuencias de RF, microondas y ondas milimétricas. Parte 3: efectos del conector, especificaciones de incertidumbre y recomendaciones para el rendimiento.
- IEEE P287.3/D8, May 2021 Borrador de práctica recomendada del IEEE para conectores coaxiales de precisión en frecuencias de RF, microondas y ondas milimétricas - Parte 3: Efectos del conector, especificaciones de incertidumbre y recomendaciones para el rendimiento
- IEEE P287.3/D10, August 2021 Borrador de práctica recomendada del IEEE para conectores coaxiales de precisión en frecuencias de RF, microondas y ondas milimétricas - Parte 3: Efectos del conector, especificaciones de incertidumbre y recomendaciones para el rendimiento
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CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, frecuencia de microcavidades
- EN 61788-7:2002 Superconductividad Parte 7: Mediciones características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores en frecuencias de microondas
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- ITU-R PN.452-5-1992 Procedimiento de predicción para la evaluación de la interferencia de microondas entre estaciones en la superficie de la Tierra en frecuencias superiores a aproximadamente 0,7 GHz
- ITU-R P.452-8-1997 Procedimiento de predicción para la evaluación de la interferencia de microondas entre estaciones en la superficie de la Tierra en frecuencias superiores a aproximadamente 0,7 GHz
- ITU-R P.452-10-2001 Procedimiento de predicción para la evaluación de la interferencia de microondas entre estaciones en la superficie de la Tierra en frecuencias superiores a aproximadamente 0,7 GHz
- ITU-R P.452-13-2007 Procedimiento de predicción para la evaluación de la interferencia de microondas entre estaciones situadas en la superficie de la Tierra en frecuencias superiores a aproximadamente 0,7 GHz
- ITU-R P.452-11-2003 Procedimiento de predicción para la evaluación de la interferencia de microondas entre estaciones situadas en la superficie de la Tierra en frecuencias superiores a aproximadamente 0,7 GHz (Cuestión UIT-R 208/3)
IX-CISPR, frecuencia de microcavidades
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- API PUBL 32-32855-1985 EVALUACIÓN DE LA FRECUENCIA DE MICRONÚCLEO EN LA SANGRE PERIFÉRICA DE RATONES CD-1 MACHOS Y HEMBRAS EXPUESTOS QUÍMICOS AL BENCENO DURANTE 90 DÍAS
未注明发布机构, frecuencia de microcavidades
- BS EN 61788-15:2011(2012) Superconductividad Parte 15: Mediciones características electrónicas – Impedancia superficial intrínseca de películas superconductoras en frecuencias de microondas
International Telecommunication Union (ITU), frecuencia de microcavidades
- ITU-R PN.452-6-1994 Procedimiento de predicción para la evaluación de la interferencia de microondas entre estaciones en la superficie de la Tierra en frecuencias superiores a aproximadamente 0,7 GHz
- ITU-R P.452-12-2005 Procedimiento de predicción para la evaluación de la interferencia de microondas entre estaciones situadas en la superficie de la Tierra en frecuencias superiores a 0,7 GHz aproximadamente Cuestión UIT-R 208/3
PL-PKN, frecuencia de microcavidades
- PN-EN IEC 61788-7-2020-12 E Superconductividad - Parte 7: Medidas características electrónicas - Resistencia superficial de superconductores de alta temperatura en frecuencias de microondas (IEC 61788-7:2020)