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Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X., Total: 64 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X. son: Química analítica, Mediciones de radiación, Óptica y medidas ópticas., Pruebas no destructivas, Equipo medico, ingeniería de energía nuclear, Medidas lineales y angulares., Metrología y medición en general., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas..


International Organization for Standardization (ISO), Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
  • ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
  • ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
  • ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

British Standards Institution (BSI), Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
  • BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.

German Institute for Standardization, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • DIN ISO 16129:2020-11 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
  • DIN ISO 16129:2020 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X (ISO 16129:2018); Texto en ingles
  • DIN ISO 15632:2022-09 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA) (ISO 15632:2...
  • DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles

SE-SIS, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • SIS SS IEC 759:1986 Instrumentación nuclear. Procedimientos de prueba para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.

CZ-CSN, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • CSN 35 6575 Z1-1997 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • KS C IEC 60759:2009 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
  • KS C IEC 60759-2009(2019) Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
  • KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies-Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger-Linealidad de escala de intensidad
  • KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies-Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger-Linealidad de escala de intensidad
  • KS D ISO 15470-2005(2020) Análisis químico de superficies-Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X-Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
  • KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía

International Electrotechnical Commission (IEC), Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • IEC 60759:1983 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
  • IEC 60759:1983/AMD1:1991 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores; enmienda 1

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • JJG(地质) 1006-1990 Normas de verificación para el espectrómetro de fluorescencia de rayos X 3080E
  • JJG 810-1993 Reglamento de verificación para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
  • JJG 629-2014
  • JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
  • JJG(地质) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
  • JJG 480-2007 Medidor de espesor de rayos X
  • JJG 480-1987 Reglamento de verificación del medidor de espesor por rayos X
  • JJG 1050-2009 Regulación de verificación de la densitometría de rayos X 、 gamma para la densidad mineral ósea

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • ANSI/IEEE Std 759-1984 Procedimientos de prueba estándar IEEE para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
  • IEEE 759-1984 Procedimientos de prueba para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • GB/T 25184-2010 Método de verificación para espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
  • GB/T 20726-2006 Especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores.
  • GB/T 11685-2003 Procedimientos de medición para sistemas detectores de rayos X de semiconductores y espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
  • GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
  • GB/T 31364-2015 Métodos de prueba para el rendimiento principal del espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
  • GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
  • GB/T 28892-2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • JJF 2024-2023 Especificaciones de calibración para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
  • JJF 1133-2005 Especificación de calibración del medidor de oro mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X

IN-BIS, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • IS 12737-1988 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA ESPECTRÓMETROS DE ENERGÍA DE RAYOS X DE SEMICONDUCTOR

American Society for Testing and Materials (ASTM), Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • ASTM E902-94(1999) Práctica estándar para verificar las características operativas de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E996-04 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E996-10 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E1172-22 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X dispersivo de longitud de onda
  • ASTM E1172-16 Práctica estándar para describir y especificar un espectrómetro de rayos X dispersivo de longitud de onda
  • ASTM E902-05 Práctica estándar para verificar las características operativas de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E2108-16 Práctica estándar para la calibración de la escala de energía de unión de electrones de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E996-10(2018) Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E996-19 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • ASTM E2120-10 Práctica estándar para la evaluación del rendimiento del espectrómetro de fluorescencia de rayos X portátil para la medición de plomo en películas de pintura

Professional Standard - Agriculture, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • JJG(教委) 016-1996 Reglas de verificación para el espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda

未注明发布机构, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • BS ISO 21270:2004(2010) Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.

Group Standards of the People's Republic of China, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • T/CSTM 00901-2023 Especificación de calibración para espectrómetro de fluorescencia de rayos X portátil

工业和信息化部/国家能源局, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • JB/T 12962.2-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 2: Analizadores elementales
  • JB/T 12962.3-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 3: Analizador de espesor de recubrimiento
  • JB/T 12962.1-2016 Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 1: Técnicas generales

RU-GOST R, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • GOST 22091.8-1984 Dispositivos de rayos X. Método de medición de la estructura espectral y la contaminación relativa del espectro.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • GB/T 22571-2017 Análisis químico de superficies: espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.

KR-KS, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía

Professional Standard - Electron, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • SJ/T 10714-1996 Práctica estándar para comprobar las características de funcionamiento de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.

Association Francaise de Normalisation, Procedimientos del espectrómetro de energía de rayos X.

  • NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.




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