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分析SEM法

分析SEM法は全部で 60 項標準に関連している。

分析SEM法 国際標準分類において、これらの分類：光学機器、 教育する、 分析化学、 語彙、 長さと角度の測定、 繊維、 空気の質、 非鉄金属、 表面処理・メッキ。


Association Francaise de Normalisation, 分析SEM法

  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡を使用した画像の鮮明さを評価する方法
  • XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像の鮮明さを評価する方法
  • NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

British Standards Institution (BSI), 分析SEM法

  • BS ISO 21466:2019 マイクロビーム解析 走査型電子顕微鏡 CDSEM 限界寸法を評価する方法
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 CD-SEM 限界寸法の評価方法
  • BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド
  • BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。

Professional Standard - Education, 分析SEM法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 分析SEM法

  • GB/T 33834-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡による生体試料の分析方法

Professional Standard - Petroleum, 分析SEM法

  • SY/T 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
  • SY/T 5162-1997 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
  • SY 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

国家能源局, 分析SEM法

  • SY/T 5162-2021 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

International Organization for Standardization (ISO), 分析SEM法

  • ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語集
  • ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
  • ISO 21466:2019 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、CD-SEM による臨界サイズの評価方法。
  • ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析、走査型電子顕微鏡法、写像性評価法
  • ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 分析SEM法

  • GB/T 17362-2008 金製品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 17362-1998 金宝飾品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 25189-2010 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡エネルギー分光計の定量分析パラメータの決定方法
  • GB/T 18295-2001 石油およびガス貯留層からの砂岩サンプルの走査型電子顕微鏡による分析方法
  • GB/T 16594-1996 走査型電子顕微鏡によるミクロンレベルの長さの測定方法
  • GB/T 14593-2008 カシミヤ、羊毛およびそれらの混合繊維の定量分析法 走査型電子顕微鏡法
  • GB/T 17722-1999 走査型電子顕微鏡による金属キャップ層の厚さの測定方法
  • GB/T 16594-2008 走査型電子顕微鏡によるミクロンスケールの長さの測定方法に関する一般規則
  • GB/T 20307-2006 走査型電子顕微鏡によるナノスケール長さの測定方法の一般規則
  • GB/T 27788-2011 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正のガイドライン。
  • GB/T 17359-1998 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡を使用した X 線エネルギー分光法の定量分析の一般原理
  • GB/T 17361-2013 マイクロビーム分析を用いた堆積岩中の自生粘土鉱物の同定のための走査型電子顕微鏡とエネルギー分光計法

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 分析SEM法

  • DB44/T 1527-2015 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡画像鮮鋭性評価法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 分析SEM法

KR-KS, 分析SEM法

Professional Standard - Machinery, 分析SEM法

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 分析SEM法

  • DB35/T 110-2000 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡 塗装痕跡検出のためのX線エネルギー分光分析法

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 分析SEM法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 分析SEM法

  • JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • JIS K 3850-1:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法 その 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 分析SEM法

  • GB/T 27788-2020 マイクロビーム解析のための走査型電子顕微鏡画像の倍率校正に関するガイドライン
  • GB/T 35099-2018 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡・エネルギー分光法大気微粒子の単一粒子形態および元素分析
  • GB/T 38783-2020 貴金属複合材料の皮膜厚さを測定するための走査型電子顕微鏡法

Professional Standard - Commodity Inspection, 分析SEM法

  • SN/T 3009-2011 走査型電子顕微鏡による金属表面の海水腐食の同定方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 分析SEM法

  • ASTM E766-14 走査型電子顕微鏡の倍率校正の標準方法

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 分析SEM法

  • GJB 737.11-1993 火工品の試験方法 粒子径測定 走査型電子顕微鏡検査

Association of German Mechanical Engineers, 分析SEM法

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 分析SEM法

  • GJB 5891.6-2006 火工品の試験方法 パート 6: 粒子サイズ測定のための走査型電子顕微鏡法

ES-UNE, 分析SEM法

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