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走査電子顕微鏡画像解析

走査電子顕微鏡画像解析は全部で 89 項標準に関連している。

走査電子顕微鏡画像解析 国際標準分類において、これらの分類:分析化学、 光学機器、 教育する、 語彙、 写真撮影のスキル、 物理学、化学、 ドキュメントイメージング技術、 繊維、 石炭、 金属材料試験、 医療科学とヘルスケア機器の統合、 空気の質、 長さと角度の測定、 セラミックス、 鉄鋼製品。


Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査電子顕微鏡画像解析

  • DB44/T 1527-2015 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡画像鮮鋭性評価法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 走査電子顕微鏡画像解析

  • GB/T 27788-2020 マイクロビーム解析のための走査型電子顕微鏡画像の倍率校正に関するガイドライン
  • GB/T 35099-2018 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡・エネルギー分光法大気微粒子の単一粒子形態および元素分析
  • GB/T 40485-2021 石炭のビトリナイトランダム反射率を自動決定するための画像解析法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 走査電子顕微鏡画像解析

  • GB/T 27788-2011 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正のガイドライン。
  • GB/T 17362-2008 金製品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 17362-1998 金宝飾品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 25189-2010 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡エネルギー分光計の定量分析パラメータの決定方法
  • GB/T 17359-1998 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡を使用した X 線エネルギー分光法の定量分析の一般原理
  • GB/T 18295-2001 石油およびガス貯留層からの砂岩サンプルの走査型電子顕微鏡による分析方法
  • GB/T 14593-2008 カシミヤ、羊毛およびそれらの混合繊維の定量分析法 走査型電子顕微鏡法
  • GB/T 17361-2013 マイクロビーム分析を用いた堆積岩中の自生粘土鉱物の同定のための走査型電子顕微鏡とエネルギー分光計法

Association Francaise de Normalisation, 走査電子顕微鏡画像解析

  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡を使用した画像の鮮明さを評価する方法
  • XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像の鮮明さを評価する方法
  • NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • NF Z42-010-2:1993 電子画像オフィス文書のスキャン パート 2: 電子画像管理システムの入札獲得ガイド

British Standards Institution (BSI), 走査電子顕微鏡画像解析

  • BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
  • BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。
  • BS ISO 16067-2:2004 写真、写真画像用の電子スキャナ、空間解像度の測定、フィルム スキャナ。
  • BS ISO 21466:2019 マイクロビーム解析 走査型電子顕微鏡 CDSEM 限界寸法を評価する方法
  • BS ISO 28600:2011 表面化学分析 - 走査型プローブ顕微鏡用のデータ転送フォーマット
  • BS ISO 18115-2:2021 表面化学分析用語集 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 CD-SEM 限界寸法の評価方法
  • BS ISO 16067-1:2003 写真撮影、写真イメージング用電子スキャナの空間解像度の測定、反射媒体用スキャナ
  • BS ISO 27911:2011 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、近接場光学顕微鏡における横方向分解能の定義と校正
  • BS ISO 18115-2:2010 表面化学分析 用語集 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語。
  • BS ISO 11775:2015 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡検査、一般的なカンチレバーのバネ定数の決定。
  • BS ISO 20263:2017 マイクロビーム解析と電子顕微鏡を用いた層状材料の断面画像における界面位置の決定方法
  • BS EN ISO 17751-2:2023 走査型電子顕微鏡を使用したカシミヤ、ウール、その他の特殊動物繊維およびその混紡繊維の定量分析
  • BS ISO 11952:2019 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 SPM を使用した幾何学的量の決定: 測定システムの校正
  • 22/30426016 DC BS ISO/IEC 3532-2 情報技術 3D プリンティングおよびスキャン 医療画像ベースのモデリング パート 2: セグメンテーション

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 走査電子顕微鏡画像解析

  • KS D ISO 16700:2013 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • KS D ISO 16700-2013(2018) マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像倍率校正ガイド
  • KS D ISO 22493-2012(2017) マイクロビーム解析 走査型電子顕微鏡用語集
  • KS D ISO 22493:2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
  • KS D ISO 22493:2012 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語
  • KS A ISO 16067-1-2005(2020) 写真画像用電子スキャナの空間解像度の測定 - パート 1: 反射媒体用スキャナ
  • KS X ISO 11698-1-2002(2012) マイクロ写真パンチカードスキャナーで生成された画像の品質を測定する方法 - パート 1: テスト画像の特性
  • KS A ISO 16067-2:2005 写真. 写真画像用の電子スキャナ. 空間解像度の決定. パート 2: フィルム スキャナ.
  • KS X ISO 11698-1:2002 マイクロフィルム技術 ホールカードスキャナーで生成された画像の品質を測定する方法 第 1 部: テスト画像の特徴
  • KS X ISO 11698-1:2013 マイクロ写真ホールカードスキャナーによる画像品質の測定方法 第 1 部:テスト画像の特徴
  • KS A ISO 16067-1:2005 写真. 写真画像用の電子スキャナ. 空間解像度の決定. パート 1: 反射スキャナ.

International Organization for Standardization (ISO), 走査電子顕微鏡画像解析

  • ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析、走査型電子顕微鏡法、写像性評価法
  • ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
  • ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語集
  • ISO 21466:2019 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、CD-SEM による臨界サイズの評価方法。
  • ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジー: 走査型電子顕微鏡と X 線エネルギー分光法を使用したシングルアーム カーボン ナノチューブの特性評価。
  • ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡電気走査型プローブ顕微鏡を使用した半導体デバイスのキャリア濃度の実験的定量化に関するガイド
  • ISO 11039:2012 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、ドリフト速度測定の標準。
  • ISO 16067-2:2004 写真. 写真画像用の電子スキャナ. 空間解像度の測定. パート 2: フィルム スキャナ.
  • ISO 16067-1:2003 写真:写真イメージング用電子スキャナの空間解像度の測定パート 1: 反射媒体用スキャナ
  • ISO 27911:2011 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、近接場光学顕微鏡の横方向分解能の定義と校正
  • ISO 11775:2015 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡検査、一般的なカンチレバーのバネ定数の決定。
  • ISO/CD 20263:2023 マイクロビーム解析と電子顕微鏡を用いた層状材料の断面画像における界面位置の決定方法
  • ISO 20263:2017 マイクロビーム解析 - 分析透過型電子顕微鏡 - 層状材料の断面画像における界面位置の決定方法
  • ISO 18115-2:2010 表面化学分析 用語集 パート 2: 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語。
  • ISO 18115-2:2013 表面化学分析 用語集 パート 2: 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語。
  • ISO 29301:2017 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡法、周期構造を持つ標準物質の画像倍率を校正する方法。
  • ISO 11952:2019 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 SPM による幾何学的量の決定: 測定システムの校正

KR-KS, 走査電子顕微鏡画像解析

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 走査電子顕微鏡画像解析

  • JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定 パート 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査電子顕微鏡画像解析

  • DB32/T 4546-2023 走査型電子顕微鏡を使用した珪藻画像の自動検査の技術仕様

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 走査電子顕微鏡画像解析

  • GB/T 33838-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡画像鮮鋭度評価法
  • GB/T 33834-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡による生体試料の分析方法

Professional Standard - Education, 走査電子顕微鏡画像解析

Professional Standard - Petroleum, 走査電子顕微鏡画像解析

  • SY/T 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
  • SY/T 5162-1997 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
  • SY 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

国家能源局, 走査電子顕微鏡画像解析

  • SY/T 5162-2021 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査電子顕微鏡画像解析

  • DB35/T 110-2000 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡 塗装痕跡検出のためのX線エネルギー分光分析法

未注明发布机构, 走査電子顕微鏡画像解析

  • JIS K 0182:2023 表面化学分析 走査型プローブ顕微鏡 カンチレバー正常バネ定数の測定

Group Standards of the People's Republic of China, 走査電子顕微鏡画像解析

  • T/CSTM 00346-2021 鋼中の介在物の自動分類と統計走査型電子顕微鏡分光法

American Society for Testing and Materials (ASTM), 走査電子顕微鏡画像解析

  • ASTM E1588-95(2001) 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E1588-08 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E1588-10 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
  • ASTM E1588-95 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型分光分析による銃撃残渣分析の標準ガイド
  • ASTM F1372-93(2012) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を走査型電子顕微鏡 (SEM) で分析するための標準的な試験方法
  • ASTM F1372-93(2005) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を走査型電子顕微鏡 (SEM) で分析するための標準的な試験方法
  • ASTM C1678-10 セラミックスおよびガラスの破面ミラー寸法による破面の顕微鏡画像解析の標準的な手法
  • ASTM E1588-20 走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光分析による銃器残留物分析の標準手法
  • ASTM E2142-08 走査型電子顕微鏡を使用した鉄中の介在物を等級分けおよび分類するための標準的な試験方法

Professional Standard - Nuclear Industry, 走査電子顕微鏡画像解析

  • EJ/T 20150.23-2018 加圧水型原子炉のロッドビーム燃料集合体の照射後検査 パート 23: 燃料被覆管の走査型電子顕微鏡分析

Professional Standard - Public Safety Standards, 走査電子顕微鏡画像解析

  • GA/T 1418-2017 法医学 ガラス証拠の元素組成検査 走査型電子顕微鏡/エネルギー分光法




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