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SEM画像の解析方法

SEM画像の解析方法は全部で 17 項標準に関連している。

SEM画像の解析方法 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 光学機器。

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, SEM画像の解析方法

• DB44/T 1527-2015 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡画像鮮鋭性評価法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, SEM画像の解析方法

• GB/T 27788-2020 マイクロビーム解析のための走査型電子顕微鏡画像の倍率校正に関するガイドライン

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, SEM画像の解析方法

• GB/T 27788-2011 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正のガイドライン。

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEM画像の解析方法

• KS D ISO 16700:2013 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
• KS D ISO 16700-2013(2018) マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像倍率校正ガイド

International Organization for Standardization (ISO), SEM画像の解析方法

• ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
• ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
• ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析、走査型電子顕微鏡法、写像性評価法

Association Francaise de Normalisation, SEM画像の解析方法

• NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
• XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡を使用した画像の鮮明さを評価する方法
• XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像の鮮明さを評価する方法

British Standards Institution (BSI), SEM画像の解析方法

• BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。
• 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
• BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド

KR-KS, SEM画像の解析方法

• KS D ISO 16700-2023 マイクロビーム分析用走査型電子顕微鏡画像倍率校正ガイド

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), SEM画像の解析方法

• JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, SEM画像の解析方法

• GB/T 33838-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡画像鮮鋭度評価法

その他：   SEM画像解析, 走査型電子顕微鏡を使った分析方法, 走査型電子顕微鏡のエネルギースペクトルを分析する方法, 走査型電子顕微鏡による分析はどうでしょうか?, 走査型電子顕微鏡のエネルギースペクトルを分析する方法, SEM画像の解析方法, 走査型電子顕微鏡を使った分析方法, 走査型電子顕微鏡を使った分析方法, 走査型電子顕微鏡の分析方法, 走査型電子顕微鏡画像の解析方法, 走査電子顕微鏡画像解析, 走査型電子顕微鏡のエネルギースペクトルを解析する方法, SEM画像の解析方法, SEM画像の解析, 走査型電子顕微鏡と画像解析, 走査型電子顕微鏡画像解析について, SEM画像解析, 走査型電子顕微鏡で形態を解析する方法, 走査型電子顕微鏡を使った分析方法.