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SEMの測定方法

SEMの測定方法は全部で 69 項標準に関連している。

SEMの測定方法 国際標準分類において、これらの分類：長さと角度の測定、機械的試験、分析化学、表面処理・メッキ、光学機器、金属材料試験、空気の質、医療科学とヘルスケア機器の統合。

International Organization for Standardization (ISO), SEMの測定方法

ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析走査型電子顕微鏡定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
ISO 11952:2019 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡 SPM による幾何学的量の決定: 測定システムの校正
ISO 11952:2014 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡 SPM を使用した幾何学的量の決定: 測定システムの校正
ISO 9220:2022 金属皮膜皮膜厚さの測定走査型電子顕微鏡法
ISO 9220:1988 金属皮膜膜厚測定走査型電子顕微鏡
ISO 19749:2021 ナノテクノロジー、走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定

Association of German Mechanical Engineers, SEMの測定方法

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 走査型プローブ顕微鏡を使用した幾何量測定システムの校正の決定
VDI 3492-2004 室内空気測定 - 外気測定 - 無機繊維粒子測定 - 走査型電子顕微鏡
VDI 3492-2013 室内空気測定 - 外気測定 - 無機繊維粒子測定 - 走査型電子顕微鏡
VDI 3861 Blatt 2-2008 走査型電子顕微鏡による固定発生源から排出される排ガス中の無機繊維粒子の測定

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, SEMの測定方法

GB/T 42659-2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡走査型プローブ顕微鏡を使用した幾何学的量の決定: 測定システムのキャリブレーション
GB/T 16594-1996 走査型電子顕微鏡によるミクロンレベルの長さの測定方法
GB/T 31563-2015 走査型電子顕微鏡による金属皮膜厚さ測定法
GB/T 17722-1999 走査型電子顕微鏡による金属キャップ層の厚さの測定方法
GB/T 16594-2008 走査型電子顕微鏡によるミクロンスケールの長さの測定方法に関する一般規則
GB/T 20307-2006 走査型電子顕微鏡によるナノスケール長さの測定方法の一般規則
GB/T 25189-2010 マイクロビーム分析走査型電子顕微鏡エネルギー分光計の定量分析パラメータの決定方法

British Standards Institution (BSI), SEMの測定方法

BS EN ISO 9220:1989 金属皮膜皮膜厚さ測定走査型電子顕微鏡法
BS ISO 11952:2019 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡 SPM を使用した幾何学的量の決定: 測定システムの校正
BS EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の皮膜厚さの測定
21/30394409 DC BS ENISO 9220 金属コーティングのコーティング厚さの測定走査型電子顕微鏡
BS ISO 19749:2021 ナノテクノロジーでは走査型電子顕微鏡を使用して粒子サイズと形状分布を測定します
BS EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します
18/30351679 DC BS ISO 19749 ナノテクノロジー走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定

Professional Standard - Machinery, SEMの測定方法

JB/T 7503-1994 金属皮膜の断面厚さ走査型電子顕微鏡による測定方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), SEMの測定方法

KS D ISO 9220:2009 金属被覆、コーティングの厚さ測定、走査型電子顕微鏡観察
KS D ISO 9220-2009(2022) 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
KS D ISO 9220-2009(2017) 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定

SE-SIS, SEMの測定方法

SIS SS-ISO 9220:1989 金属コーティング。膜厚測定。走査型電子顕微鏡法

European Committee for Standardization (CEN), SEMの測定方法

EN ISO 9220:2022 金属被覆、コーティングの厚さ測定、走査型電子顕微鏡観察
EN ISO 9220:1994 金属被覆コーティング厚さ測定走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220-1988)
EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジー、走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定
prEN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)

Association Francaise de Normalisation, SEMの測定方法

NF A91-108:1995 金属皮膜皮膜厚さの測定走査型電子顕微鏡法
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
NF EN ISO 9220:2022 金属皮膜皮膜厚さの測定走査型電子顕微鏡法
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します

RU-GOST R, SEMの測定方法

GOST R 8.594-2009 測定の一貫性を確保するための国家システム走査型電子顕微鏡
GOST R 8.631-2007 国家測定均一性保証制度走査型電子測定顕微鏡検証方法
GOST R 8.636-2007 国家測定均一性保証制度走査型電子顕微鏡校正方法
GOST 8.594-2009 国家測定均一性保証制度走査型電子顕微鏡識別方法

Danish Standards Foundation, SEMの測定方法

DS/EN ISO 9220:1995 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の膜厚測定
DS/ISO 19749:2021 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します

German Institute for Standardization, SEMの測定方法

DIN EN ISO 9220:2022-05 金属皮膜 - 皮膜厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡
DIN EN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)
DIN EN ISO 19749:2023-07 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡による粒子サイズと形状分布の測定 (ISO 19749:2021)
DIN EN ISO 9220:1995 金属コーティング、コーティングの厚さ測定、走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220:1988)、ドイツ語版 EN ISO 9220:1994
DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法

Group Standards of the People's Republic of China, SEMの測定方法

T/SPSTS 030-2023 走査型電子顕微鏡を使用したグラフェン材料のシートサイズ測定
T/GAIA 017-2022 走査電子顕微鏡およびエネルギー分光法によるアルミニウムおよびアルミニウム合金の表面コーティング中のフッ素含有量の測定

ES-UNE, SEMの測定方法

UNE-EN ISO 9220:2022 走査型電子顕微鏡による金属皮膜の皮膜厚さの測定方法
UNE-EN ISO 19749:2023 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形状分布を測定します

AENOR, SEMの測定方法

UNE-EN ISO 9220:1996 走査型電子顕微鏡による金属コーティングのコーティング厚さの測定 (ISO 9220:1988)

Lithuanian Standards Office , SEMの測定方法

LST EN ISO 9220:2001 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO 9220:1988)

American Society for Testing and Materials (ASTM), SEMの測定方法

ASTM B748-90(1997) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
ASTM B748-90(2006) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
ASTM B748-90(2021) 走査型電子顕微鏡を使用して断面を測定することにより、金属コーティングの厚さを測定する標準的な試験方法
ASTM B748-90(2001) 走査型電子顕微鏡で断面を測定することで金属皮膜の厚さを測定する標準的な試験方法
ASTM B748-90(2016) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを測定する試験方法
ASTM B748-90(2010) 走査型電子顕微鏡による断面の測定による金属コーティングの厚さを測定するための標準試験方法
ASTM E1588-07 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド
ASTM E1588-07e1 走査電子顕微鏡/エネルギー分散型X線分光分析による撮影残渣分析の標準ガイド

AT-ON, SEMの測定方法

OENORM EN ISO 9220:2021 金属コーティング - コーティング厚さの測定 - 走査型電子顕微鏡法 (ISO/DIS 9220:2021)

KR-KS, SEMの測定方法

KS C ISO 19749-2023 ナノテクノロジー - 走査型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと形状分布の測定

工业和信息化部, SEMの測定方法

SJ/T 11759-2020 太陽電池電極のグリッドラインのアスペクト比の測定レーザー走査型共焦点顕微鏡

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), SEMの測定方法

JIS K 3850-1:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法その 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡

Professional Standard - Aviation, SEMの測定方法

HB 20094.4-2012 航空作動油中の摩耗金属含有量の検出パート 4: 走査電子顕微鏡およびエネルギー分光計の検出方法

BELST, SEMの測定方法

STB 2210-2011 走査型電子顕微鏡測定を使用して、ナノスケールの炭素材料および非炭素材料およびそれらに基づく複合材料のパラメータを決定する方法
STB 2209-2011 走査型電子顕微鏡測定を使用して、ナノスケールの炭素材料および非炭素材料およびそれらに基づく複合材料の元素組成を決定する技術

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