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オージェ電子分光検出

オージェ電子分光検出は全部で 100 項標準に関連している。

オージェ電子分光検出 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、光学機器、光学および光学測定、金属材料試験、総合電子部品、電気、磁気、電気および磁気測定、非破壊検査、長さと角度の測定。

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, オージェ電子分光検出

GB/T 35158-2017 オージェ電子分光計の校正方法
GB/T 32565-2016 表面化学分析のためのオージェ電子分光法 (AES) データの記録とレポートの仕様要件
GB/T 32998-2016 表面化学分析のためのオージェ電子分光法による帯電制御および補正方法の報告に関する仕様要件

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, オージェ電子分光検出

GB/T 26533-2011 オージェ電子分光分析法の一般原理
GB/T 31470-2015 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法検査における検出信号に対応する試料面積を決める一般則
GB/T 28632-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
GB/Z 32494-2016 表面化学分析オージェ電子分光法化学情報の解釈
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
GB/T 25187-2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメータの表現
GB/T 29556-2013 表面化学分析オージェ電子分光法およびX線光電子分光法分析装置で検出できる横分解能、分析領域およびサンプル領域の決定
GB/T 29558-2013 表面化学分析用のオージェ電子分光強度スケールの再現性と一貫性
GB/T 28893-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報
GB/T 29732-2013 中分解能オージェ電子分光計の元素分析用のエネルギースケール校正（表面化学分析用）
GB/T 29731-2013 表面化学分析高分解能オージェ電子分光計元素および化学状態分析のためのエネルギースケール校正
GB/T 30702-2014 表面化学分析均質材料の定量分析におけるオージェ電子分光法および X 線光電子分光法の実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイド

Professional Standard - Machinery, オージェ電子分光検出

JB/T 6976-1993 オージェ電子分光法による元素同定法

Professional Standard - Electron, オージェ電子分光検出

SJ/T 10457-1993 オージェ電子分光法の詳細な分析のための標準ガイドライン
SJ/T 10458-1993 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法におけるサンプルハンドリングの標準ガイド

未注明发布机构, オージェ電子分光検出

BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析オージェ電子分光法およびX線光電子分光法の横方向分解能の測定
BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
BS ISO 17974:2002(2010) 表面化学分析および元素および化学状態分析用の高分解能オージェ電子分光計のエネルギー準位の校正

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, オージェ電子分光検出

GB/T 36504-2018 プリント基板の表面汚染物質の分析オージェ電子分光法
GB/T 36533-2018 オージェ電子分光法によるケイ酸塩中の微粒子鉄の化学状態の測定
GB/T 29732-2021 表面化学分析用中分解能オージェ電子分光計の元素分析用エネルギースケールの校正
GB/T 41064-2021 表面化学分析深さ方向プロファイリング単層膜および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法および二次イオン質量分析法における深さ方向プロファイリングのスパッタリング率を決定する方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), オージェ電子分光検出

ASTM E1127-91(1997) オージェ電子分光法における深さプロファイリングの標準ガイド
ASTM E1127-08(2015) オージェ電子分光法における深さプロファイリングの標準ガイド
ASTM E1127-08 オージェ電子分光法における深さプロファイリングの標準ガイド
ASTM E996-10(2018) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法でデータを報告するための標準的な方法
ASTM E996-19 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法でデータを報告するための標準的な方法
ASTM E995-16 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法におけるバックグラウンド減算技術の標準ガイド
ASTM E996-04 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標準的な方法
ASTM E996-10 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標準的な方法
ASTM E995-11 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法におけるバックグラウンド除去技術の適用に関する標準ガイド
ASTM E1217-11(2019) オージェ電子分光計および一部の X 線光電子分光計で検出される信号のサンプル領域を決定するための標準的な手法
ASTM E996-94(1999) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法データを報告するための標準的な方法
ASTM E984-95(2001) オージェ電子分光法における化学効果とマトリックス効果を特定するための標準ガイド
ASTM E984-95 オージェ電子分光法における化学効果とマトリックス効果を特定するための標準ガイド
ASTM E984-12(2020) オージェ電子分光法における化学効果とマトリックス効果を特定するための標準ガイド
ASTM E1217-11 X線光電子分光器およびオージェ電子分光器を使用して、検出信号に影響を与えるサンプルの領域を決定するための標準的な操作手順
ASTM E1217-00 X線光電子分光計とオージェ電子分光計を使用した、検出信号に影響を与えるサンプル面積の決定の標準的な手法
ASTM E1217-05 X線光電子分光計とオージェ電子分光計を使用した、検出信号に影響を与えるサンプル面積の決定の標準的な手法
ASTM E984-06 化学効果およびマトリックス効果の同定におけるオージェ電子分光法の応用に関する標準ガイド
ASTM E984-12 オージェ電子分光法を使用して化学効果とマトリックス効果を特定するための標準ガイド
ASTM E983-10 オージェ電子分光法における化学効果とマトリックス効果を測定するための標準ガイド

International Organization for Standardization (ISO), オージェ電子分光検出

ISO/TR 18394:2016 表面化学分析、オージェ電子分光法、化学情報の抽出
ISO 21270:2004 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
ISO 16242:2011 表面化学分析、オージェ電子分光法 (AES) データの記録とレポート
ISO/TR 19319:2003 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の分析者の目視検査
ISO 29081:2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、帯電制御および帯電調整のためのレポート方法。
ISO/DIS 17973:2023 表面化学分析における元素分析エネルギー準位の分解能オージェ電子分光計の校正
ISO 18516:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
ISO 15471:2004 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
ISO 15471:2016 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
ISO/CD 17973 表面化学分析における分解能オージェ電子分光計の元素分析のためのエネルギースケールの校正
ISO 17109:2022 表面化学分析、深さプロファイリング、単層および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、および二次イオン質量分析法におけるスパッタリング率を決定する方法。
ISO 20903:2011 表面化学分析、オージェ電子エネルギー分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果の報告に必要な情報
ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。
ISO/DIS 18118:2023 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法実験的に決定された相対感度係数を使用した均質材料の定量分析のガイド
ISO/FDIS 18118:2023 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - 実験的に決定された相対感度係数を使用した均質材料の定量分析のガイド
ISO 20903:2019 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - ピーク強度と結果報告時に必要な情報を決定するために使用される方法

British Standards Institution (BSI), オージェ電子分光検出

PD ISO/TR 18394:2016 表面化学分析からの化学情報の導出オージェ電子分光法
BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
BS ISO 15471:2016 表面化学分析用のオージェ電子分光法用に選択された機器の性能パラメーターの説明
BS ISO 16242:2011 表面化学分析 - オージェ電子分光法 (AEC) のデータの記録と報告
BS ISO 29081:2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、帯電制御および帯電調整のためのレポート方法。
BS ISO 18516:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
BS ISO 15471:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
BS ISO 17973:2016 表面化学分析における分解能オージェ電子分光計の元素分析のためのエネルギースケールの校正
BS ISO 20903:2019 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法ピーク強度の決定方法と結果報告時に必要な情報
BS ISO 20903:2011 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報
BS ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。
BS ISO 17109:2022 表面化学分析深さプロファイリング単層膜および多層膜の X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析の深さプロファイリング X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、単イオンおよび二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
BS ISO 18118:2015 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法実験的に決定された相対感度係数を使用した均質材料の定量分析のガイド
23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化学分析実験的に決定された相対感度係数を使用したオージェ電子分光法および X 線光電子分光法を使用した均質材料の定量分析のためのガイド

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), オージェ電子分光検出

KS D ISO 21270:2005 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置の強度スケールの直線性
KS D ISO 15471-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法 - 選択された機器の性能パラメータの説明
KS D ISO 19319:2005 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の分析者の目視検査
KS D ISO 17973-2011(2016) 表面化学分析における中分解能オージェ電子分光計の元素分析用のエネルギースケールの校正
KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - 分析装置の横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の決定
KS D ISO 15471:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
KS D ISO 17973-2011(2021) 表面化学分析 - 中分解能オージェ電子分光計 - 元素分析用のエネルギースケールの校正
KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析における均質材料の定量分析のための実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイドラインオージェ電子分光法および X 線光電子分光法
KS D ISO 17974-2011(2016) 表面化学分析用の高分解能オージェ電子分光計の元素および化学状態分析のためのエネルギースケールの校正
KS D ISO 17974-2011(2021) 表面化学分析 - 高分解能オージェ電子分光計 - 元素および化学状態分析のためのエネルギースケールの校正

Association Francaise de Normalisation, オージェ電子分光検出

NF ISO 16242:2012 界面化学分析オージェ電子分光法 (AES) データのログ記録とレポート作成
NF ISO 24236:2006 表面化学分析におけるオージェ電子スペクトルのエネルギー準位の再現性と一定性
NF X21-072*NF ISO 16242:2012 表面化学分析、オージェ電子分光法 (AES) データの記録とレポート
NF ISO 17973:2006 表面化学分析における分解能オージェ電子分光計の元素分析のためのエネルギースケールの校正
NF ISO 29081:2010 表面化学分析におけるオージェ電子分光法の帯電制御と補正に使用する方法の表示
NF X21-058:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定に使用される方法および結果の報告に必要な情報
NF ISO 17974:2009 元素および化学状態分析のための表面化学分析用の高分解能オージェ電子分光計のエネルギースケール校正

German Institute for Standardization, オージェ電子分光検出

DIN ISO 16242:2020-05 界面化学分析は、オージェ電子分光法 (AES) でデータを記録および報告します。
DIN ISO 16242:2020 表面化学分析のためのオージェ電子分光法 (AES) によるデータの記録とレポート (ISO 16242:2011)、英語テキスト

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), オージェ電子分光検出

JIS K 0161:2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
JIS K 0167:2011 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法均質材料の定量分析における相対感度係数の実験室測定の使用に関するガイドライン

RU-GOST R, オージェ電子分光検出

GOST R ISO 16242-2016 測定の一貫性を確保するための国家システム表面化学分析オージェ電子分光法 (AES) データの記録と報告

Standard Association of Australia （SAA）, オージェ電子分光検出

AS ISO 18118:2006 表面化学分析。オージェ電子分光法とX線光電子分光法。均質材料の定量分析における実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイド