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オージェ電子分光法では何が検出されますか?

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オージェ電子分光法では何が検出されますか? 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 電気、磁気、電気および磁気測定。

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, オージェ電子分光法では何が検出されますか?

• GB/T 35158-2017 オージェ電子分光計の校正方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, オージェ電子分光法では何が検出されますか?

• GB/T 31470-2015 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法検査における検出信号に対応する試料面積を決める一般則
• GB/T 28632-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
• GB/T 29556-2013 表面化学分析 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法 分析装置で検出できる横分解能、分析領域およびサンプル領域の決定
• GB/T 28893-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報
• GB/T 30702-2014 表面化学分析 均質材料の定量分析におけるオージェ電子分光法および X 線光電子分光法の実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイド

未注明发布机构, オージェ電子分光法では何が検出されますか?

• BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法の横方向分解能の測定

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, オージェ電子分光法では何が検出されますか?

• GB/T 36533-2018 オージェ電子分光法によるケイ酸塩中の微粒子鉄の化学状態の測定
• GB/T 41064-2021 表面化学分析 深さ方向プロファイリング 単層膜および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法および二次イオン質量分析法における深さ方向プロファイリングのスパッタリング率を決定する方法

American Society for Testing and Materials (ASTM), オージェ電子分光法では何が検出されますか?

• ASTM E1217-11(2019) オージェ電子分光計および一部の X 線光電子分光計で検出される信号のサンプル領域を決定するための標準的な手法
• ASTM E1217-11 X線光電子分光器およびオージェ電子分光器を使用して、検出信号に影響を与えるサンプルの領域を決定するための標準的な操作手順
• ASTM E1217-00 X線光電子分光計とオージェ電子分光計を使用した、検出信号に影響を与えるサンプル面積の決定の標準的な手法
• ASTM E1217-05 X線光電子分光計とオージェ電子分光計を使用した、検出信号に影響を与えるサンプル面積の決定の標準的な手法

International Organization for Standardization (ISO), オージェ電子分光法では何が検出されますか?

• ISO/TR 19319:2003 表面化学分析 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の分析者の目視検査
• ISO 17109:2022 表面化学分析、深さプロファイリング、単層および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、および二次イオン質量分析法におけるスパッタリング率を決定する方法。
• ISO 20903:2011 表面化学分析、オージェ電子エネルギー分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果の報告に必要な情報
• ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), オージェ電子分光法では何が検出されますか?

• KS D ISO 19319:2005 表面化学分析 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の分析者の目視検査
• KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - 分析装置の横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の決定
• KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析における均質材料の定量分析のための実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイドライン オージェ電子分光法および X 線光電子分光法

British Standards Institution (BSI), オージェ電子分光法では何が検出されますか?

• BS ISO 20903:2011 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定方法および結果報告に必要な情報
• BS ISO 17109:2015 表面化学分析、深さプロファイリング、単層膜および多層膜を使用した、X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さプロファイリングにおけるスパッタリング率を決定する方法。
• BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深さプロファイリング 単層膜および多層膜の X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...
• 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析の深さプロファイリング X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、単イオンおよび二次イオン質量分析法を使用したスパッタ深さ分析におけるスパッタリング率の決定方法...

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), オージェ電子分光法では何が検出されますか?

• JIS K 0167:2011 表面化学分析 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 均質材料の定量分析における相対感度係数の実験室測定の使用に関するガイドライン

Association Francaise de Normalisation, オージェ電子分光法では何が検出されますか?

• NF X21-058:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強度の決定に使用される方法および結果の報告に必要な情報

RU-GOST R, オージェ電子分光法では何が検出されますか?

• GOST R ISO 16242-2016 測定の一貫性を確保するための国家システム 表面化学分析 オージェ電子分光法 (AES) データの記録と報告

Standard Association of Australia （SAA）, オージェ電子分光法では何が検出されますか?

• AS ISO 18118:2006 表面化学分析。 オージェ電子分光法とX線光電子分光法。 均質材料の定量分析における実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイド

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