ZH
RU
EN
ES

単結晶回折計サンプル

単結晶回折計サンプルは全部で 22 項標準に関連している。

単結晶回折計サンプル 国際標準分類において、これらの分類：非破壊検査、 金属材料試験、 化学製品、 金属の生産、 教育する、 分析化学、 無機化学、 セラミックス。

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 単結晶回折計サンプル

• JJG 629-2014 多結晶X線回折装置の校正手順
• JJG 629-1989 多結晶X線回折装置の校正手順
• JJG(地质) 1014-1990 多結晶X線回折装置の校正手順

British Standards Institution (BSI), 単結晶回折計サンプル

• BS EN 13925-3:2005(2009) 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
• BS EN 13925-3:2005 非破壊検査、多結晶およびアモルファス材料の X 線回折。
• BS ISO 22278:2020 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、アドバンストテクノロジーセラミックス） 平行X線ビームX線回折法を用いた単結晶薄膜（ウエハ）の結晶品質判定試験方法
• 20/30360821 DC BS ISO 22278 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、アドバンストテクニカルセラミックス） 平行X線ビームX線回折法を用いた単結晶薄膜（ウエハ）の結晶品質を判定する試験方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 単結晶回折計サンプル

• GB/T 42676-2023 半導体単結晶結晶品質検査X線回折法
• GB/T 19421.1-2003 層状結晶性二ケイ酸ナトリウムの試験方法 デルタ相の定性分析 層状結晶性二ケイ酸ナトリウム X 線回折法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 単結晶回折計サンプル

• JIS H 7805:2005 X線回折装置を用いた金属結晶の粒径測定方法

Professional Standard - Education, 単結晶回折計サンプル

• JY/T 0588-2020 単結晶X線回折装置を用いた低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理
• JY/T 008-1996 円単結晶 X 線回折装置を使用した低分子化合物の結晶および分子構造解析の一般原理。

German Institute for Standardization, 単結晶回折計サンプル

• DIN EN 13925-3:2005 非破壊検査 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折 パート 3: 機器
• DIN EN 13925-3:2005-07 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器

European Committee for Standardization (CEN), 単結晶回折計サンプル

• EN 13925-3:2005 非破壊検査 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折 パート 3: 機器

Association Francaise de Normalisation, 単結晶回折計サンプル

• NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 非破壊検査 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折 パート 3: 機器

Danish Standards Foundation, 単結晶回折計サンプル

• DS/EN 13925-3:2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器

Lithuanian Standards Office , 単結晶回折計サンプル

• LST EN 13925-3-2005 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器

AENOR, 単結晶回折計サンプル

• UNE-EN 13925-3:2006 多結晶およびアモルファス材料の X 線回折の非破壊検査パート 3: 機器

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 単結晶回折計サンプル

• GB/T 37983-2019 結晶材料X線回折装置回転配向性試験方法

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 単結晶回折計サンプル

• JJF 1256-2010 X線単結晶配向装置の校正仕様

International Organization for Standardization (ISO), 単結晶回折計サンプル

• ISO 22278:2020 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、先端産業用セラミックス） 平行X線ビームX線回折法による単結晶薄膜（ウエハ）の結晶品質判定試験方法

その他：   単結晶回折計, 単結晶X線回折装置, X線単結晶回折装置, X線単結晶回折装置, ++++単結晶X線回折装置, 単結晶回折計, 単結晶回折計サンプル, 単結晶回折計サンプルロッド, 回折計単結晶, 光線単結晶回折装置, 単結晶回折計用結晶, ×単結晶回折計, 四元単結晶回折計, ×単結晶回折計, X線単結晶回折装置, X線回折装置単結晶, x単結晶回折計, 単結晶回折装置による分析, 単結晶線回折装置, 単結晶回折計.