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エリアスキャン

エリアスキャンは全部で 44 項標準に関連している。

エリアスキャン 国際標準分類において、これらの分類:集積回路、マイクロエレクトロニクス、 半導体材料、 音響および音響測定、 電磁両立性 (EMC)、 道路車両装置、 分析化学、 表面処理・メッキ、 計測学と測定の総合、 天文学、測地学、地理学。


British Standards Institution (BSI), エリアスキャン

  • PD IEC/TS 61967-3:2014 電磁放射測定用集積回路からの放射を測定するための表面走査法
  • BS PD IEC/TS 61967-3:2014 集積回路 電磁放射線の測定 放射放射線の測定 表面走査法
  • BS PD IEC/TS 62132-9:2014 集積回路 電磁イミュニティの測定 放射イミュニティの測定 表面走査法
  • BS DD IEC/TS 61967-3:2005 集積回路 150kHz ~ 1GHz の電磁放射の測定 放射状放射の測定 表面走査法
  • PD IEC/TS 62132-9:2014 集積回路の電磁イミュニティの測定 放射イミュニティ測定のための表面走査法
  • BS EN 61101:1994 周波数範囲 0.5MHz ~ 15MHz で使用する平面スキャン技術水検出器の絶対補正の仕様

American Society for Testing and Materials (ASTM), エリアスキャン

  • ASTM F1621-96 表面走査検査システム (SSIS) の位置決め精度能力を決定するための標準的な手法
  • ASTM F1620-96 研磨またはエピタキシャルウェーハ表面に堆積された単分散ポリスチレンラテックスビーズを使用した表面走査検査システムの校正に関する標準仕様
  • ASTM E1636-94(1999) 拡張ロジック関数を使用して深度プロファイルおよびラインスキャンプロファイルデータを記述するための標準的な手法
  • ASTM E1636-10 拡張ロジック関数を使用して深度プロファイルおよびラインスキャンプロファイルデータを記述するための標準的な手法

International Electrotechnical Commission (IEC), エリアスキャン

  • IEC 61101:1991 0.5MHz~15MHzの周波数範囲での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正
  • IEC TS 61967-3:2014 集積回路、電磁放射の測定、その 3: 放射状放射の測定、表面走査法
  • IEC 47A/880/CD:2012 集積回路 電磁放射の測定 パート 3: 放射放射の測定 表面走査法
  • IEC TS 62132-9:2014 集積回路 電磁イミュニティの測定 第9部 放射イミュニティの測定 表面走査法
  • IEC 47A/912/CD:2013 IEC/TS 61967-3、第 2 版: 集積回路、電磁放射の測定、パート 3: 放射エミッションの測定、表面走査法
  • IEC TS 61967-3:2005 集積回路 150 kHz ~ 1 GHz の電磁放射の測定 パート 3: 放射状放射の測定 表面走査法
  • IEC 47A/900/CD:2013 IEC/TS 61967-3、第 2 版: 集積回路、電磁放射の測定、パート 3: 放射放射の測定、表面走査法
  • IEC 47A/925/DTS:2014 IEC/TS 61967-3、第 2 版: 集積回路、電磁放射の測定、パート 3: 放射放射の測定、表面走査法
  • IEC 47A/887/CD:2012 IEC/TS 62132-9、第 1 版: 基本回路、電磁イミュニティ測定、パート 9: 放射イミュニティ測定、表面走査法
  • IEC 47A/898/CD:2013 IEC/TS 62132-9、Ed1 集積回路、電磁イミュニティの測定 Part 9 放射イミュニティの測定 表面走査法
  • IEC 47A/924/DTS:2014 IEC/TS 62132-9、第 1 版: 集積回路、電磁イミュニティの測定、パート 9: 放射イミュニティの測定、表面走査法
  • IEC 47A/903/CD:2013 IEC/TS 62132-9、第 1 版: 集積回路の電磁イミュニティの測定、パート 9: 放射イミュニティの測定、表面走査法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), エリアスキャン

  • KS C IEC 61101:2004 0.5MHz~15MHzの周波数範囲での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正
  • KS C IEC 61101:2014 0~5MHz~15MHzの周波数範囲での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正
  • KS C IEC 61101-2004(2009) 0.5 MHz ~ 15 MHz の周波数範囲での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正

BE-NBN, エリアスキャン

  • NBN-EN 61101-1994 0.5MHz~15MHzの周波数範囲での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正

Danish Standards Foundation, エリアスキャン

  • DS/EN 61101:1994 0.5MHz~15MHzの周波数範囲での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正

Society of Automotive Engineers (SAE), エリアスキャン

  • SAE J1752-2-2003 集積回路の放射エミッション測定 表面走査法(ループプローブ法) 10MHz~3GHz
  • SAE J1752/2-1995 集積回路の放射性エミッション測定 表面走査法(ループプローブ法) 10Mhz~3Ghz
  • SAE J1752/2-2011 集積回路からの放射妨害波の測定 表面走査法(ループプローブ法) 10 MHz ~ 3 GHz
  • SAE J1752/2-2016 集積回路からの放射妨害波の測定 表面走査法(ループプローブ法) 10 MHz ~ 3 GHz
  • SAE J1752/2-2003 集積回路からの放射妨害波の測定 表面走査法(ループプローブ法) 10 MHz ~ 3 GHz
  • SAE J1752-2-2011 10 MHz ~ 3 GHz の集積回路表面走査法 (ループ検出法) を使用した放射エミッション測定

SAE - SAE International, エリアスキャン

  • SAE J1752-2-2016 集積回路の放射エミッション測定 表面走査法(ループプローブ法) 10MHz~3GHz

NL-NEN, エリアスキャン

  • NEN 11101-1994 IEC 1102-199 周波数範囲 0.5MHz ~ 15MHz での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, エリアスキャン

  • EN 61101:1993 5 MHz ~ 15 MHz の周波数範囲での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正

German Institute for Standardization, エリアスキャン

  • DIN IEC/TS 62132-9:2012 集積回路、電磁イミュニティ測定、パート 9: 放射イミュニティ測定、表面走査法 (IEC 47A/887/CD-2012)
  • DIN IEC/TS 62132-9:2015 集積回路、電磁イミュニティ測定、パート 9: 放射イミュニティ測定、表面走査法 (IEC/TS 62132-9-2014)
  • DIN IEC/TS 61967-3:2015 集積回路、電磁放射の測定、パート 3: 放射エミッションの測定、表面走査法 (IEC/TS 61967-3-2014)
  • DIN IEC/TS 61967-3:2012 集積回路、電磁放射の測定、パート 3: 放射エミッションの測定、表面走査法、集積回路 (IEC 47A/880/CD-2012)

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, エリアスキャン

Professional Standard - Machinery, エリアスキャン

  • JB/T 7503-1994 金属皮膜の断面厚さ 走査型電子顕微鏡による測定方法

RU-GOST R, エリアスキャン

  • GOST R 8.794-2012 国家測定一貫性保証システム 地上波レーザースキャナ 検証手順

Professional Standard - Surveying and Mapping, エリアスキャン

  • CH/Z 3017-2015 地上3Dレーザースキャン運用に関する技術基準




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