ZH
RU
EN
ES

百面スキャニング

百面スキャニングは全部で 148 項標準に関連している。

百面スキャニング 国際標準分類において、これらの分類：天文学、測地学、地理学、熱力学と温度測定、建設業、分析化学、医療機器、表面処理・メッキ、語彙、非破壊検査、地質学、気象学、水文学、ガラス、オプトエレクトロニクス、レーザー装置、石油およびガス産業の機器、潤滑剤、工業用油および関連製品、道路工事、計測学と測定の総合、金属材料試験、集積回路、マイクロエレクトロニクス、半導体材料、長さと角度の測定、音響および音響測定、物理学、化学、情報技術の応用、電磁両立性 (EMC)、道路車両装置、パラフィン、瀝青材、その他の石油製品、光学および光学測定、建築コンポーネント、建材、空気の質、オーディオ、ビデオ、およびオーディオビジュアルエンジニアリング、人間工学。

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 百面スキャニング

JJF 1406-2013 地上波レーザースキャナの校正仕様

Professional Standard - Surveying and Mapping, 百面スキャニング

CH/Z 3017-2015 地上3Dレーザースキャン運用に関する技術基準

American Society for Testing and Materials (ASTM), 百面スキャニング

ASTM E928-01 示差走査熱量測定によるモル不純物パーセンテージを決定するための標準試験方法
ASTM E928-96 示差走査熱量測定によるモル不純物パーセンテージを決定するための標準試験方法
ASTM E928-08 示差走査熱量測定によるモル不純物パーセンテージを決定するための標準試験方法
ASTM E1636-94(1999) 拡張ロジック関数を使用して深度プロファイルおよびラインスキャンプロファイルデータを記述するための標準的な手法
ASTM E1636-10 拡張ロジック関数を使用して深度プロファイルおよびラインスキャンプロファイルデータを記述するための標準的な手法
ASTM D7000-11(2017) アスファルト乳剤表面処理サンプルの走査試験の標準試験方法
ASTM D7000-19 乳化アスファルト表面処理サンプルの走査試験の標準試験方法
ASTM D7000-19a 乳化アスファルト表面処理サンプルの走査試験の標準試験方法
ASTM F1621-96 表面走査検査システム (SSIS) の位置決め精度能力を決定するための標準的な手法
ASTM B748-90(1997) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
ASTM B748-90(2006) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを求める方法
ASTM F2625-10 示差走査熱量計による超高分子量ポリエチレンのエンタルピー点、結晶化度パーセント、融点を測定するための標準試験方法
ASTM F2625-07 示差走査熱量測定による超高分子量ポリエチレンのエンタルピー点、結晶化度パーセント、融点の標準試験方法
ASTM B748-90(2010) 走査型電子顕微鏡による断面の測定による金属コーティングの厚さを測定するための標準試験方法
ASTM B748-90(2021) 走査型電子顕微鏡を使用して断面を測定することにより、金属コーティングの厚さを測定する標準的な試験方法
ASTM B748-90(2016) 走査型電子顕微鏡による断面測定により金属皮膜の厚さを測定する試験方法
ASTM F1438-93(2005) 走査型トンネル顕微鏡によるガス分配システム部品の表面粗さの試験方法
ASTM B748-90(2001) 走査型電子顕微鏡で断面を測定することで金属皮膜の厚さを測定する標準的な試験方法
ASTM F3418-20 示差走査熱量測定 (DSC) による馬の移動表面上の松蝋の転移温度を測定するための標準試験方法
ASTM F1438-93(1999) ガス分配システムコンポーネントの走査型トンネル顕微鏡による表面粗さ測定の標準試験方法
ASTM F1438-93(2020) ガス分配システムコンポーネントの走査型トンネル顕微鏡による表面粗さ測定の標準試験方法
ASTM D7954/D7954M-14 非破壊電気インピーダンススキャナを使用した屋根および防水システムの水分測定の標準的な方法
ASTM D7954/D7954M-15 非破壊電気インピーダンススキャナを使用した屋根および防水システムの水分測定の標準的な方法
ASTM F1372-93(1999) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態の走査型電子顕微鏡 (SEM) の標準試験方法
ASTM F1372-93(2020) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態の走査型電子顕微鏡 (SEM) の標準試験方法
ASTM F1438-93(2012) ガス分配システムコンポーネントの走査型トンネル顕微鏡を使用した表面粗さ測定のための標準的な試験方法
ASTM F1620-96 研磨またはエピタキシャルウェーハ表面に堆積された単分散ポリスチレンラテックスビーズを使用した表面走査検査システムの校正に関する標準仕様
ASTM F1372-93(2012) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を走査型電子顕微鏡 (SEM) で分析するための標準的な試験方法
ASTM F1372-93(2005) ガス分配システムコンポーネントの金属表面状態を走査型電子顕微鏡 (SEM) で分析するための標準的な試験方法

Professional Standard - Commodity Inspection, 百面スキャニング

SN/T 3009-2011 走査型電子顕微鏡による金属表面の海水腐食の同定方法

Group Standards of the People's Republic of China, 百面スキャニング

T/CECS 790-2020 地上3次元レーザー走査工学応用に関する技術基準
T/CSTM 00619-2022 ファイバープリフォームの表面寸法測定のための三次元レーザー走査法
T/CAGHP 018-2018 地質災害の地上三次元レーザー走査監視に関する技術基準
T/ZKJXX 00036-2023 地上移動式三次元レーザー走査システムの一般的な技術要件
T/GAIA 017-2022 走査電子顕微鏡およびエネルギー分光法によるアルミニウムおよびアルミニウム合金の表面コーティング中のフッ素含有量の測定

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 百面スキャニング

GB/T 42659-2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡走査型プローブ顕微鏡を使用した幾何学的量の決定: 測定システムのキャリブレーション
GB/T 22461.2-2023 表面化学分析用語集パート 2: 走査型プローブ顕微鏡の用語
GB/T 42543-2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡検査片持ち梁の垂直弾性定数の決定
GB/T 31226-2014 ガス分配システム部品の表面粗さを測定するための走査型トンネル顕微鏡法
GB/Z 26083-2010 オクチルオキシ銅フタロシアニン分子の黒鉛表面への吸着構造の実験方法（走査型トンネル顕微鏡）
GB/T 33523.604-2022 幾何製品仕様 (GPS) 表面構造面積法パート 604: 非接触 (コヒーレント走査干渉計) 機器の公称特性

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 百面スキャニング

GB/T 33806-2017 エリアアレイ蛍光イメージングマイクロアレイチップスキャナーの技術要件
GB/T 36052-2018 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡データ転送フォーマット

Professional Standard - Machinery, 百面スキャニング

JB/T 7503-1994 金属皮膜の断面厚さ走査型電子顕微鏡による測定方法

British Standards Institution (BSI), 百面スキャニング

BS ISO 18115-2:2013 表面化学分析、用語集、走査型プローブ顕微鏡の用語
BS ISO 28600:2011 表面化学分析 - 走査型プローブ顕微鏡用のデータ転送フォーマット
BS ISO 18115-2:2021 表面化学分析用語集走査型プローブ顕微鏡で使用される用語
PD IEC/TS 61967-3:2014 電磁放射測定用集積回路からの放射を測定するための表面走査法
BS PD IEC/TS 61967-3:2014 集積回路電磁放射線の測定放射放射線の測定表面走査法
BS ISO 18115-2:2010 表面化学分析用語集走査型プローブ顕微鏡で使用される用語。
BS ISO 11775:2015 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡検査、一般的なカンチレバーのバネ定数の決定。
BS PD IEC/TS 62132-9:2014 集積回路電磁イミュニティの測定放射イミュニティの測定表面走査法
BS DD IEC/TS 61967-3:2005 集積回路 150kHz ～ 1GHz の電磁放射の測定放射状放射の測定表面走査法
PD IEC/TS 62132-9:2014 集積回路の電磁イミュニティの測定放射イミュニティ測定のための表面走査法
BS EN 61101:1994 周波数範囲 0.5MHz ～ 15MHz で使用する平面スキャン技術水検出器の絶対補正の仕様
BS EN ISO 25178-604:2013 幾何学的製品仕様 (GPS)、表面テクスチャ: 表面、非接触 (コヒーレンス走査干渉計) 機器の公称特性
BS ISO 11952:2019 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡 SPM を使用した幾何学的量の決定: 測定システムの校正
BS ISO 13083:2015 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、2D ドーピングイメージングなどの用途向けの SSRM や SCM など、走査型電子プローブ顕微鏡 (ESPM) における空間分解能と校正標準の定義。
12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1 表面化学分析の用語集パート 2: 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語
BS ISO 17123-9:2018 光学および光学機器測地および測量機器のフィールド試験手順地上レーザースキャナ
BS ISO 27911:2011 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、近接場光学顕微鏡における横方向分解能の定義と校正
BS ISO 22581:2021 表面化学分析 X 線光電子分光法測定スキャンからのほぼリアルタイムの情報炭素質化合物の表面汚染の特定と修正ルール
12/30228339 DC BS ISO 16000-27 室内空気パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面沈降繊維状粉塵の測定 (直接法)
PD ISO/IEC TS 20071-15:2017 情報技術ユーザーインターフェイスコンポーネントのアクセシビリティ視覚情報をスキャンしてテキストとして表示するためのさまざまな方法に関するガイダンス
BS EN ISO 20685-2:2017 人間工学的に互換性のある国際人体計測データベース用の 3D スキャン法の表面形状と相対的なランドマーク位置の再現性を評価するためのプロトコル
BS ISO 21222:2020 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の測定手順
BS EN ISO 20685-2:2023 人間工学的に互換性のある国際人体計測データベース用の 3D スキャン法の表面形状と相対的なランドマーク位置の再現性を評価するためのプロトコル
19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法を使用した準拠材料の弾性率の決定手順

Professional Standard - Energy, 百面スキャニング

DL/T 2333-2021 送変電事業における地上三次元レーザー走査計測に関する技術基準

Professional Standard - Building Materials, 百面スキャニング

JC/T 2658-2022 曲面ガラスの三次元形状偏差試験方法レーザースキャン法

国家能源局, 百面スキャニング

SY/T 7346-2016 石油・ガス工学の地上三次元レーザー走査測定の仕様

Professional Standard - Petrochemical Industry, 百面スキャニング

NB/SH/T 0832-2010 潤滑油の熱表面酸化の測定圧力示差走査熱量測定

International Organization for Standardization (ISO), 百面スキャニング

ISO 11039:2012 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、ドリフト速度測定の標準。
ISO 18115-2:2021 表面化学分析用語集パート 2: 走査型プローブ顕微鏡の用語
ISO 28600:2011 表面化学分析 - 走査型プローブ顕微鏡用のデータ転送フォーマット
ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡電気走査型プローブ顕微鏡を使用した半導体デバイスのキャリア濃度の実験的定量化に関するガイド
ISO 11775:2015 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡検査、一般的なカンチレバーのバネ定数の決定。
ISO 18115-2:2010 表面化学分析用語集パート 2: 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語。
ISO 11952:2019 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡 SPM による幾何学的量の決定: 測定システムの校正
ISO 11952:2014 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡 SPM を使用した幾何学的量の決定: 測定システムの校正
ISO/CD 25178-604 幾何学的製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: 平面 604 部品: 非接触 (コヒーレント走査干渉計) 機器の公称特性
ISO 18115-2:2013 表面化学分析用語集パート 2: 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語。
ISO 13083:2015 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、2D ドーピングイメージングなどの用途向けの SSRM や SCM など、走査型電子プローブ顕微鏡 (ESPM) における空間分解能と校正標準の定義。
ISO/DIS 25178-604:2023 幾何製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ: 面積 — パート 604: 非接触 (コヒーレント走査干渉計) 機器の設計と特性
ISO 25178-604:2013 製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面テクスチャー面パート 604 非接触公称特性 (コヒーレンス走査干渉計) 計測器
ISO 27911:2011 表面化学分析、走査型プローブ顕微鏡、近接場光学顕微鏡の横方向分解能の定義と校正
ISO 17123-9:2018 光学および光学機器 - 測地機器を測定するための現場手順 - パート 9: 地上レーザースキャナ
ISO 22581:2021 表面化学分析 X 線光電子分光法による測定とスキャンほぼリアルタイムの情報炭素質化合物の表面汚染の特定と修正ルール
ISO 16000-27:2014 室内空気パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面降下繊維粉塵の測定 (直接法)
ISO 21222:2020 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡原子間力顕微鏡および 2 点 JKR 法による準拠材料の弾性率の測定手順
ISO/IEC TS 20071-15:2017 情報技術. ユーザーインターフェイスコンポーネントのアクセシビリティ. パート 15: さまざまな形式のテキストとして表示するために視覚情報をスキャンするためのガイドライン

Association Francaise de Normalisation, 百面スキャニング

NF X21-069-2:2010 表面化学分析用語集パート 2: 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語。
NF E05-031-604*NF EN ISO 25178-604:2013 幾何学的製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: 表面パート 604: 非接触 (コヒーレンス走査干渉計) 機器の公称特性
NF EN ISO 25178-604:2013 幾何製品仕様 (GPS) - 表面仕上げ: 表面 - パート 604: コヒーレント走査干渉計を使用した非接触機器の公称特性
NF ISO 16000-27:2014 室内空気 - パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面堆積繊維状粉塵の測定 (直接法)
NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 室内空気パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面繊維脱落の測定 (直接法)

RU-GOST R, 百面スキャニング

GOST R 8.794-2012 国家測定一貫性保証システム地上波レーザースキャナ検証手順
GOST ISO 16000-27-2017 室内空気その27 SEM（走査型電子顕微鏡）による表面に付着した繊維粉塵の定量（直接法）
GOST R 8.700-2010 測定の一貫性を確保するための国家制度原子間力走査型プローブ顕微鏡を用いた表面粗さ効果高度測定法
GOST R ISO 27911-2015 測定の一貫性を確保するための国家システム表面化学分析走査型プローブ顕微鏡法近接場光学顕微鏡法における横方向分解能の定義と校正

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 百面スキャニング

JIS K 0147-2:2017 表面化学分析用語集パート 2: 走査型プローブ顕微鏡で使用される用語

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector, 百面スキャニング

ITU-R BR.1289 SPANISH-1997 16:9 従来の TV システムの 16 mm および 35 mm 剥離ライナーのスキャン領域
ITU-R BR.1289 FRENCH-1997 16:9 従来の TV システムの 16 mm および 35 mm 剥離ライナーのスキャン領域
ITU-R BR.1288 SPANISH-1997 従来の 4:3 TV システムの 16 mm および 35 mm 剥離ライナーのスキャン領域

未注明发布机构, 百面スキャニング

JIS K 0182:2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡カンチレバー正常バネ定数の測定

International Electrotechnical Commission (IEC), 百面スキャニング

IEC 61101:1991 0.5MHz～15MHzの周波数範囲での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正
IEC TS 61967-3:2014 集積回路、電磁放射の測定、その 3: 放射状放射の測定、表面走査法
IEC 47A/880/CD:2012 集積回路電磁放射の測定パート 3: 放射放射の測定表面走査法
IEC TS 62132-9:2014 集積回路電磁イミュニティの測定第9部放射イミュニティの測定表面走査法
IEC 47A/912/CD:2013 IEC/TS 61967-3、第 2 版: 集積回路、電磁放射の測定、パート 3: 放射エミッションの測定、表面走査法
IEC TS 61967-3:2005 集積回路 150 kHz ～ 1 GHz の電磁放射の測定パート 3: 放射状放射の測定表面走査法
IEC 47A/900/CD:2013 IEC/TS 61967-3、第 2 版: 集積回路、電磁放射の測定、パート 3: 放射放射の測定、表面走査法
IEC 47A/925/DTS:2014 IEC/TS 61967-3、第 2 版: 集積回路、電磁放射の測定、パート 3: 放射放射の測定、表面走査法
IEC 47A/887/CD:2012 IEC/TS 62132-9、第 1 版: 基本回路、電磁イミュニティ測定、パート 9: 放射イミュニティ測定、表面走査法
IEC 47A/898/CD:2013 IEC/TS 62132-9、Ed1 集積回路、電磁イミュニティの測定 Part 9 放射イミュニティの測定表面走査法
IEC 47A/924/DTS:2014 IEC/TS 62132-9、第 1 版: 集積回路、電磁イミュニティの測定、パート 9: 放射イミュニティの測定、表面走査法
IEC 47A/903/CD:2013 IEC/TS 62132-9、第 1 版: 集積回路の電磁イミュニティの測定、パート 9: 放射イミュニティの測定、表面走査法
IEC 61880-2:2002 ビデオシステム (525/60) 垂直ブランキング期間を使用したビデオおよびオーディオデータアナログインターフェイスパート 2: 525 プッシュスキャンシステム

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 百面スキャニング

KS C IEC 61101:2004 0.5MHz～15MHzの周波数範囲での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正
KS C IEC 61101:2014 0～5MHz～15MHzの周波数範囲での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正
KS C IEC 61101-2004(2009) 0.5 MHz ～ 15 MHz の周波数範囲での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正

BE-NBN, 百面スキャニング

NBN-EN 61101-1994 0.5MHz～15MHzの周波数範囲での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正

European Committee for Standardization (CEN), 百面スキャニング

EN 1332-5:2006 ID カードシステム、ヒューマンマシンインターフェイス、パート 5: ID-1 カードの目的を区別するための高スキャンシンボル
EN ISO 25178-604:2013 製品幾何学的仕様 (GPS)、表面テクスチャ: 平面、パート 604: 非接触公称特性評価 (コヒーレンス走査干渉計) 機器

Danish Standards Foundation, 百面スキャニング

DS/EN 61101:1994 0.5MHz～15MHzの周波数範囲での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正
DS/EN ISO 25178-604:2013 幾何学的製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: 平面部品 604: 非接触 (コヒーレント走査干渉計) 機器の公称特性

Society of Automotive Engineers (SAE), 百面スキャニング

SAE J1752-2-2003 集積回路の放射エミッション測定表面走査法（ループプローブ法） 10MHz～3GHz
SAE J1752/2-1995 集積回路の放射性エミッション測定表面走査法（ループプローブ法） 10Mhz～3Ghz
SAE J1752/2-2011 集積回路からの放射妨害波の測定表面走査法（ループプローブ法） 10 MHz ～ 3 GHz
SAE J1752/2-2016 集積回路からの放射妨害波の測定表面走査法（ループプローブ法） 10 MHz ～ 3 GHz
SAE J1752/2-2003 集積回路からの放射妨害波の測定表面走査法（ループプローブ法） 10 MHz ～ 3 GHz
SAE J1752-2-2011 10 MHz ～ 3 GHz の集積回路表面走査法 (ループ検出法) を使用した放射エミッション測定

SAE - SAE International, 百面スキャニング

SAE J1752-2-2016 集積回路の放射エミッション測定表面走査法（ループプローブ法） 10MHz～3GHz

NL-NEN, 百面スキャニング

NEN 11101-1994 IEC 1102-199 周波数範囲 0.5MHz ～ 15MHz での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正

ES-UNE, 百面スキャニング

UNE-EN ISO 25178-604:2013 幾何学的製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: 面積パート 604: 非接触 (コヒーレント走査干渉計) 機器の公称特性

German Institute for Standardization, 百面スキャニング

DIN EN ISO 25178-604:2013-12 幾何学的製品仕様 (GPS) 表面テクスチャ: 面積パート 604: 非接触 (コヒーレント走査干渉計) 機器の公称特性
DIN 6855-2:2013-01 核医学測定システムの安定性試験その2：平面シンチグラフィー用単結晶ガンマカメラと単光子放出断層撮影用回転検出器ヘッドを備えたAngry型ガンマカメラ
DIN IEC/TS 62132-9:2012 集積回路、電磁イミュニティ測定、パート 9: 放射イミュニティ測定、表面走査法 (IEC 47A/887/CD-2012)
DIN IEC/TS 62132-9:2015 集積回路、電磁イミュニティ測定、パート 9: 放射イミュニティ測定、表面走査法 (IEC/TS 62132-9-2014)
DIN IEC/TS 61967-3:2015 集積回路、電磁放射の測定、パート 3: 放射エミッションの測定、表面走査法 (IEC/TS 61967-3-2014)
DIN EN ISO 25178-604:2023-11 製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面テクスチャ: 表面パート 604: 非接触 (コヒーレント走査干渉計) 機器の設計と特性 (ISO/DIS 25178-604:2023)
DIN ISO 16000-27:2014-11 室内空気その27：表面に付着した繊維状粉塵のSEM（走査型電子顕微鏡）による測定（直接法）
DIN IEC/TS 61967-3:2012 集積回路、電磁放射の測定、パート 3: 放射エミッションの測定、表面走査法、集積回路 (IEC 47A/880/CD-2012)
DIN ISO 16000-27:2014 室内空気パート 27: SEM (走査型電子顕微鏡) による表面繊維脱落の測定 (直接法) (ISO 16000-27-2014)
DIN EN ISO 25178-604:2013 技術製品の幾何学的仕様 (GPS) 表面テクスチャ面パート 604 非接触公称特性評価 (コヒーレンス走査干渉計) 機器 (ISO 25178-604-2013) ドイツ語版 EN ISO 25178-604-2013

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, 百面スキャニング

EN 61101:1993 5 MHz ～ 15 MHz の周波数範囲での平面スキャン技術を使用したハイドロフォンの絶対校正