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電子顕微鏡での分析方法

電子顕微鏡での分析方法は全部で 70 項標準に関連している。

電子顕微鏡での分析方法 国際標準分類において、これらの分類:非鉄金属、 分析化学、 語彙、 光学機器、 金属材料試験、 教育する、 光学および光学測定、 繊維、 ゴムやプラスチックの原料。


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 電子顕微鏡での分析方法

International Organization for Standardization (ISO), 電子顕微鏡での分析方法

  • ISO/CD 25498:2023 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
  • ISO 15932:2013 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、語彙
  • ISO/CD 19214:2023 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用して、線形結晶の見かけの成長方向を決定する方法。
  • ISO 23420:2021 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、電子エネルギー損失分光分析のエネルギー分解能の決定方法
  • ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
  • ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語集
  • ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
  • ISO 25498:2018 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
  • ISO 24639:2022 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、電子エネルギー損失分光法による元素分析のためのエネルギースケーリング手順。
  • ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • ISO/CD 20263:2023 マイクロビーム解析と電子顕微鏡を用いた層状材料の断面画像における界面位置の決定方法
  • ISO 20263:2017 マイクロビーム解析 - 分析透過型電子顕微鏡 - 層状材料の断面画像における界面位置の決定方法
  • ISO 19214:2017 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡による糸状結晶の顕著な成長方向の決定方法
  • ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析、走査型電子顕微鏡法、写像性評価法
  • ISO 21466:2019 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、CD-SEM による臨界サイズの評価方法。
  • ISO 29301:2017 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡法、周期構造を持つ標準物質の画像倍率を校正する方法。

British Standards Institution (BSI), 電子顕微鏡での分析方法

  • BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
  • BS ISO 23420:2021 マイクロビーム分析、電子顕微鏡分析、電子エネルギー損失分光分析のエネルギー分解能の決定方法
  • BS ISO 24639:2022 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 電子エネルギー損失分光法 元素分析用のエネルギースケールの校正手順
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420 マイクロビーム分析 電子顕微鏡法 電子エネルギー損失分光法 エネルギー分解能の測定
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡 電子エネルギー損失分光法 元素分析用のエネルギースケールの校正手順
  • BS ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
  • BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
  • BS ISO 20263:2017 マイクロビーム解析と電子顕微鏡を用いた層状材料の断面画像における界面位置の決定方法
  • BS ISO 21466:2019 マイクロビーム解析 走査型電子顕微鏡 CDSEM 限界寸法を評価する方法
  • BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド

Association Francaise de Normalisation, 電子顕微鏡での分析方法

  • NF ISO 15932:2014 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡の用語
  • NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡を使用した画像の鮮明さを評価する方法
  • XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像の鮮明さを評価する方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子顕微鏡での分析方法

  • GB/T 18907-2013 マイクロビーム解析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡、選択電子回折分析法
  • GB/T 18735-2014 マイクロビーム分析および分析電子顕微鏡 (AEM/EDS) 用のナノ薄標準の一般仕様
  • GB/T 18907-2002 透過型電子顕微鏡による電子回折分析法を採用
  • GB/T 25189-2010 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡エネルギー分光計の定量分析パラメータの決定方法
  • GB/T 18735-2002 分析電子顕微鏡 (AEM/EDS) 用のナノ薄標準の一般仕様
  • GB/T 17359-1998 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡を使用した X 線エネルギー分光法の定量分析の一般原理
  • GB/T 17362-2008 金製品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 27788-2011 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正のガイドライン。
  • GB/T 17362-1998 金宝飾品の走査型電子顕微鏡およびX線エネルギー分光分析法
  • GB/T 18295-2001 石油およびガス貯留層からの砂岩サンプルの走査型電子顕微鏡による分析方法
  • GB/T 14593-2008 カシミヤ、羊毛およびそれらの混合繊維の定量分析法 走査型電子顕微鏡法
  • GB/T 17507-1998 生物学的薄い標準サンプルの電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件
  • GB/T 18873-2002 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
  • GB/T 18873-2008 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則

工业和信息化部, 電子顕微鏡での分析方法

  • YB/T 4676-2018 透過型電子顕微鏡による鋼中の析出相の分析

KR-KS, 電子顕微鏡での分析方法

Professional Standard - Education, 電子顕微鏡での分析方法

Professional Standard - Petroleum, 電子顕微鏡での分析方法

  • SY/T 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
  • SY/T 5162-1997 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法
  • SY 5162-2014 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

国家能源局, 電子顕微鏡での分析方法

  • SY/T 5162-2021 走査型電子顕微鏡による岩石サンプルの分析方法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 電子顕微鏡での分析方法

  • GB/T 33834-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡による生体試料の分析方法

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 電子顕微鏡での分析方法

  • DB44/T 1527-2015 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡画像鮮鋭性評価法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 電子顕微鏡での分析方法

  • GB/T 35099-2018 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡・エネルギー分光法大気微粒子の単一粒子形態および元素分析
  • GB/T 27788-2020 マイクロビーム解析のための走査型電子顕微鏡画像の倍率校正に関するガイドライン

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 電子顕微鏡での分析方法

  • DB35/T 110-2000 電子プローブおよび走査型電子顕微鏡 塗装痕跡検出のためのX線エネルギー分光分析法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 電子顕微鏡での分析方法

  • JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子顕微鏡での分析方法

  • ASTM D3849-02 カーボンブラックの標準試験法 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態特性の解析
  • ASTM D3849-04 カーボンブラックの標準試験法 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態特性の解析




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