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顕微鏡スキャン

顕微鏡スキャンは全部で 8 項標準に関連している。

顕微鏡スキャン 国際標準分類において、これらの分類：非鉄金属、 塗料成分、 空気の質、 長さと角度の測定。

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 顕微鏡スキャン

• KS D 2714-2016 横力顕微鏡 走査型プローブ顕微鏡法

British Standards Institution (BSI), 顕微鏡スキャン

• 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式

American Society for Testing and Materials (ASTM), 顕微鏡スキャン

• ASTM D605-82(1996)e1 走査型電子顕微鏡による作業環境の空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準試験方法
• ASTM D6059-96(2011) 走査型電子顕微鏡による作業環境の空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を測定するための標準試験方法
• ASTM E2382-04(2020) 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナおよびチップ関連のアーティファクトに関する標準ガイド
• ASTM E2382-04 走査型トンネル顕微鏡および原子間力顕微鏡におけるスキャナーおよび接触関連アイテムのガイド

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 顕微鏡スキャン

• JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定 パート 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡

International Organization for Standardization (ISO), 顕微鏡スキャン

• ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別

その他：   走査型顕微鏡, フィールド走査型顕微鏡, 走査型顕微鏡, 走査型電子顕微鏡, ++++走査型プローブ顕微鏡, 走査型近接場顕微鏡, 走査型近接場顕微鏡, spm走査型顕微鏡, 走査型電子顕微鏡, 近接場走査型顕微鏡, トンネル走査型顕微鏡, 走査型電子顕微鏡, トンネル走査型顕微鏡, 走査型トンネル顕微鏡, 顕微鏡スキャン, 走査型近接場走査型光学顕微鏡, 顕微鏡スキャン, 走査型光学顕微鏡でスキャンする場合, プローブ走査型顕微鏡の価格はいくらですか?, 走査型トンネル顕微鏡.