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電子顕微鏡法

電子顕微鏡法は全部で 20 項標準に関連している。

電子顕微鏡法 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 長さと角度の測定、 航空宇宙用電気機器およびシステム、 光学および光学測定、 光学機器。

International Organization for Standardization (ISO), 電子顕微鏡法

• ISO 19463:2018 マイクロビーム分析、電子プローブマイクロアナライザー (EPMA)、品質保証手順を実行するためのガイドライン。
• ISO/CD 25498:2023 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
• ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子顕微鏡法

• GB/T 17361-2013 マイクロビーム分析を用いた堆積岩中の自生粘土鉱物の同定のための走査型電子顕微鏡とエネルギー分光計法
• GB/T 20726-2015 マイクロビーム分析の主な性能パラメータと検証方法 電子プローブマイクロ分析 X線エネルギー分光計
• GB/T 26097-2010 デジタル表示インダクタンスマイクロメータ
• GB/T 22094-2008 電子デジタル表示高度計

British Standards Institution (BSI), 電子顕微鏡法

• 19/30394914 DC BS ISO 15632 マイクロビーム分析 電子プローブ顕微鏡または電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) 用のエネルギー分散型 X 線分光計の検査用の仕様および選択された機器性能パラメータ
• BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析

Professional Standard - Machinery, 電子顕微鏡法

• JB/T 10014-1999 デジタル表示インダクタンスマイクロメータ
• JB/T 5480-1991 電子顕微鏡用絞り
• JB/T 5481-1991 電子顕微鏡用フィラメント

Defense Logistics Agency, 電子顕微鏡法

• DLA DSCC-DWG-80002 REV B-2005 電子ディスプレイ
• DLA DSCC-DWG-80007 REV A-2005 電子ディスプレイ
• DLA DSCC-DWG-80009 REV B-2005 電子ディスプレイ
• DLA DSCC-DWG-80038 REV A-2005 電子ディスプレイ
• DLA DSCC-DWG-80040 REV B-2005 電子ディスプレイ
• DLA DSCC-DWG-81001 REV A-2005 電子表示計器

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 電子顕微鏡法

• GB/T 33834-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡による生体試料の分析方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 電子顕微鏡法

• JIS K 0132:1997 走査型電子顕微鏡の一般原理

その他：   電子顕微鏡法, 顕微鏡, マイクロエレクトロニクス, 電子顕微鏡法, 電子顕微鏡法, 電子顕微鏡法, 電子顕微鏡画像, 電子マイクロプローブ分析装置, 電子微細構造, 電子顕微鏡システム, 電子顕微鏡法, 電子顕微鏡法, 電子顕微鏡法, 電子顕微鏡分析, 電子顕微鏡法, 顕微鏡, 電子マイクロプローブ, 透過電子顕微鏡法, 走査型電子顕微鏡, 電子透過顕微鏡.