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マイクロエレクトロニクス

マイクロエレクトロニクスは全部で 83 項標準に関連している。

マイクロエレクトロニクス 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、光学機器、光学および光学測定、語彙、空気の質、溶接、ロウ付け、低温溶接、計測学と測定の総合、教育する。

International Organization for Standardization (ISO), マイクロエレクトロニクス

ISO/CD 25498:2023 マイクロビーム分析分析電子顕微鏡法透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
ISO/CD 19214:2023 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用して、線形結晶の見かけの成長方向を決定する方法。
ISO 23420:2021 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、電子エネルギー損失分光分析のエネルギー分解能の決定方法
ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
ISO 25498:2018 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
ISO 19214:2017 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡による糸状結晶の顕著な成長方向の決定方法
ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析走査型電子顕微鏡定量的測定のための走査型電子顕微鏡の識別
ISO 22493:2014 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
ISO 24639:2022 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、電子エネルギー損失分光法による元素分析のためのエネルギースケーリング手順。
ISO 15932:2013 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、語彙
ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語集
ISO 21466:2019 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、CD-SEM による臨界サイズの評価方法。

British Standards Institution (BSI), マイクロエレクトロニクス

BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析分析電子顕微鏡法透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
BS ISO 23420:2021 マイクロビーム分析、電子顕微鏡分析、電子エネルギー損失分光分析のエネルギー分解能の決定方法
BS ISO 24639:2022 マイクロビーム分析分析電子顕微鏡法電子エネルギー損失分光法元素分析用のエネルギースケールの校正手順
BS ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
20/30380369 DC BS ISO 23420 マイクロビーム分析電子顕微鏡法電子エネルギー損失分光法エネルギー分解能の測定
18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式
21/30404763 DC BS ISO 24639 マイクロビーム分析分析電子顕微鏡電子エネルギー損失分光法元素分析用のエネルギースケールの校正手順
BS ISO 15932:2013 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、語彙
BS ISO 22493:2014 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
BS ISO 21466:2019 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 CDSEM 限界寸法を評価する方法
BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, マイクロエレクトロニクス

GB/T 18907-2002 透過型電子顕微鏡による電子回折分析法を採用
GB/T 18907-2013 マイクロビーム解析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡、選択電子回折分析法
GB/T 23414-2009 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語
GB/T 43610-2023 マイクロビーム分析と電子顕微鏡を使用して線状結晶の見かけの成長方向を決定する透過型電子顕微鏡法
GB/T 21636-2008 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析 (EPMA) の用語
GB 7667-1996 電子顕微鏡 X線漏洩線量
GB 7667-2003 電子顕微鏡 X線漏洩線量

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), マイクロエレクトロニクス

KS D ISO TR 17270:2007 マイクロビーム解析-分析透過型電子顕微鏡-電子エネルギー損失分光法実験パラメータ決定技術報告書
KS D ISO 22493-2012(2017) マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡用語集
KS D ISO 22493:2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
KS D ISO 22493:2012 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語
KS D ISO 23833:2022 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析 (EPMA)、用語集
KS I 0051-1999(2019) 走査型電子顕微鏡の一般規則
KS M 0044-1999 走査型電子顕微鏡の一般規則
KS D ISO 16700-2013(2018) マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像倍率校正ガイド
KS I 0051-1999 走査型電子顕微鏡検査法の一般原則

KR-KS, マイクロエレクトロニクス

KS D ISO TR 17270-2007 マイクロビーム解析-分析透過型電子顕微鏡-電子エネルギー損失分光法実験パラメータ決定技術報告書
KS D ISO 22493-2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
KS D ISO 23833-2022 マイクロビーム分析、電子プローブ微量分析 (EPMA)、用語集
KS D ISO 16700-2023 マイクロビーム分析用走査型電子顕微鏡画像倍率校正ガイド

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, マイクロエレクトロニクス

GB/T 33834-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡による生体試料の分析方法
GB/T 33838-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡画像鮮鋭度評価法

Association Francaise de Normalisation, マイクロエレクトロニクス

NF X21-016*NF ISO 15932:2014 マイクロビーム分析分析電子顕微鏡用語
NF ISO 15932:2014 マイクロビーム分析分析電子顕微鏡の用語
NF X21-010:2009 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語彙
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡を使用した画像の鮮明さを評価する方法
XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像の鮮明さを評価する方法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, マイクロエレクトロニクス

GB/T 40300-2021 マイクロビーム分析分析電子顕微鏡用語
GB/T 35098-2018 マイクロビーム解析透過電子顕微鏡法透過電子顕微鏡法植物ウイルスの形態の同定
GB/T 21636-2021 マイクロビーム分析電子プローブ微量分析 (EPMA) の用語

Professional Standard - Machinery, マイクロエレクトロニクス

JB/T 5480-1991 電子顕微鏡用絞り
JB/T 5481-1991 電子顕微鏡用フィラメント
JB/T 9352-1999 透過型電子顕微鏡検査方法
JB/T 6842-1993 走査型電子顕微鏡検査方法
JB/T 5383-1991 透過型電子顕微鏡の技術条件
JB/T 5384-1991 走査型電子顕微鏡。技術的条件
JB/T 5584-1991 透過型電子顕微鏡倍率試験方法
JB/T 5585-1991 透過型電子顕微鏡分解能試験方法
JB/T 5586-1991 透過型電子顕微鏡の分類と基本パラメータ

American Society for Testing and Materials (ASTM), マイクロエレクトロニクス

ASTM E2090-00 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
ASTM E2090-12 光電子顕微鏡および走査型電子顕微鏡を使用して、クリーンルームのスクラバーツールから放出される粒子および繊維のサイズの違いを計数するための標準的な試験方法
ASTM E766-98(2003) 走査型電子顕微鏡の倍率の校正
ASTM E766-98 走査型電子顕微鏡の倍率の校正

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), マイクロエレクトロニクス

JIS K 0132:1997 走査型電子顕微鏡の一般原理
JIS K 3850-1:2006 浮遊繊維分子の測定パート 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
JIS K 3850-1:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法その 1: 光学顕微鏡と走査型電子顕微鏡
JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

Association of German Mechanical Engineers, マイクロエレクトロニクス

DVS 2803-1974 顕微鏡下での電子ビーム溶接（調査）

CN-STDBOOK, マイクロエレクトロニクス

图书 a-4565 電子顕微鏡分析の実践方法

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, マイクロエレクトロニクス

JJF 1916-2021 走査型電子顕微鏡の校正仕様

Group Standards of the People's Republic of China, マイクロエレクトロニクス

T/CSTM 00162-2020 透過型電子顕微鏡の校正方法

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, マイクロエレクトロニクス

JJG(地质) 1016-1990 透過型電子顕微鏡の校正手順
JJG(教委) 11-1992 走査型電子顕微鏡の校正手順
JJG(教委) 12-1992 透過型電子顕微鏡の校正手順
JJG 550-1988 走査型電子顕微鏡のパイロット校正手順

Professional Standard - Education, マイクロエレクトロニクス

JY/T 011-1996 透過型電子顕微鏡法の一般原理
JY/T 0581-2020 透過型電子顕微鏡分析法の通則
JY/T 0584-2020 走査型電子顕微鏡分析法の一般原則
JY/T 010-1996 分析走査型電子顕微鏡法の一般原理

RU-GOST R, マイクロエレクトロニクス

GOST 21006-1975 電子顕微鏡、用語、定義、およびアルファベット記号