ZH
EN
ES
Микроэлектроника
Микроэлектроника, Всего: 80 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Микроэлектроника, являются: Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Словари, Качество воздуха, Сварка, пайка и пайка, Метрология и измерения в целом, Образование.
International Organization for Standardization (ISO), Микроэлектроника
- ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
- ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO 22493:2014 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии потерь энергии электронов.
- ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарь.
- ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
British Standards Institution (BSI), Микроэлектроника
- BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
- BS ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
- BS ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
- BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- 20/30380369 DC BS ISO 23420. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра энергетических потерь электронов
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- 21/30404763 DC BS ISO 24639. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
- BS ISO 15932:2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Словарный запас
- BS ISO 22493:2014 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
- BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Микроэлектроника
- GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
- GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- GB/T 23414-2009 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- GB/T 21636-2008 Микролучевой анализ.Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА).Словарь.
- GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
- GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Микроэлектроника
- KS D ISO TR 17270:2007 Микролучевой анализ-Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия-Технический отчет по определению экспериментальных параметров для спектроскопии потерь энергии электронов
- KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS D ISO 23833:2022 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА). Словарь.
- KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
- KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
KR-KS, Микроэлектроника
- KS D ISO TR 17270-2007 Микролучевой анализ-Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия-Технический отчет по определению экспериментальных параметров для спектроскопии потерь энергии электронов
- KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS D ISO 23833-2022 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА). Словарь.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Микроэлектроника
- GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 33838-2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
Association Francaise de Normalisation, Микроэлектроника
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Микроэлектроника
- GB/T 40300-2021 Микролучевой анализ — Аналитическая электронная микроскопия — Словарь
- GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- GB/T 21636-2021 Микролучевой анализ — Электронно-зондовый микроанализ (ЭПМА) — Словарь
Professional Standard - Machinery, Микроэлектроника
- JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
- JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
- JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
- JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
- JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
- JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа
American Society for Testing and Materials (ASTM), Микроэлектроника
- ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Микроэлектроника
- JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
Association of German Mechanical Engineers, Микроэлектроника
CN-STDBOOK, Микроэлектроника
- 图书 a-4565 Практические методы электронного микроанализа
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Микроэлектроника
- JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
Group Standards of the People's Republic of China, Микроэлектроника
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Микроэлектроника
Professional Standard - Education, Микроэлектроника
- JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
- JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии
- JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
RU-GOST R, Микроэлектроника
- GOST 21006-1975 Электронные микроскопы. Термины, определения и буквенные обозначения