ZH

EN

ES

электронная микроскопия

электронная микроскопия, Всего: 78 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к электронная микроскопия, являются: Продукция химической промышленности, Производство металлов, Испытание металлов, Качество воздуха, Линейные и угловые измерения, Обработка поверхности и покрытие, Аналитическая химия, Материалы для армирования композитов, Оптическое оборудование, Словари, Защита от преступности, Физика. Химия, Метрология и измерения в целом, Оптика и оптические измерения, Образование.


Japanese Industrial Standards Committee (JISC), электронная микроскопия

  • JIS H 7804:2005 Метод определения размера частиц в металлических катализаторах с помощью электронного микроскопа
  • JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
  • JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
  • JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
  • JIS K 3850-3:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
  • JIS K 3850-2:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 2. Метод просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом.

VN-TCVN, электронная микроскопия

  • TCVN 6502-1999 Атмосферный воздух.Определение асбестовых частиц.Метод прямотрансферной просвечивающей электронной микроскопии.

British Standards Institution (BSI), электронная микроскопия

  • BS ISO 10312:1995 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии
  • BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
  • BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • BS ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
  • BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
  • BS ISO 13794:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
  • BS ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии
  • BS ISO 14966:2019 Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
  • 18/30375050 DC BS ISO 14966. Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии

工业和信息化部, электронная микроскопия

  • YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Education, электронная микроскопия

  • JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
  • JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
  • JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии
  • JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), электронная микроскопия

  • KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
  • KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие-Измерение толщины покрытия-Метод просвечивающей электронной микроскопии
  • KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
  • KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
  • KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
  • KS I ISO 10312:2008 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • KS I ISO 13794:2008 Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
  • KS I ISO 10312-2008(2018) Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод прямой просвечивающей электронной микроскопии
  • KS I ISO 13794-2008(2018) Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
  • KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, электронная микроскопия

  • DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок

International Organization for Standardization (ISO), электронная микроскопия

  • ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
  • ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
  • ISO 13794:1999 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • ISO 10312:1995 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
  • ISO 13794:2019 Атмосферный воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
  • ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • ISO 14966:2019 Воздух окружающий. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
  • ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • ISO 14966:2002/cor 1:2007 Воздух атмосферный - Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц - Метод сканирующей электронной микроскопии; Техническое исправление 1

Group Standards of the People's Republic of China, электронная микроскопия

  • T/CSTM 00166.3-2020 Характеристика графеновых материалов. Часть 3. Просвечивающий электронный микроскоп
  • T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа

European Committee for Standardization (CEN), электронная микроскопия

  • EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
  • EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
  • prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

Association Francaise de Normalisation, электронная микроскопия

  • NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
  • NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
  • NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
  • NF ISO 13794:2020 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • NF ISO 10312:2020 Окружающий воздух. Количественное определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • NF X43-050:2021 Качество воздуха. Определение концентрации асбестового волокна методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.

Danish Standards Foundation, электронная микроскопия

  • DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

German Institute for Standardization, электронная микроскопия

  • DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
  • DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.

AENOR, электронная микроскопия

  • UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).
  • UNE 77236:1999 ОКРУЖАЮЩИЙ ВОЗДУХ. ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ АСБЕСТОВЫХ ВОЛОКОН. МЕТОД ПРЯМОТРАНСФЕРНОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ.

Lithuanian Standards Office , электронная микроскопия

  • LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)

AT-ON, электронная микроскопия

  • OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, электронная микроскопия

  • GB/T 19267.6-2003 Физическое и химическое исследование следов доказательств в судебной медицине. Часть 6. Сканирующая электронная микроскопия.
  • GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов

Association of German Mechanical Engineers, электронная микроскопия

  • VDI 3861 Blatt 2-2008 Выбросы из стационарных источников. Измерение неорганических волокнистых частиц в выхлопных газах. Метод сканирующей электронной микроскопии.
  • VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
  • VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.

Professional Standard - Machinery, электронная микроскопия

  • JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
  • JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа

SE-SIS, электронная микроскопия

  • SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, электронная микроскопия

  • GJB 5384.22-2005 Методы испытаний работоспособности пиротехнических составов Часть 21. Определение концентрации количества твердых частиц дыма Метод электронной микроскопии
  • GJB 5384.23-2005 Методы испытаний работоспособности пиротехнических составов Часть 23. Определение гранулометрического состава твердых частиц дыма Метод электронной микроскопии

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, электронная микроскопия

  • GJB 8684.22-2015 Методы испытаний пиротехнических свойств. Часть 22. Определение числовой концентрации твердых частиц дыма методом электронной микроскопии.
  • GJB 8684.23-2015 Методы испытаний пиротехнических свойств. Часть 23. Определение гранулометрического состава твердых частиц дыма методом электронной микроскопии.

CN-STDBOOK, электронная микроскопия

  • 图书 a-4565 Практические методы электронного микроанализа

ES-UNE, электронная микроскопия

  • UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)

Professional Standard - Commodity Inspection, электронная микроскопия

  • SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.