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マイクロエレクトロニクス画像

マイクロエレクトロニクス画像は全部で 14 項標準に関連している。

マイクロエレクトロニクス画像 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 光学機器。

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, マイクロエレクトロニクス画像

• GB/T 33838-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡画像鮮鋭度評価法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), マイクロエレクトロニクス画像

• KS D ISO 16700-2013(2018) マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像倍率校正ガイド
• KS D ISO 16700:2013 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

KR-KS, マイクロエレクトロニクス画像

• KS D ISO 16700-2023 マイクロビーム分析用走査型電子顕微鏡画像倍率校正ガイド

Association Francaise de Normalisation, マイクロエレクトロニクス画像

• XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡を使用した画像の鮮明さを評価する方法
• XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 画像の鮮明さを評価する方法
• NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

British Standards Institution (BSI), マイクロエレクトロニクス画像

• BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の画像倍率を校正するためのガイド
• BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、画像倍率校正ガイド。
• 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き画像ファイル形式

International Organization for Standardization (ISO), マイクロエレクトロニクス画像

• ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
• ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。
• ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析、走査型電子顕微鏡法、写像性評価法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), マイクロエレクトロニクス画像

• JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された画像倍率のガイド。

その他：   顕微鏡画像, 電子顕微鏡像, マイクロエレクトロニクス, 画像顕微鏡, 画像顕微鏡, 顕微鏡画像解析, 電子顕微鏡像, 電子顕微鏡画像, 電子画像 画像, 電子顕微鏡画像, 電子画像, 電子画像, 電子顕微鏡法, 電子顕微鏡法, マイクロエレクトロニクス画像, 顕微鏡画像, 透過型電子顕微鏡像, 画像顕微鏡検査, 透過電子像, 画像走査型顕微鏡.