ZH
EN
KR
ES
RU
DE

高分解能透過型電子顕微鏡の構造

高分解能透過型電子顕微鏡の構造は全部で 33 項標準に関連している。

高分解能透過型電子顕微鏡の構造 国際標準分類において、これらの分類：光学および光学測定、分析化学、金属材料試験、光学機器、空気の質、危険物保護。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 高分解能透過型電子顕微鏡の構造

GB/Z 21738-2008 一次元ナノ材料の基本構造高分解能透過型電子顕微鏡検出法
GB/T 18873-2002 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
GB/T 18873-2008 生物学的薄いサンプルの透過電子顕微鏡法と X 線分光法の定量分析の一般原則
GB/T 17507-2008 生物学的薄膜標準の透過型電子顕微鏡および X 線エネルギー分光分析の一般的な技術条件

Professional Standard - Machinery, 高分解能透過型電子顕微鏡の構造

JB/T 5585-1991 透過型電子顕微鏡分解能試験方法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 高分解能透過型電子顕微鏡の構造

GB/T 35098-2018 マイクロビーム解析透過電子顕微鏡法透過電子顕微鏡法植物ウイルスの形態の同定

工业和信息化部, 高分解能透過型電子顕微鏡の構造

YB/T 4676-2018 透過型電子顕微鏡による鋼中の析出相の分析

International Organization for Standardization (ISO), 高分解能透過型電子顕微鏡の構造

ISO/CD 19214:2023 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用して、線形結晶の見かけの成長方向を決定する方法。
ISO 19214:2017 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡による糸状結晶の顕著な成長方向の決定方法
ISO 29301:2010 マイクロビーム分析分析透過型電子顕微鏡法周期構造を持つ標準物質の画像倍率を校正する方法
ISO 21363:2020 ナノテクノロジー - 透過型電子顕微鏡による粒度分布測定のプロトコル
ISO 20263:2017 マイクロビーム解析 - 分析透過型電子顕微鏡 - 層状材料の断面画像における界面位置の決定方法
ISO 29301:2017 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡法、周期構造を持つ標準物質の画像倍率を校正する方法。
ISO/FDIS 29301:2023 マイクロビーム解析周期構造を有する標準物質を使用した画像倍率の校正のための分析電子顕微鏡法
ISO 29301:2023 マイクロビーム解析周期構造を有する標準物質を使用した画像倍率の校正のための分析電子顕微鏡法

European Committee for Standardization (CEN), 高分解能透過型電子顕微鏡の構造

EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジー - 透過型電子顕微鏡による粒度分布測定のプロトコル

American Society for Testing and Materials (ASTM), 高分解能透過型電子顕微鏡の構造

ASTM D5755-95 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト構造値濃度の間接分析のための標準的な試験方法
ASTM D5755-02 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト構造値濃度の間接分析のための標準的な試験方法
ASTM D5755-03 表面荷重のアスベスト構造値を使用した、微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡による粉塵の間接分析の標準試験方法
ASTM D5755-09 表面荷重のアスベスト構造値を使用した、微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡による粉塵の間接分析の標準試験方法
ASTM D5755-09(2014)e1 表面荷重のアスベスト構造値を使用した、微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡による粉塵の間接分析の標準試験方法
ASTM D6480-05(2010) 透過型電子顕微鏡による表面拭き取りサンプル中のアスベスト構造値濃度の間接的調製および分析のための標準試験方法
ASTM D6480-05 表面ワイプのサンプリング、間接的な準備、および透過型電子顕微鏡によるアスベスト構造数密度の分析のための標準試験方法
ASTM D5756-02 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト質量濃度の間接分析のための標準試験方法
ASTM D5756-95 微小真空サンプリングおよび透過型電子顕微鏡を使用した粉塵中のアスベスト質量濃度の間接分析のための標準試験方法
ASTM D6480-19 ワイプサンプリング、間接前処理、透過型電子顕微鏡によるアスベスト構造表面の分析のための標準試験方法
ASTM D5756-02(2008) 微小真空サンプリングの標準試験方法と透過型電子顕微鏡による粉塵中のアスベストブロックの表面負荷の間接分析

British Standards Institution (BSI), 高分解能透過型電子顕微鏡の構造

BS ISO 29301:2010 マイクロビーム分析、分析透過型電子顕微鏡、周期構造を持つ標準物質を使用して画像倍率を校正する方法。
BS ISO 29301:2017 分析電子顕微鏡用の周期構造を有する標準物質を使用して画像倍率を校正するためのマイクロビーム解析法
BS ISO 29301:2023 分析電子顕微鏡用の周期構造を有する標準物質を使用して画像倍率を校正するためのマイクロビーム解析法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 高分解能透過型電子顕微鏡の構造

GB/T 34002-2017 マイクロビーム解析透過型電子顕微鏡用周期構造標準物質を用いた像倍率の校正方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 高分解能透過型電子顕微鏡の構造

JIS K 3850-3:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法その 3: 間接転写透過型電子顕微鏡
JIS K 3850-2:2000 空気中の繊維状粒子の測定方法その 2: 直接転写透過型電子顕微鏡