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고해상도 투과전자현미경의 구조

모두 33항목의 고해상도 투과전자현미경의 구조와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 고해상도 투과전자현미경의 구조와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 및 광학 측정, 분석 화학, 금속 재료 테스트, 광학 장비, 공기질, 위험물 보호.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 고해상도 투과전자현미경의 구조

GB/Z 21738-2008 1차원 나노물질의 기본구조, 고해상도 투과전자현미경 검출방법
GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건

Professional Standard - Machinery, 고해상도 투과전자현미경의 구조

JB/T 5585-1991 투과전자현미경 분해능 시험방법

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 고해상도 투과전자현미경의 구조

GB/T 35098-2018 마이크로빔 분석 투과전자현미경 투과전자현미경 식물 바이러스 형태 식별

工业和信息化部, 고해상도 투과전자현미경의 구조

YB/T 4676-2018 투과전자현미경을 이용한 철강의 석출상 분석

International Organization for Standardization (ISO), 고해상도 투과전자현미경의 구조

ISO/CD 19214:2023 마이크로빔 분석, 분석전자현미경 및 투과전자현미경을 사용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 방법.
ISO 19214:2017 마이크로빔 분석분석전자현미경투과전자현미경을 통해 사상 결정의 중요한 성장 방향을 결정하는 방법
ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석 투과 전자 현미경 방법 주기적인 구조를 가진 기준 물질의 보정된 이미지 확대 방법
ISO 21363:2020 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 분포 측정 프로토콜
ISO 20263:2017 마이크로빔 분석 - 분석 투과 전자 현미경 - 적층 재료의 단면 이미지에서 계면 위치 결정 방법
ISO 29301:2017 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 주기적인 구조를 가진 기준 물질의 이미지 배율을 교정하는 방법
ISO/FDIS 29301:2023 주기적인 구조를 갖는 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 보정하기 위한 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 방법
ISO 29301:2023 주기적인 구조를 갖는 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 보정하기 위한 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 방법

European Committee for Standardization (CEN), 고해상도 투과전자현미경의 구조

EN ISO 21363:2022 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 분포 측정 프로토콜

American Society for Testing and Materials (ASTM), 고해상도 투과전자현미경의 구조

ASTM D5755-95 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 구조값 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-02 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 구조값 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-03 표면 하중에 대한 석면 구조값을 이용한 투과전자현미경에 의한 먼지의 미세 진공 샘플링 및 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-09 표면 하중에 대한 석면 구조값을 이용한 투과전자현미경에 의한 먼지의 미세 진공 샘플링 및 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-09(2014)e1 표면 하중에 대한 석면 구조값을 이용한 투과전자현미경에 의한 먼지의 미세 진공 샘플링 및 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D6480-05(2010) 투과 전자 현미경을 통한 표면 닦음 샘플의 석면 구조적 값 농도의 간접 준비 및 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6480-05 표면 닦기 샘플링, 간접 준비 및 투과 전자 현미경을 통한 석면 구조수 밀도 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5756-02 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 질량 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5756-95 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 질량 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D6480-19 투과전자현미경을 통한 석면 구조 표면의 와이프 샘플링, 간접 준비 및 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D5756-02(2008) 투과전자현미경을 통한 미세 진공 샘플링 및 먼지 내 석면 블록의 표면 부하에 대한 간접 분석을 위한 표준 테스트 방법

British Standards Institution (BSI), 고해상도 투과전자현미경의 구조

BS ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석적 투과전자현미경 주기적인 구조를 가진 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 교정하는 방법.
BS ISO 29301:2017 분석전자현미경을 위한 주기적인 구조를 갖는 기준물질을 이용한 이미지 배율 보정을 위한 마이크로빔 분석 방법
BS ISO 29301:2023 분석전자현미경을 위한 주기적인 구조를 갖는 기준물질을 이용한 이미지 배율 보정을 위한 마이크로빔 분석 방법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 고해상도 투과전자현미경의 구조

GB/T 34002-2017 마이크로빔 분석 투과전자현미경을 위한 주기구조 표준물질을 이용한 이미지 배율 보정 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 고해상도 투과전자현미경의 구조

JIS K 3850-3:2000 공기 중 섬유 입자 측정 방법 3부: 간접 전달 투과 전자 현미경
JIS K 3850-2:2000 공기 중 섬유상 입자 측정 방법 2부: 직접 전달 투과 전자 현미경