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xps 表面原子

xps 表面原子は全部で 500 項標準に関連している。

xps 表面原子 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 長さと角度の測定、 シャーシ、ケーシング、その他機械部品、 半導体材料、 スポーツ用品と施設、 製図、 化学製品、 原子力工学、 木材、丸太、製材品、 熱処理、 表面処理・メッキ、 水質、 絶縁流体、 セラミックス、 ブラックメタル、 道路工事、 金属腐食、 真空技術、 皮革技術、 絶縁、 ガラス、 電子機器、 ボトル、瓶、壺、 総合電子部品、 繊維製品、 無機化学、 物理学、化学、 石油製品総合、 採掘と発掘、 包括的なテスト条件と手順、 フィルター、 ゴム・プラスチック製品、 放射線測定、 塗装工程、 製造成形工程、 家具、 断熱材、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 放射線防護、 力、重力、圧力の測定、 検査医学、 光学および光学測定、 電子部品および部品、 医療機器、 消防、 コンデンサ、 電子機器用機械部品、 光学機器、 計測学と測定の総合、 電子および通信機器用の電気機械部品、 金属鉱石、 情報技術の応用、 建材、 微生物学、 電気および電子試験。

Association Francaise de Normalisation, xps 表面原子

• NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
• NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) でのデータロギングとレポート
• NF M64-100:1992 原子炉機械および装置 設計および製造規則 原子炉機械および装置のコバルト合金固溶体表面硬化処理
• NF X21-070*NF ISO 14237:2010 表面化学分析、二次イオン質量分析、均一なドーピング種を使用したシリコン内のホウ素原子濃度の測定。
• NF ISO 14237:2010 表面化学分析 均一にドープされた材料を使用したシリコン内のホウ素原子線量の二次イオン質量分析分析
• NF T73-250:1983 界面活性剤、カチオン性界面活性剤、水への溶解度の測定
• NF C83-240/A1:1987 電子部品 表面実装抵抗器
• NF EN 14480:2004 界面活性剤 アニオン性界面活性剤の定量 二相電位差滴定
• NF EN ISO 19076:2023 皮革、皮革表面測定、電子技術
• NF EN 14668:2005 界面活性剤原料および調製物中の第 4 級アンモニウム界面活性剤の定量 二相電位差滴定
• NF T73-260:1981 界面活性剤、洗剤、陰イオン界面活性剤の生分解性の測定
• NF T73-270:1983 界面活性剤、洗剤、非イオン界面活性剤の生分解性の測定
• NF T73-422:1986 界面活性剤 界面活性剤の非イオン性混合物 曇点温度 (曇点) の測定
• NF EN 13955:2003 界面活性剤 - イオン性界面活性剤のクラフト特性と溶解性の測定
• NF EN 1890:2006 界面活性剤エチレンオキシド縮合非イオン界面活性剤の曇点の測定
• NF EN 13273:2001 界面活性剤高速液体クロマトグラフィー (HPLC) によるアニオン性界面活性剤中の非イオン性物質の測定
• NF ISO 13472-1:2022 音響 - 舗装の吸音特性の現場測定 - 第 1 部: 拡張表面法
• NF T73-287*NF EN 14480:2004 界面活性剤の定量 陰イオン界面活性剤 電位差測定 二相滴定法
• NF T73-263*NF EN 13273:2001 界面活性剤. 高速液体クロマトグラフィー (HPLC) によるアニオン性界面活性剤中の非イオン性物質の定量
• NF T01-001:1962 化学産業、元素の名前と記号、関連する原子表
• NF T73-265:1983 界面活性剤中の陰イオン界面活性剤の生分解性の標準的な測定方法
• NF T73-276:1983 界面活性剤 洗剤 非イオン界面活性剤 生分解性の測定 ベンチマーク法
• NF G52-022*NF EN ISO 19076:2016 皮革 電子技術を活用した皮革表面測定
• NF EN ISO 128-3:2022 技術製品ドキュメント (TPD) - 表現の一般原則 - パート 3: ビュー、セクション、およびセクション
• NF T73-411:1980 アニオン性およびノニオン性界面活性剤 臨界ミセル濃度の決定 プレート、ペダルクランプまたはリングを使用した表面張力の測定方法
• NF T73-403*NF EN 1890:2006 エチレンオキシドの縮合により得られる非イオン界面活性剤の曇点の測定
• NF T73-403:1999 界面活性剤. エチレンオキシドの縮合から得られる非イオン性界面活性剤の曇点の測定
• NF E04-527:2001 技術図面 表現の一般原則 パート 50: セクションおよびセクション パーツ内の領域を表現するための基本規則
• NF T73-424*NF EN 13955:2003 界面活性剤. イオン性界面活性剤の臨界溶液温度 (クラフ点) と溶解度の決定
• NF EN 12139:1999 界面活性剤: HPLC/GC による非イオン性界面活性剤 (EO 縮合物) の総ポリエチレングリコール含有量の測定
• NF E04-526-1:2001 技術図面 表現の一般原則 パート 40: セクションとセクションの基本規則
• NF T73-290*NF EN 14668:2005 界面活性剤原料および配合製品中の第四級アンモニウム系界面活性剤の定量 電位差二相滴定法
• NF T73-414:1983 界面活性剤 カチオン性界面活性剤 (塩酸塩および臭化水素酸塩) 臨界ミセル化濃度の決定 アンチイオン活性の測定方法
• NF T73-410*NF EN ISO 4320:1997 非イオン性界面活性剤の曇点指数を決定するための容積測定法
• NF EN ISO 4320:1997 非イオン性界面活性剤。 ヘイズ指数の決定。 容量方式。
• NF T73-274*NF EN 12139:1999 界面活性剤. HPLC/GPC 法による非イオン性界面活性剤 (付加物) 中の総ポリエチレングリコール含有量の測定 (EN 12139)
• NF EN ISO 4528:2022 電子メールによるガラス化 - 部品の表面に電子メールを送信する方法を選択します
• NF M60-701*NF ISO 7503-1:2017 放射性測定面の汚染の測定と評価 第 1 部: 一般原則
• NF EN ISO 105-J01:2000 繊維生地固形分研究パート J01: 表面色測定の基本原理
• NF ISO 7503-1:2017 放射性測定 - 表面汚染の測定と評価 - パート 1: 一般原則
• NF S10-046:2012 光学およびフォトニクス - 光学部品の表面欠陥の試験方法
• NF T73-271:1978 非イオン界面活性剤 硫酸灰分重量法による測定
• NF S10-046*NF ISO 14997:2017 光学およびフォトニクス光学部品の表面欠陥の試験方法
• NF P23-307:1986 玄関ドアの組み合わせを行う建具製品用フラットリーフの仕様
• NF T73-293*NF EN 14880:2005 界面活性剤 アニオン性界面活性剤の無機硫酸塩含量の測定 鉛選択電極滴定法の電位差測定

British Standards Institution (BSI), xps 表面原子

• BS ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
• BS ISO 16531:2013 表面化学分析、深さプロファイリング、光電子分光法 (XPS) および原子発光分光法 (AES) の深さプロファイリングにおけるイオン ビーム校正および電流または電流密度の関連測定方法。
• 19/30364173 DC BS ISO 22581 XPS による表面化学分析 X 線光電子分光法調査スキャンからのほぼリアルタイムの情報のデータ管理と処理 表面汚染の特定と修正のルール
• BS ISO 16531:2020 表面化学分析 深さプロファイリング AES および XPS における深さプロファイリングのためのイオン ビーム アライメント法および関連する電流または電流密度の測定法
• BS ISO 23729:2022 表面化学分析 原子間力顕微鏡 有限プローブサイズ拡張のための画像回復手順のガイド
• 19/30399949 DC BS ISO 16531 表面化学分析における深さプロファイリングのためのイオンビームのアライメント方法、および AES および XPS における深さプロファイリングのための電流または電流密度の関連測定方法
• BS ISO 14237:2010 表面化学分析、二次イオン質量分析、均一なドーピング種を使用したシリコン内のホウ素原子濃度の測定。
• 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化学分析のための原子間力顕微鏡 プローブサイズの拡張を制限した原子間力顕微鏡の画像回復手順のガイド
• BS ISO 128-50:2001 技術的な図面 表現の一般原則 切断図および断面図における領域の表現の一般原則
• PD IEC/TS 62073:2016 絶縁体表面の疎水性を測定するためのガイドライン
• BS 6829-3.1:1989 界面活性剤（原料）分析：アルキルベンゼンスルホン酸ナトリウムの平均相対分子量の求め方
• BS ISO 24465:2023 表面化学分析用の表面プラズモン共鳴装置の最小検出能力の決定
• BS EN 13273:2001 界面活性剤 高速液体クロマトグラフィーによるアニオン性界面活性剤中の非イオン性物質含有量の測定。
• BS PD IEC/TS 62073:2016 絶縁体表面の疎水性を測定するためのガイドライン
• BS EN ISO 19076:2023 革の表面測定エレクトロニクス
• BS EN 14480:2004 界面活性剤 アニオン性界面活性剤の測定 電位差二相滴定法
• BS EN 14480:2004(2009) 界面活性剤 アニオン性界面活性剤の測定 電位差二相滴定法
• BS EN ISO 105-J01:2000 生地、堅牢度試験、表面色測定の一般原則
• BS EN 12139:1999 界面活性剤. HPLC/GPC 法による非イオン性界面活性剤中のポリエチレングリコール含有量の測定
• BS EN 12139:1999(2009) 界面活性剤. HPLC/GPC 法による非イオン性界面活性剤中のポリエチレングリコール含有量の測定
• BS EN 13955:2002 界面活性剤. イオン性界面活性剤のクラフト特性と溶解度の測定
• 21/30404376 DC BS ISO 24465。 表面化学分析。 表面プラズモン共鳴デバイスの最小検出能力の決定
• BS EN ISO 19076:2016 革、革の表面の測定、電子技術の使用
• BS ISO 6123-2:2015 ゴムまたはプラスチックでコーティングされたローラー 仕様 表面特性
• BS 6829-1.3:1988 界面活性剤（原料）の一般的な分析方法 アルカリ度の判定方法
• BS EN 12582:1999 界面活性剤 HPLC/ELSD 法による非イオン性界面活性剤 (エトキシ) のモル質量に基づくポリエチレングリコール含有量の測定
• BS EN 12582:1999(2009) 界面活性剤 HPLC/ELSD 法による非イオン性界面活性剤 (エトキシ) のモル質量に基づくポリエチレングリコール含有量の測定
• BS EN 1890:2006 界面活性剤. エチレンオキシドの縮合により得られる非イオン性界面活性剤の曇点の測定
• BS ISO 17293-2:2014 界面活性剤 界面活性剤中の残留クロロ酢酸 (クロロアセテート) の定量 イオンクロマトグラフィー法
• BS ISO 13095:2014 表面化学分析、原子間力顕微鏡、ナノ構造測定用の AFM プローブ ハンドル プロファイルのオンサイト識別手順。
• BS 8474:2006 家具、電動支持面を備えた椅子。
• BS 8474:2013 家具、電動支持面を備えた椅子。
• BS ISO 7503-1:2016 放射能の測定 表面汚染の測定と評価 一般原則
• BS EN ISO 128-3:2020 技術製品ドキュメントの表現の一般原則 ビュー、セクション、カットアウト
• BS ISO 16560:2015 界面活性剤 非イオン性エトキシ界面活性剤中のポリエチレングリコール含有量の測定 HPLC 法
• BS EN 14668:2005 界面活性剤 原料および配合製品中の第四級アンモニウム界面活性剤の定量 電位差二相滴定法
• BS EN 14668:2005(2006) 界面活性剤 原料および配合製品中の第四級アンモニウム界面活性剤の定量 電位差二相滴定法
• BS 6829-5.2:1989 界面活性剤（原料）分析 エトキシル化アルコールおよびアルキルフェノール硫酸エステルの平均相対分子量の推定方法
• BS EN 61192-2:2003 電子部品のはんだ付けのプロセス要件 表面実装部品
• 22/30396867 DC BS 750 地下消火栓表面ボックスフレームおよびカバーの仕様
• BS EN 62490-2:2010 ESL測定方法 電子機器用表面実装コンデンサ
• BS 6829-4.2:1989 界面活性剤（原料）分析 - エチレンオキサイド付加物ポリエチレングリコールと非イオン活性物質の含有量の測定
• BS EN ISO 4320:1998 非イオン性界面活性剤 曇点指数の測定 容積法
• BS 8480:2006 医療機器、電動支持面を備えた椅子、要件
• BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
• BS 6829-4.6:1988 界面活性剤（原料）の分析及びエチレンオキサイド付加物の水酸基価の求め方
• BS EN ISO 128-3:2022 Technical Product Documentation (TPD) の代表的な一般原則ビュー、セクション、およびカット
• BS ISO 8529-2:2000 標準中性子線 放射線場を特徴付ける基本量に関連する放射線防護機器の校正原則
• BS ISO 8529-2:2001 標準中性子線および放射線分野を特徴付ける基本量に関連する放射線防護機器の校正原理
• BS EN 14669:2005 界面活性剤 洗剤および洗浄剤中の銀イオン界面活性剤および石鹸の測定 電位差二相滴定法
• BS EN 14880:2005 界面活性剤 陰イオン界面活性剤中の無機硫酸塩含有量の測定 鉛電極電位差選択滴定法
• PD ISO/TR 23173:2021 表面化学分析 電子分光法 ナノ粒子コーティングの厚さと組成の測定
• BS EN ISO 13606-3:2019 医療情報学 電子医療記録通信リファレンス アーキタイプと用語集
• BS 6829-1.6:1991 界面活性剤（原料）の一般的な分析方法 水への溶解度の測定
• BS ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光分析、分析ガイド
• BS ISO 14997:2011 光学およびフォトニクス - 光学部品の表面欠陥の試験方法
• BS ISO 22048:2004 界面化学分析用の静的二次イオン質量分析の情報フォーマット
• DD ENV 14062-2-2001 ID カード システム、地上伝送アプリケーション、電子料金収受、メッセージ要件
• BS EN 903:1994 水質メチレンブルーインデックス MBAS 陰イオン界面活性剤の測定
• PD ISO/TR 18394:2016 表面化学分析からの化学情報の導出 オージェ電子分光法
• 22/30450211 DC BS EN ISO 19076 レザー 電子技術を使用したレザー表面測定
• BS ISO 14997:2017 光学およびフォトニクス光学部品の表面欠陥の試験方法
• BS DD ENV 14062-2:2001 ID カード システム、陸上輸送アプリケーション、電子料金収受、メッセージ要件

International Organization for Standardization (ISO), xps 表面原子

• ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
• ISO 16531:2013 表面化学分析 深さプロファイリング 原子発光分光法 (AES) および光電子分光法 (XPS) における深さプロファイリングのためのイオン ビーム補正および電流または電流密度の関連測定方法。
• ISO/CD 5861 表面化学分析 X線光電子分光法 水晶単色AlKa XPS装置強度校正法
• ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X線光電子分光法 水晶単色Al Kα XPS装置強度校正法
• ISO 16531:2020 表面化学分析 - 深さ分析 - イオン ビーム アライメント法および関連する電流または電流密度測定は、AES および XPS での深さ分析に使用されます。
• ISO 23729:2022 表面化学分析、原子間力顕微鏡法、限られたプローブサイズの拡大原子間力顕微鏡画像の回復手順のガイド。
• ISO 14237:2010 表面化学分析、二次イオン質量分析、均一なドーピング種を使用したシリコン内のホウ素原子濃度の測定。
• ISO 14237:2000 表面化学分析 二次イオン質量分析 均一なドーピング種を使用したシリコン内のホウ素原子濃度の測定
• ISO 19076:2023|IULTCS/IUP 58 革の表面測定エレクトロニクス
• ISO 1065:1991 エチレンオキシドと混合非イオン性界面活性剤から調製された非イオン性界面活性剤の曇点の測定
• ISO 19076:2023 皮革、皮革表面の測定、電子技術
• ISO 19076:2023 | IULTCS/IUP 58 革の表面測定エレクトロニクス
• ISO 24465:2023 表面化学分析 - 表面プラズモン共鳴装置の最小検出可能性の決定
• ISO 19076:2016 革、革の表面の測定、電子技術の使用
• ISO 19076:2016 | IULTCS/IUP 58 皮革 電子技術を活用した皮革表面測定
• ISO 13095:2014 表面化学分析、原子間力顕微鏡、ナノ構造測定用の AFM プローブ ハンドル プロファイルのオンサイト識別手順。
• ISO 6839:1982 陰イオン界面活性剤の水への溶解度の測定
• ISO 17293-2:2014 界面活性剤 界面活性剤中のクロロ酢酸 (クロロアセテート) の測定 パート 2: イオンクロマトグラフィー
• ISO 4311:1979 アニオン界面活性剤およびノニオン界面活性剤の臨界ミセル濃度の測定 平板、スターラップリングまたは円形リングを使用した表面張力の測定方法
• ISO 7875-1:1984 水質 界面活性剤の測定 パート 1: メチレンブルー分光法による陰イオン界面活性剤の測定
• ISO/DIS 19606:2023 ファインセラミックス（アドバンストセラミックス、先端技術セラミックス） 原子間力顕微鏡によるファインセラミックス膜の表面粗さ試験方法
• ISO 7875-2:1984 水質界面活性剤の測定その 2: デゲンドルフ試薬を使用した非イオン性界面活性剤の測定
• ISO 10110-12:2007 光学とフォトニクス 光学コンポーネントとシステムの図 パート 12: 非球面
• ISO 10810:2019 表面化学分析 - X 線光電子分光分析ガイド
• ISO 22048:2004 表面化学分析 - 静的二次イオン質量分析情報フォーマット
• ISO 4320:1977 非イオン性界面活性剤の曇点指数を決定するための容積測定法
• ISO 7875-1:1996 水質界面活性剤の定量その1：メチレンブルーインデックス測定法による陰イオン界面活性剤の定量
• ISO 16560:2015 高速液体クロマトグラフィーによる非イオン性エトキシル化界面活性剤中のポリエチレングリコール含有量の測定
• ISO 7503-1:2016 放射性物質の測定 表面汚染の測定と評価 パート 1: 一般原則
• ISO 105-J01:1997 繊維堅牢度試験パート J01 色表面測定の一般原則
• ISO/TR 18394:2016 表面化学分析、オージェ電子分光法、化学情報の抽出
• ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
• ISO 4322:1977 非イオン界面活性剤による硫酸灰分の重量測定法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, xps 表面原子

• GB/T 33502-2017 表面化学分析のための X 線光電子分光法 (XPS) データの記録とレポートの仕様要件
• GB/T 34326-2017 表面化学分析深さプロファイリング AES および XPS 深さプロファイリング イオンビームアライメント法およびそのビームまたはビーム密度測定法

Professional Standard - Agriculture, xps 表面原子

• 367药典 三部-2020 スケジュールアトミックテーブル
• 10药典 四部-2015 原子スケール
• 333药典 三部-2015 スケジュールアトミックテーブル一般章 224
• 1832药典 一部-2010 付録 XVII アトミックテーブル
• 2407药典 二部-2010 付録 XVIII 原子表
• 287药典 三部-2010 付録 XVI アトミックテーブル
• 893兽药典 一部-2015 付録 目次 アトミックテーブル
• 857兽药典 二部-2015 付録目次 原子表 (12C =12.00)
• SL/T 788.4-2019 パート 4: 水質の陰イオン界面活性剤と

RU-GOST R, xps 表面原子

• GOST R ISO 16243-2016 測定の一貫性を確保するための国家システム 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) データの記録と報告
• GOST R IEC 60447-2000 マンマシンサーフェイス 駆動原理
• GOST R 59695-2021 丸太表面人工木材サイディングの詳細仕様
• GOST 10898.5-1984 イオン交換体の比表面積の測定方法
• GOST R ISO 17925-2012 鋼表面上の亜鉛ベースおよび/またはアルミニウムベースのコーティング 単位面積あたりのコーティングの質量および化学組成の決定 重量法、誘導結合プラズマ原子発光分析法およびフレーム原子吸光分析法
• GOST R ISO 5906-1995 フィットネス機器、床運動面、マット
• GOST R 50346-1992 エチレンオキシドからなる非イオン性界面活性剤および混合非イオン性界面活性剤 曇点測定
• GOST 26028-1983 界面活性剤の暗色原料 酸価の測定
• GOST 29075-1991 原子力発電所で使用する原子力機器製造システム 一般要件
• GOST R ISO 16962-2012 鋼表面上の亜鉛ベースおよび/またはアルミニウムベースのコーティング グロー放電原子発光分光法を使用した、単位面積あたりのコーティングの厚さ、化学組成および品質の測定。
• GOST 30828-2002 カチオン性界面活性剤 活性物質の測定方法
• GOST R 50044-2009 電子機器および無線機器の表面実装用の電子部品 構造互換性要件
• GOST R 50044-1992 電子機器および無線機器の表面実装用電子部品の構造互換性要件
• GOST R 57367-2016 表面弾性波マイクロ音響エレクトロニクス、識別マーキング、一般仕様
• GOST 13873-1981 セラミック絶縁体 表面品質の要件と試験方法
• GOST R 59420-2021 光学部品の表面欠陥の光学およびフォトニクスによる視覚的制御
• GOST 25163-1982 界面活性剤. 非イオン性界面活性剤中の活性物質および遊離ポリエチレングリコールの測定方法
• GOST R 51018-1997 家庭用化学薬品 - 非イオン界面活性剤の測定方法
• GOST R 51022-1997 家庭用化学薬品 - 陰イオン界面活性剤の測定
• GOST 22567.5-1993 合成洗剤・界面活性剤 水素イオン濃度の測定
• GOST 32466-2013 家庭用化学薬品 非イオン界面活性剤の測定方法
• GOST 32442-2013 家庭用化学薬品 陰イオン界面活性剤の測定方法
• GOST 22567.5-1977 合成洗剤・界面活性剤の水素イオン濃度の測定

Group Standards of the People's Republic of China, xps 表面原子

• T/SPSTS 031-2023 グラフェン材料の表面電位測定 原子間力顕微鏡
• T/CSCP 0042-2019 陰極プラズマ電解表面処理による金属表面洗浄の技術仕様
• T/GVS 003-2021 真空表面処理プロセス用イオン源
• T/CBMCA 032-2022 マイナスイオン表面コーティング材の適用に関する技術基準
• T/CAMMT 28-2020 金属表面電解質プラズマ研磨加工仕様

SE-SIS, xps 表面原子

• SIS SMS 1435-1948 サーフェイスチゼル付き
• SIS SEN 02 08 42-1972 電気回路図のルール。 端子一覧
• SIS SS 675-1989 表面粗さ。 電子歯形記録装置による表面粗さ測定
• SIS SS IEC 295:1983 核実験装置。 DC核サイクル計の特性と試験方法

CZ-CSN, xps 表面原子

• CSN 03 8220-1984 塗料法の表面保護原則
• CSN 03 8220-1964 塗料を塗布する前の表面処理の原則
• CSN 34 8019-1961 絶縁体パテ表面研磨
• CSN 02 4625-1994 ころ軸受、組立面取付寸法
• CSN 68 1143-1994 界面活性剤と洗剤の試験方法。 陰イオン活性界面活性剤の測定
• CSN 64 0805-1966 専用漏斗から注入できない鋳造原料の面密度測定
• CSN 23 0001 2334-1957 ツールの割り当てと番号付け。 クラス 23: ブラシ、洗浄容器、表面およびブラシ、農業用ブラシ
• CSN 72 1519-1970 砂利床および表面仕上げ用の高品質の砂利材料

GM Europe, xps 表面原子

• GME QS 102200-1958 アインザッツシュタール 肌焼鋼 (旧オペル 1022)
• GME QS 311700-1966 アインザッツシュタール 肌焼鋼 (旧 OPEL 3117)
• GME QS 432100-2003 アインザッツシュタール 肌焼鋼、旧名 OPEL 4321
• GME QS 103700-1978 表面硬化用 Stahl fr Randschichthrtung 鋼 (旧 Opel 1037)
• GME QS 105200-1987 Vergtungsstahl fr Randschichthrtung 肌硬化熱処理鋼 (旧 Opel 1052) 英語翻訳あり

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, xps 表面原子

• GB/T 31227-2014 原子間力顕微鏡を用いたスパッタ膜の表面粗さの測定方法
• GB/T 24579-2009 酸浸出 原子吸光分析による多結晶シリコン表面の金属汚染物質の測定。
• GB/T 32189-2015 原子間力顕微鏡による窒化ガリウム単結晶基板の表面粗さの検査方法
• GB/T 20176-2006 表面化学分析、二次イオン質量分析、均一なドーピング種を使用したシリコン内のホウ素原子濃度の測定。
• GB/T 24916-2010 表面処理溶液、金属元素含有量の測定、誘導結合プラズマ原子発光分析法
• GB/T 13841-1992 電子セラミック部品の表面粗さ
• GB/T 24514-2009 鋼表面上の亜鉛系および/またはアルミニウム系コーティングの単位面積あたりのコーティング品質および化学組成の測定重量法、誘導結合プラズマ原子発光分析法およびフレーム原子吸光分析法。
• GB/T 6370-2012 界面活性剤、アニオン性界面活性剤、水への溶解度の測定
• GB/T 6370-1996 界面活性剤アニオン界面活性剤の水への溶解度の測定
• GB/T 24622-2009 絶縁体表面の濡れ性測定のガイドライン
• GB/T 29559-2013 表面化学分析 グロー放電原子発光分光分析 亜鉛および/またはアルミニウムベースの合金コーティングの分析
• GB/T 7383-2007 非イオン界面活性剤の水酸基価の測定
• GB/T 11277-2012 界面活性剤 非イオン性界面活性剤 曇点指数 (水価) の測定 容積法
• GB/T 8923.1-2011 コーティングを塗布する前のスチール表面の準備 表面の清浄度の目視評価 パート 1: コーティングされていないスチール表面および元のコーティングを完全に除去した後のスチール表面の腐食グレードと処理グレード。
• GB/T 27760-2011 Si(111) 結晶面の原子ステップを使用した原子間力顕微鏡のサブナノメートルの高さ測定を校正する方法
• GB/T 15818-1995 陰イオン界面活性剤および非イオン界面活性剤の生分解性の試験方法
• GB/T 22462-2008 鋼表面上のナノおよびサブミクロンスケールの膜 元素深さ分布の定量的決定 グロー放電原子発光分析
• GB/T 13173.3-1991 イオン交換法による洗剤中の非イオン界面活性剤含有量の測定
• GB/T 8923.2-2008 コーティング塗布前の鋼表面処理の表面清浄度の視覚的評価 パート 2: コーティングされた鋼表面から元のコーティングを部分的に除去した後の処理レベル
• GB/T 25187-2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメータの表現
• GB/T 19665-2005 電子赤外線画像人体表面温度計の一般仕様
• GB/T 18570.5-2005 塗装前の鋼表面処理の表面清浄度評価試験 その5 塗装前の鋼表面の塩化物の定量（イオン検知管法）
• GB/T 30704-2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
• GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 選択された機器の性能パラメーターの表現
• GB/T 17831-1999 非イオン界面活性剤による硫酸灰分の重量測定法
• GB/T 11989-2008 陰イオン界面活性剤 石油エーテル溶解量の測定
• GB/Z 32494-2016 表面化学分析 オージェ電子分光法 化学情報の解釈
• GB/T 5174-2004 界面活性剤および洗剤のカチオン活性含有量の測定

U.S. Military Regulations and Norms, xps 表面原子

• ARMY MIL-DTL-14072 F-2013 地上電子機器の表面処理

AENOR, xps 表面原子

• UNE 84030:2003 化粧品原料および化粧品界面活性剤の塩素イオン含有量の測定
• UNE 84028:2003 化粧品原料および化粧品用陰イオン界面活性剤中のホルムアルデヒドの測定
• UNE 55805:1985 界面活性剤アニオン界面活性剤の水への溶解度の測定
• UNE 55614:1984 界面活性剤である水酸化ナトリウムは洗剤配合物の原料として使用されます フレームレス原子吸光分析による水銀含有量の測定。
• UNE-EN 14480:2005 界面活性剤 アニオン性界面活性剤の定量 電位差二相滴定法
• UNE 55700:1982 界面活性剤 アニオン性およびノニオン性界面活性剤の臨界ミセル濃度の決定 プレート、スターラップ、またはリングを使用した表面張力の測定方法
• UNE 55752:1984 洗剤配合物の原料として使用される界面活性剤縮合リン酸塩 カルシウム含有量の測定 フレーム原子吸光分析法
• UNE 55541:1980 界面活性剤 非イオン性界面活性剤 - 硫酸灰分の重量測定法
• UNE-EN 13955:2003 界面活性剤のクラフ特性とイオン性界面活性剤の溶解度の測定
• UNE-EN 15543:2008 ガラス包装ボトルの表面処理 非炭酸液体ボトルのねじ部表面処理
• UNE-EN 14668:2005 界面活性剤原料および調製物中の第四級アンモニウム塩界面活性剤の定量：電位差二相滴定法
• UNE-EN 1890:2006 界面活性剤エチレンオキシドの縮合により調製される非イオン性界面活性剤の曇点の測定
• UNE 55803:1986 洗剤配合物の原料として界面活性剤が使用される化学製品中の塩素イオンを測定するための一般的な方法。
• UNE 55730:1982 界面活性剤ノニオン界面活性剤ポリエトキシル化誘導体無水酢酸法の水酸基価の測定
• UNE 55725:1987 界面活性剤 DRAGENDORFF 試薬を使用した水性媒体中の低濃度の非イオン性界面活性剤の定量
• UNE 55731:1982 界面活性剤、非イオン界面活性剤、ポリアルコキシル化誘導体の水酸基価の測定、無水フタル酸法
• UNE-EN 12139:1999 界面活性剤 HPLC/GPC による非イオン性界面活性剤 (EO 付加物) の総ポリエチレングリコール含有量の測定
• UNE 55844:1991 界面活性剤 洗剤の製造に使用される非イオン界面活性剤の生分解性の測定
• UNE 55523:1990 界面活性剤 界面活性剤の製造に使用される陰イオン界面活性剤の生分解性の測定
• UNE 55802:1985 界面活性剤 カチオン性界面活性剤（塩酸塩、臭化水素酸塩） 臨界ミセル化濃度の決定 対イオン活性の測定方法
• UNE 84029:2003 化粧品原料および化粧品用界面活性剤の滴定アルカリ度の測定
• UNE-EN 14669:2005 界面活性剤 洗剤およびクレンザー中の陰イオン界面活性剤および石鹸の定量 電位差二相滴定法

Standard Association of Australia （SAA）, xps 表面原子

• AS 3541.1:1988 合成競技場の表面 - 一般原則
• AS 3506:1987 水 - 合成陰イオン界面活性剤のろ過性の測定 - 銅-エチレンジアミンフレーム原子吸光分析
• AS/NZS 2891.14.4:1999 アスファルトのサンプリングと試験方法 - 磁場密度の測定 - 核表面水分 - 濃度計の校正 - 後方散乱モード
• AS ISO 14237:2006 表面化学分析。 二次イオン質量分析。 均一な絶縁材料を使用したシリコン中のホウ素原子濃度の測定
• AS IEC 62073:2005 絶縁体表面の濡れ性測定ガイドライン
• AS/NZS 2891.14.1.2:1999 アスファルトのサンプリングと試験方法 - フィールド密度の決定 - 核表面水分密度計を使用した圧延アスファルトのフィールド密度の決定
• AS/NZS 2891.14.1.1:1996 アスファルトのサンプリングと試験方法 - 電界密度実験 - 核表面湿度を使用 - 圧延アスファルトの電界密度を決定するための濃度計

(U.S.) Ford Automotive Standards, xps 表面原子

• FORD M99B149-A-1990 カチオン性界面活性剤

Professional Standard - Light Industry, xps 表面原子

• QB 1915-1993 カチオン性界面活性剤
• QB/T 4969-2016 電位差滴定法による界面活性剤原料および配合製品中のカチオン界面活性剤含有量の定量
• QB/T 4970-2016 電位差滴定による界面活性剤原料および配合製品中の陰イオン界面活性剤含有量の定量
• QB 938-1984 陰イオン界面活性剤の生分解性試験方法
• QB 939-1984 非イオン界面活性剤の生分解性試験方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), xps 表面原子

• KS A ISO 128-50:2014 技術図面 表現の一般原則 パート 50: 断面図および断面図における領域の表現の基本原則
• KS A ISO 128-50:2003 技術図面 表現の一般原則 パート 50: 断面図および断面図における領域の表現の基本原則
• KS D ISO 14237-2003(2018) 表面下分析-二次イオン質量分析-シリコン中に均一に添加されたホウ素原子濃度の測定方法
• KS D ISO 14237:2003 表面化学分析、二次イオン質量分析、不均一にドープされた材料を使用したシリコン内のホウ素原子の濃度の測定。
• KS M ISO 1065-2003(2018) エチレンオキシドと混合非イオン性界面活性剤から調製された非イオン性界面活性剤の曇点の測定
• KS C 0235-1998 テープ付き電子部品（表面実装部品）
• KS M ISO 1065:2003 エチレンオキシドから得られる非イオン性界面活性剤および混合非イオン性界面活性剤 曇点の測定
• KS M ISO 4311-2003(2018) 陰イオン界面活性剤および非イオン界面活性剤の臨界ミセル濃度の決定 プレート、スターラップまたはリングを使用した表面張力の測定方法
• KS A ISO 128-40:2003 技術図面 表現の一般原則 パート 40: セクションとセクションの一般規則
• KS A ISO 128-40:2014 技術図面 表現の一般原則 パート 40: セクションとセクションの一般規則
• KS M ISO 4311:2003 アニオン性およびノニオン性界面活性剤 臨界ミセル濃度の決定 プレート、U 字型カードまたはリングによる表面張力の決定
• KS M ISO 6839:2003 陰イオン界面活性剤、水溶性の測定
• KS M ISO 19076:2021 革、革の表面の測定、電子技術の使用
• KS M ISO 8502-5-2002(2017) 塗装前鋼材表面処理の表面清浄度評価試験 その5 塗装前鋼材表面の塩素定量（イオン検知管法）
• KS I ISO 7875-2-2011(2021) 水質 界面活性剤の測定 パート 2: ドラゲンドルフ試薬を使用した非イオン性界面活性剤の測定
• KS I ISO 7875-2-2011(2016) 水質 - 界面活性剤の測定 - パート 2: ドラゲンドルフ試薬を使用した非イオン性界面活性剤の測定
• KS C 7105-2007 プラズマディスプレイパネルPDPモジュール表面のガラス基板の測定方法
• KS I ISO 7875-1-2011(2016) 水質界面活性剤の測定その 1: メチレンブルー指数を使用した陰イオン界面活性剤の測定
• KS M ISO 6839-2003(2018) 陰イオン界面活性剤の水への溶解度の測定
• KS I ISO 7875-2:2011 水質 界面活性剤の測定 パート 2: デゲンドルフ試薬による非イオン性界面活性剤の測定
• KS M ISO 4320:2003 非イオン性界面活性剤 曇点指数の測定 容積法
• KS K 0195-2010 非イオン性界面活性剤の曇点指数を決定するための容積測定法
• KS M ISO 4320-2003(2018) 非イオン性界面活性剤の曇点指数を決定するための容積測定法
• KS M ISO 4322-2003(2018) 非イオン界面活性剤の硫酸灰分含有量を測定するための重量法
• KS I ISO 7875-1:2011 水質 界面活性剤の定量 その1 メチレンブルーインデックス測定法による陰イオン界面活性剤の定量
• KS E ISO 15968:2012 直接還元鉄 ホットプレスされた鉄ブロックの表面密度と吸水率の測定。
• KS E ISO 15968:2017 塊鉄へのホットプレス直接還元鉄の表面密度と吸水率の測定
• KS K ISO 105-J01:2008 繊維製品、堅牢度試験、パート J01、色の表面測定の一般原則。
• KS K ISO 105-J01:2019 テキスタイル - 染色堅牢度試験 - パート J01: 表面色測定の一般原則
• KS A ISO 7503-1:2021 放射性表面汚染の測定と評価 第 1 部: 一般原則
• KS K ISO 105-J01:2014 繊維堅牢度試験パート J01 色表面測定の一般原則
• KS M ISO 4322:2003 非イオン界面活性剤 硫酸灰分の定量 重量法
• KS M ISO 6123-2:2008 ゴムまたはプラスチックでコーティングされたローラー仕様パート 2: 表面特性
• KS D ISO 22048-2005(2020) 表面化学分析 - 静的二次イオン質量分析のための情報フォーマット
• KS K 0195-2006 界面活性物質および非イオン性化合物の滴定による不純物の定量
• KS B ISO 14997:2019 光学およびフォトニクス - 光学部品の表面欠陥の試験方法
• KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - 分析装置の横方向分解能、分析領域およびサンプル領域の決定

未注明发布机构, xps 表面原子

• BS EN 15543:2008(2010) ガラス包装 - ボトルの表面処理 - 非炭酸液体ボトルのネジ部の表面処理
• BS 6829-0:1991(2008) 界面活性剤分析（原材料）その0：概要
• BS EN ISO 4320:1998(2009) 非イオン性界面活性剤の曇点指数を決定するための容積測定法
• BS ISO 7503-1:2016(2018) 放射性表面汚染の測定と評価 第 1 部: 一般原則
• BS ISO 22048:2004(2005) 界面化学分析用の静的二次イオン質量分析の情報フォーマット
• BS EN 903:1994(2008)*BS 6068-2.23:1994 水質メチレンブルーインデックス MBAS 陰イオン界面活性剤の測定
• BS 750:2023 地下消火栓表面ボックスのフレームとカバーの仕様変更を追跡します

European Committee for Standardization (CEN), xps 表面原子

• EN 15543:2008/AC:2008 ガラス包装ボトル表面処理 非炭酸液ボトルねじ部表面処理
• EN 14668:2005/AC:2006 界面活性剤原料および調製物中の第 4 級アンモニウム界面活性剤の定量: 電位差二相滴定法
• EN 723:1996 パイプ表面炭素を測定するための錬銅 - 燃料法
• EN 13955:2002 界面活性剤. イオン性界面活性剤のクラフト特性と溶解度の測定
• EN ISO 19076:2023 レザー - 電子技術を利用した革の表面測定
• EN 1890:2006 界面活性剤 エチレンオキシド縮合非イオン界面活性剤の曇点測定
• EN 12139:1999 界面活性剤. HPLC/GPC 法による非イオン性界面活性剤中のポリエチレングリコール含有量の測定
• EN 1890:1999 界面活性剤 エチレンオキシド縮合非イオン界面活性剤の曇点測定
• EN 14480:2004 界面活性剤. アニオン性界面活性剤の測定. 電位差二相滴定法. 統合正誤表 - 2006 年 5 月
• EN ISO 19076:2016 皮革 - 電子技術を使用した皮革表面測定 (ISO 19076:2016)
• EN 13273:2001 界面活性剤 高速液体クロマトグラフィー (HPLC) による陰イオン界面活性剤中の非イオン化物質の含有量の測定
• EN 14668:2005 界面活性剤 原料および配合製品中の第 4 級アンモニウム界面活性剤の測定 電位差二相滴定法 正誤表の組み込み - 2006 年 5 月
• EN 12582:1999 界面活性物質 HPLC/ELSD 法による分子量測定に基づく、非イオン性界面活性物質 (エトキシ) 中の総ポリエチレングリコール含有量の測定
• EN 14669:2005 界面活性剤 洗剤および洗浄剤中の銀イオン界面活性剤および石鹸の測定 電位差二相滴定法
• EN 14880:2005 界面活性剤 陰イオン界面活性剤中の無機硫酸塩含有量の測定 鉛電極電位差選択滴定法
• EN ISO 105-J01:1999 繊維製品、堅牢度試験、パート J01: 色の表面測定に関する一般原則

ES-UNE, xps 表面原子

• UNE-EN 15543:2008 ERRATUM:2008 ガラス包装ボトル表面処理 非炭酸液ボトルねじ部表面処理
• UNE 84028:2021 化粧品原料および化粧品用陰イオン界面活性剤中のホルムアルデヒドの測定
• UNE-EN 14480:2005/AC:2006 界面活性剤 アニオン性界面活性剤の定量 電位差二相滴定法
• UNE-EN 13273:2002 界面活性剤高速液体クロマトグラフィー (HPLC) によるアニオン性界面活性剤中の非イオン性物質の測定
• UNE-EN ISO 19076:2017 電子技術を活用した皮革表面測定
• UNE-EN ISO 19076:2023 皮革 皮革表面測定エレクトロニクス (ISO 19076:2023)
• UNE 55844:1992 ERRATUM 活性界面活性剤の製造に使用される非イオン性界面活性剤の生分解性の測定

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, xps 表面原子

• ESDU 86038 A-1989 熱交換器表面の汚れ: 一般原則
• SPB-M6-2-2010 月 8 日: 原子間力顕微鏡 (AFM) によって測定されたアスファルテンとさまざまな表面の間のコロイド相互作用

American Society for Testing and Materials (ASTM), xps 表面原子

• ASTM F3400-19 馬の表面の機能的特性をその場で試験するための標準的な試験方法: 人工表面
• ASTM F2813-18(2023) テーブル・テーブルの水平面ガラスの標準仕様
• ASTM F1724-96 酸抽出原子吸光分析法による多結晶シリコン表面の金属不純物を測定するための標準的な試験方法
• ASTM B825-19 金属試験片表面上の薄膜のクーロン還元の標準試験方法
• ASTM E693-17 原子の変位に基づく鉄および低合金鋼の中性子曝露の特性評価の標準的な実践 (DPA)
• ASTM E693-12e1 原子の変位に基づく鉄および低合金鋼の中性子曝露の特性評価の標準的な実践 (DPA)
• ASTM E693-23 原子当たりの変位 (DPA) を使用して鉄および低合金鋼の中性子曝露を特徴付けるための標準的な手法
• ASTM D2024-09(2023) 非イオン界面活性剤の曇点の標準試験方法
• ASTM D2024-65(1997) 非イオン界面活性剤の曇点の標準試験方法
• ASTM D2024-09(2017) 非イオン界面活性剤の初凝固点の標準試験方法
• ASTM D2024-65(2003) 非イオン界面活性剤の初凝固点の標準試験方法
• ASTM D2024-09 非イオン界面活性剤の初凝固点の標準試験方法
• ASTM F2569-07 スポーツで使用される表面の減圧特性を評価するための標準的な試験方法
• ASTM F2569-11 スポーツで使用される表面の減圧特性を評価するための標準的な試験方法
• ASTM E1577-95(2000) 表面分析用のイオンビームパラメータをレポートするための標準ガイド
• ASTM D7789-21 綿棒を使用して表面から真菌物質を収集するための標準的な方法
• ASTM E1577-04 表面分析用のイオンビームパラメータをレポートするための標準ガイド
• ASTM D7789-12(2021) 綿棒を使用して表面から真菌物質を収集するための標準的な方法
• ASTM E1577-11 表面分析用のイオンビームパラメータをレポートするための標準ガイド

Association of German Mechanical Engineers, xps 表面原子

• DVS 3212-1997 電子線による表層硬化
• DVS 3212-2007 電子線による表面硬化

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), xps 表面原子

• JIS K 0143:2023 表面化学分析 - 二次イオン質量分析 - 均一にドープされた材料を使用したシリコン内のホウ素原子濃度の測定
• JIS K 0143:2000 表面化学分析、二次イオン質量分析、均一にドープされた材料を使用したシリコン内のホウ素原子濃度の測定。
• JIS R 1683:2007 原子間力顕微鏡によるセラミック膜の表面粗さを測定するための試験方法
• JIS R 1683:2014 原子間力顕微鏡によるセラミック膜の表面粗さを測定するための試験方法
• JIS K 0400-30-10:1999 水質 界面活性剤の測定 パート 1: メチレンブルー分光分析によるアニオン性界面活性剤の測定
• JIS C 5444:2000 電子機器用表面実装型トランスファースイッチの試験方法
• JIS K 0400-30-20:1999 水質 界面活性剤の測定 パート 2: ドレーゲンドルフ試薬による非イオン性界面活性剤の測定
• JIS Z 4504-1:2023 放射性物質の測定 表面汚染の測定と評価 第 1 部：一般原則
• JIS C 0806:1995 電子部品の連続テープ包装（表面包装装置）

HU-MSZT, xps 表面原子

• MNOSZ 4855-1951 電力抵抗器の原料。 抵抗原料の表面抵抗測定
• MNOSZ 10439-1953 両面バンウォールバスケットカーブテーブル
• MSZ 2975-1969 櫛型の圧縮パイプです。 面圧 64.320
• MSZ 1465-1957 鋳造の尖った先端の滑らかな表面のシャベル
• MNOSZ 2886-1953 密閉鋼面圧で鋳造された楕円形ルーム 16
• MSZ 12298-1959 鉄道車両表面製品、照明製品の原料製品の製造
• MSZ 9878/4-1982 工業用プラグコネクタの寸法。 プラグ表面電圧 250.660 ボルト 電流 16 および 32 アンペア
• MSZ 9878/6-1982 工業用プラグコネクタの寸法。 プラグ表面電圧 250.660 ボルト 電流 63 および 125 アンペア

KR-KS, xps 表面原子

• KS D ISO 14237-2003(2023) 表面下の化学分析 - 二次イオン質量分析 - シリコン中に均一に添加されたホウ素原子の濃度の測定方法
• KS C IEC TS 62073-2023 絶縁体表面の疎水性を測定するためのガイドライン
• KS M ISO 1065-2003(2023) エチレンオキシドと混合非イオン性界面活性剤から調製された非イオン性界面活性剤の曇点の測定
• KS M ISO 19076-2021 革、革の表面の測定、電子技術の使用
• KS M ISO 4311-2003(2023) 陰イオン界面活性剤および非イオン界面活性剤の臨界ミセル濃度の決定 プレート、スターラップまたはリングを使用した表面張力の測定方法
• KS M ISO 6839-2003(2023) 陰イオン界面活性剤の水への溶解度の測定
• KS M ISO 4320-2003(2023) 非イオン性界面活性剤の曇点指数を決定するための容積測定法
• KS A ISO 7503-1-2021 放射性表面汚染の測定と評価 第 1 部: 一般原則
• KS K ISO 105-J01-2019 テキスタイル - 染色堅牢度試験 - パート J01: 表面色測定の一般原則
• KS B ISO 14997-2019 光学およびフォトニクス - 光学部品の表面欠陥の試験方法
• KS M ISO 4322-2003(2023) 非イオン界面活性剤の硫酸灰分を重量法で定量する方法

IN-BIS, xps 表面原子

• IS 12578-1989 時計職人のハンマープレーン - 仕様
• IS 10832-1984 体操器具の仕様 - 床運動面 - マット

German Institute for Standardization, xps 表面原子

• DIN EN 13955:2003 界面活性剤. イオン性界面活性剤のクラフト点と溶解度の測定
• DIN EN ISO 19076:2023-05 革の表面測定エレクトロニクス
• DIN EN 13273:2001 界面活性剤 高速液体クロマトグラフィーによるアニオン性界面活性剤中の非イオン性物質含有量の測定。
• DIN VDE 0603-3-3 Berichtigung 1:2021 計器パネル パート 3-3: 計器用端子コネクタ、正誤表 1
• DIN EN 13955:2003-03 界面活性剤 - イオン性界面活性剤のクラフト特性と溶解性の測定
• DIN EN 13273:2001-06 界面活性剤高速液体クロマトグラフィー (HPLC) によるアニオン性界面活性剤中の非イオン性物質の測定
• DIN ISO 13472-1:2004-04 舗装の吸音特性の音響現場測定 その1: 拡張表面法
• DIN ISO 13472-1:2023-02 舗装の吸音特性の音響現場測定 その1: 拡張表面法
• DIN EN 14480:2004 界面活性剤 アニオン性界面活性剤の測定 電位差二相滴定法
• DIN EN 14480 Berichtigung 1:2006 界面活性剤 アニオン性界面活性剤の測定 電位差二相滴定法
• DIN ISO 13472-2:2010-12 舗装の吸音特性の音響現場測定 その2：反射面点法
• DIN 21901:1984 鉱山計画、標準構造とスケジュール、一般原則
• DIN EN 1890:2006-09 界面活性剤とエチレンオキシドの縮合により得られる非イオン界面活性剤の曇点の測定
• DIN EN 12582:1999 界面活性剤 HPLC/ELSD 法を使用した非イオン性界面活性剤 (エトキシ) の分子量に基づく総ポリエチレングリコール含有量の測定
• DIN EN ISO 19076:2023 皮革 皮革表面測定エレクトロニクス (ISO 19076:2023)
• DIN EN 1890:2006 界面活性剤 エチレンオキシド縮合非イオン界面活性剤の曇点測定
• DIN EN 14480:2004-11 界面活性剤 アニオン性界面活性剤の測定 電位差二相滴定 ドイツ語版 EN 14480:2004
• DIN EN 14668:2005-09 界面活性剤原料および調製物中の第 4 級アンモニウム界面活性剤の測定 電位差二相滴定 ドイツ語版 EN 14668:2005
• DIN 40686-6:1983 電気用ファインセラミック部品の表面、高圧・低圧絶縁体
• DIN EN 12139:1999-04 界面活性剤 HPLC/GPC による非イオン性界面活性剤 (EO 付加物) の総ポリエチレングリコール含有量の測定
• DIN EN 14668 Berichtigung 1:2006-08 電位差二相滴定による界面活性剤原料および調製物中の第 4 級アンモニウム界面活性剤の定量 ドイツ語版 EN 14668:2005 DIN EN 14668:2005-09 正誤表
• DIN EN 14480 Berichtigung 1:2006-08 界面活性剤 アニオン性界面活性剤の測定 電位差二相滴定 ドイツ語版 EN 14480:2004 DIN EN 14480:2004-11 正誤表
• DIN EN 14668 Berichtigung 1:2006 界面活性剤 原料および配合製品中の第四級アンモニウム界面活性剤の定量 電位差二相滴定法
• DIN EN 14668:2005 界面活性剤 原料および配合製品中の第四級アンモニウム界面活性剤の定量 電位差二相滴定法
• DIN EN ISO 4320:1997 非イオン性界面活性剤 曇点指数の測定 容積法
• DIN EN 14480 Corrigendum 1:2006 界面活性剤. アニオン性界面活性剤の測定. 電位差二相滴定法; DIN EN 14480 の英語版: 2004-11 Corrigendum 1
• DIN ISO 128-50:2002 技術製図、図的表現の一般原則、パート 50: 断面図および断面図における領域の表現に関する基本規則 (ISO 128-50:2001)
• DIN 48108-2:1983-08 電気用セラミック部品、絶縁体の取り付け位置、研磨面
• DIN EN 12582:1999-05 界面活性剤HPLC/ELSDによる非イオン性界面活性剤(エトキシル化)中のポリエチレングリコールのモル質量の測定
• DIN EN 12139:1999 界面活性剤：HPLC および GPC 法による非イオン性界面活性物質 (EO 複合体) 中の総ポリエチレングリコール含有量の測定
• DIN EN ISO 105-J01:1999-09 繊維製品の色堅牢度の試験 パート J01: 表面色の測定に関する一般原則

GOSTR, xps 表面原子

• GOST ISO 12822-2018 ガラス包装瓶 26 H 126 王冠仕上げ面

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, xps 表面原子

• GB/T 40128-2021 二硫化モリブデンシート材料の厚さを測定するための表面化学分析原子間力顕微鏡法
• GB/T 24622-2022 絶縁体表面の疎水性測定ガイドライン
• GB/T 7383-2020 非イオン界面活性剤の水酸基価の測定
• GB/T 41072-2021 表面化学分析 電子分光法 UV光電子分光法ガイド
• GB/T 36504-2018 プリント基板の表面汚染物質の分析 オージェ電子分光法

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, xps 表面原子

• GJB 3243-1998 電子部品の表面実装要件

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, xps 表面原子

• GJB 3243A-2021 電子部品の表面実装要件
• GJB 5555-2006 計器着陸システム用地上電子機器の一般仕様
• GJB 8201-2015 デシメートル波計器着陸用地上電子機器の一般仕様書

Professional Standard - Hygiene , xps 表面原子

• WS/T 223-2002 B型肝炎表面抗原酵素免疫測定法

BE-NBN, xps 表面原子

• NBN T 63-129-1980 カチオン界面活性剤およびノニオン界面活性剤の臨界ミセル濃度の決定 円決定表面張力法
• NBN T 63-151-1983 陰イオン界面活性剤。 水への溶解度の測定
• NBN T 63-136-1980 非イオン性界面活性剤。 曇点指数の決定。 体積法
• NBN T 63-138-1980 非イオン性界面活性剤。 硫酸灰分の測定。 重量法

Danish Standards Foundation, xps 表面原子

• DS/EN 14480/AC:2006 界面活性剤 アニオン性界面活性剤の定量 電位差二相滴定法
• DS/EN 14480:2004 界面活性剤 アニオン性界面活性剤の定量 電位差二相滴定法
• DS/EN 13955:2003 界面活性剤イオン性界面活性剤のクラフト特性と溶解性の測定
• DS/EN 15543/AC:2009 ガラス包装ボトルの表面処理 非炭酸液体ボトルのねじ部表面処理
• DS/EN 15543:2008 ガラス包装ボトルの表面処理 非炭酸液体ボトルのねじ部表面処理
• DS/EN 13273:2001 界面活性剤 高速液体クロマトグラフィー（HPLC）による陰イオン界面活性剤中の非イオン性物質含有量の定量
• DS/EN 14668/AC:2006 界面活性剤原料および調製物中の第四級アンモニウム塩界面活性剤の定量：電位差二相滴定法
• DS/EN 14668:2005 界面活性剤原料および調製物中の第四級アンモニウム塩界面活性剤の定量：電位差二相滴定法
• DS/EN 1890:2006 界面活性剤エチレンオキシドの縮合により調製される非イオン性界面活性剤の曇点の測定
• DS/EN 12139:1999 界面活性剤の総含有量の測定 非イオン性界面活性剤（EO付加物） ポリエチレングリコール HPLC/GPC
• DS/ISO 128-50:2002 技術地図表現の一般原則 パート 50: 切断領域および断面領域を表現するための基本規則
• DS/EN ISO 4320:1998 非イオン性界面活性剤の曇点指数を決定するための容積測定法
• DS/EN ISO 105-J01:1999 繊維堅牢度試験 JO1 パート: 表面色測定の一般原則
• DS/EN 14669:2005 界面活性剤 洗剤およびクレンザー中の陰イオン界面活性剤および石鹸の定量 電位差二相滴定法

Lithuanian Standards Office , xps 表面原子

• LST EN 14480-2005 界面活性剤 アニオン性界面活性剤の定量 電位差二相滴定法
• LST EN 14480-2005/AC-2006 界面活性剤 アニオン性界面活性剤の定量 電位差二相滴定法
• LST EN 13955-2003 界面活性剤イオン性界面活性剤のクラフト特性と溶解性の測定
• LST EN 15543-2008 ガラス包装ボトルの表面処理 非炭酸液体ボトルのねじ部表面処理
• LST EN 15543-2008/AC-2009 ガラス包装ボトルの表面処理 非炭酸液体ボトルのねじ部表面処理
• LST EN 13273-2002 界面活性剤 高速液体クロマトグラフィー（HPLC）による陰イオン界面活性剤中の非イオン性物質含有量の定量
• LST EN 14668-2005 界面活性剤原料および調製物中の第四級アンモニウム塩界面活性剤の定量：電位差二相滴定法
• LST EN 14668-2005/AC-2006 界面活性剤原料および調製物中の第四級アンモニウム塩界面活性剤の定量：電位差二相滴定法
• LST EN 1890-2006 界面活性剤エチレンオキシドの縮合により調製される非イオン性界面活性剤の曇点の測定
• LST ISO 7875-2:1998 水性界面活性剤の定量 パート 2: ドラゲンドルフ試薬を使用した非イオン性界面活性剤の定量
• LST EN 12139-2002 界面活性剤の総含有量の測定 非イオン性界面活性剤（EO付加物） ポリエチレングリコール HPLC/GPC
• LST EN 14669-2005 界面活性剤 洗剤およびクレンザー中の陰イオン界面活性剤および石鹸の定量 電位差二相滴定法

YU-JUS, xps 表面原子

• JUS U.A0.016-1981 セクションとビューパーツの表現。 一般原理
• JUS M.B1.099-1982 産業用クレーン。 ホイール転動面形状

ES-AENOR, xps 表面原子

• UNE 84-065-1988 化粧品原材の表面粉塵濃度試験
• UNE 55-805-1985 表面アニオン剤の水への溶解度の測定
• UNE 55-803-1986 表面剤。 洗剤を製造する際の原料として使用される化学物質。 塩素イオンを測定する一般的な方法。 電位差測定法
• UNE 55-802-1985 表面剤。 カチオン性界面剤（塩酸、臭素酸）接着剤のキー密度の決定技術情報。 イオンコントラスト活性の測定方法
• UNE 55-725-1987 表面剤。 ドレーゲンドルフ試薬を使用した水性環境中の低濃度の非イオン性界面活性剤の測定

International Electrotechnical Commission (IEC), xps 表面原子

• IEC TS 62073:2003 絶縁体表面の濡れ性を測定するためのガイドライン
• IEC TS 62073:2016 絶縁体表面の疎水性を測定するためのガイドライン
• IEC 36/332/CD:2013 IEC/TS 62073、バージョン 2.0: 絶縁体表面の疎水性測定に関するガイドライン

Professional Standard - Chemical Industry, xps 表面原子

• HG/T 4492-2013 天然非イオン界面活性剤茶サポニン

Aerospace Industries Association/ANSI Aerospace Standards, xps 表面原子

• AIA/NAS NASM35793-2012 ハンドル、ハンドル、ケース、表面実装、プレーンホール

TH-TISI, xps 表面原子

• TIS 1755-1999 エチレンオキシドから調製された非イオン性界面活性剤および混合非イオン性界面活性剤 曇点の測定
• TIS 1766-1999 アニオン性界面活性剤、水への溶解度の測定
• TIS 1765-1999 アニオン性およびノニオン性界面活性剤 臨界ミセル濃度の決定 プレート、スターラップリング、またはリングを使用した表面張力の決定方法
• TIS 1763-1999 非イオン性界面活性剤 曇点指数の測定 容積法
• TIS 1764-1999 非イオン界面活性剤 硫酸灰分の定量 重量法

RO-ASRO, xps 表面原子

• STAS SR ISO 1065:1995 エチレンオキシドと混合非イオン界面活性剤から得られる非イオン界面活性剤。 曇り点を決定する
• STAS 10910-1977 非イオン界面活性剤タイプE 解乳化
• STAS SR ISO 7875-1:1996 水質。 界面活性剤の測定。 パート 1: メチレンブルー分光分析によるアニオン性界面活性剤の測定
• STAS SR 9888-2001 水質。 陰イオン界面活性剤および非イオン界面活性剤の生分解の測定
• STAS SR ISO 7875-2:1996 水質。 界面活性剤の測定。 パート 2: ドレーゲンドルフ試薬を使用した非イオン性界面活性剤の定量

IL-SII, xps 表面原子

• S.I.692-1972 合成界面活性剤を含む洗浄剤の試験：非イオン界面活性剤の測定

ZA-SANS, xps 表面原子

• SANS 62073:2006 絶縁体表面の濡れ性の測定規則
• SANS 105-J01:2003 生地の色堅牢度テスト。 パート J01: 表面の色の決定に関する一般原則

WRC - Welding Research Council, xps 表面原子

• BULLETIN 131-1968 アークプラズマ接合切断および表面処理

IEC - International Electrotechnical Commission, xps 表面原子

• TS 62073-2003 絶縁体表面濡れ性測定ガイド（バージョン1.0）

Professional Standard - Electron, xps 表面原子

• SJ 2968-1988 電子機器用弾性表面波フィルタの一般仕様

PL-PKN, xps 表面原子

• PN C04821-1987 界面活性剤アニオン活性物質の測定
• PN S96034-1971 自動車道路。 アスファルトカチオンラテックスによる表面処理

IPC - Association Connecting Electronics Industries, xps 表面原子

• IPC 2612-2010 電子図ファイルの小項目要件（概略図と論理記述）
• IPC 2612 CD-2010 電子図ファイルの小項目要件（概略図と論理記述）

American National Standards Institute （ANSI), xps 表面原子

• ANSI/ASTM F2569:2011 スポーツ使用面の減圧性能評価試験方法

Professional Standard - Medicine, xps 表面原子

• YY/T 1890-2023 B型肝炎ウイルス表面抗原検出キット（イムノクロマトグラフィー）

GM North America, xps 表面原子

• GM GMN10061-2003 電気・電子部品の表面処理における部品性能要件

Society of Automotive Engineers (SAE), xps 表面原子

• SAE GEIASTD0006-2008 電子部品の表面処理の代わりにディップはんだ付けを使用する場合の要件

机械工业部, xps 表面原子

• JB/T 7502-1994 イオンプレーティング前の部品の表面品質管理に関する技術要件

FI-SFS, xps 表面原子

• SFS 3938-1988 床面。 回転椅子ホイールを使用して持続性を判断する

VN-TCVN, xps 表面原子

• TCVN 6622-2-2000 水質 界面活性剤の測定 パート 2: ドレーゲンドルフ試薬による非イオン性界面活性剤の測定
• TCVN 6622-1-2009 水質 界面活性剤の測定 パート 1: メチレンブルーインデックス測定によるアニオン性界面活性剤 (MBAS) の測定。

KP-CSK, xps 表面原子

• KPS 6817-36-2002 建築図面および土木図面の断面図およびビューにおける面積表現の一般原則

Defense Logistics Agency, xps 表面原子

• DLA MIL-P-22438 B VALID NOTICE 2-2003 パネル、ソケットコンセント、電気および電子テストおよびメンテナンステーブル、一般仕様
• DLA MIL-P-22438 B NOTICE 1-1997 パネル、ソケットコンセント、電気および電子テストおよびメンテナンステーブル、一般仕様
• DLA MIL-P-22438 B-1977 パネル、ソケットコンセント、電気および電子テストおよびメンテナンステーブル、一般仕様

Anhui Provincial Standard of the People's Republic of China, xps 表面原子

• DB34/T 3370-2019 イオンクロマトグラフィーによるプリント基板表面の遊離塩素と臭素の測定

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, xps 表面原子

• CNS 9229-1987 乾式リードスイッチの検査方法（リード表面処理と端子強度）

American Society of Mechanical Engineers (ASME), xps 表面原子

• ASME STP-PT-082-2017 厚肉円筒容器外面の亀裂の応力強度K係数

その他：   XPS表面, XPS AES サーフェス, 原子表面, xpsアトム, XPS+ サーフェス, Surface XPS, xps 表面の深さ, xpsの原子比, xps+ 表面深度, xps 表面の深さ, xps 表面の深さ, XPS表面, xps 表面は深さです, XPSアトミック, XPS+アトム, Surface XPS, 表面原子, xps 表面原子, Surface XPS サンプルの準備, xps 表面浅層.