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XPSアトミック

XPSアトミックは全部で 12 項標準に関連している。

XPSアトミック 国際標準分類において、これらの分類：分析化学、 語彙。

British Standards Institution (BSI), XPSアトミック

• BS ISO 16531:2013 表面化学分析、深さプロファイリング、光電子分光法 (XPS) および原子発光分光法 (AES) の深さプロファイリングにおけるイオン ビーム校正および電流または電流密度の関連測定方法。
• BS ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告

American Society for Testing and Materials (ASTM), XPSアトミック

• ASTM E2735-13 X線光電子分光法（XPS）実験に必要なキャリブレーションを選択するための標準ガイド

Association Francaise de Normalisation, XPSアトミック

• NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
• NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) でのデータロギングとレポート

International Organization for Standardization (ISO), XPSアトミック

• ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
• ISO 16531:2013 表面化学分析 深さプロファイリング 原子発光分光法 (AES) および光電子分光法 (XPS) における深さプロファイリングのためのイオン ビーム補正および電流または電流密度の関連測定方法。
• ISO/DIS 8181 原子層堆積の用語

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, XPSアトミック

• GB/T 33502-2017 表面化学分析のための X 線光電子分光法 (XPS) データの記録とレポートの仕様要件

International Telecommunication Union (ITU), XPSアトミック

• ITU-R TF.458-3 FRENCH-1998 原子時間スケールの国際比較 原子時間スケールの国際比較

RU-GOST R, XPSアトミック

• GOST R ISO 16243-2016 測定の一貫性を確保するための国家システム 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) データの記録と報告

IETF - Internet Engineering Task Force, XPSアトミック

• RFC 6946-2013 IPv6 の「アトミック」フラグメントの処理

その他：   XPのピーク, XPSとAES, XPSのキャリブレーション, コバルトXPS, モXPS, チタンXPS, xpsの修正, xpsアトム, xpsの深さ, xps aes, xpsの原子比, XPSアトミック, XPS+アトム, XPSメイン, ゴールデンXPS, xps 表面原子, XPSオリジナル, リチウムXPS, ランタンXPS, アンモニアXPS.