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XPSオリジナル
XPSオリジナルは全部で 38 項標準に関連している。
XPSオリジナル 国際標準分類において、これらの分類:分析化学、 建材、 土木総合、 発泡材、 会社(エンタープライズ)の組織と経営。
British Standards Institution (BSI), XPSオリジナル
- BS ISO 16531:2013 表面化学分析、深さプロファイリング、光電子分光法 (XPS) および原子発光分光法 (AES) の深さプロファイリングにおけるイオン ビーム校正および電流または電流密度の関連測定方法。
- BS ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
- 18/30381985 DC BS EN 14307 AMD1 建設機械および産業設備で使用する断熱製品 工場生産の押出ポリスチレンフォーム (XPS) 製品仕様
- BS ISO 16531:2020 表面化学分析 深さプロファイリング AES および XPS における深さプロファイリングのためのイオン ビーム アライメント法および関連する電流または電流密度の測定法
- 19/30399949 DC BS ISO 16531 表面化学分析における深さプロファイリングのためのイオンビームのアライメント方法、および AES および XPS における深さプロファイリングのための電流または電流密度の関連測定方法
未注明发布机构, XPSオリジナル
American Society for Testing and Materials (ASTM), XPSオリジナル
Association Francaise de Normalisation, XPSオリジナル
International Organization for Standardization (ISO), XPSオリジナル
- ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
- ISO 16531:2013 表面化学分析 深さプロファイリング 原子発光分光法 (AES) および光電子分光法 (XPS) における深さプロファイリングのためのイオン ビーム補正および電流または電流密度の関連測定方法。
- ISO 16531:2020 表面化学分析 - 深さ分析 - イオン ビーム アライメント法および関連する電流または電流密度測定は、AES および XPS での深さ分析に使用されます。
- ISO/CD 22371 安全性とレジリエンス – コミュニティのレジリエンス – 都市レジリエンスの原則と枠組み
Lithuanian Standards Office , XPSオリジナル
Danish Standards Foundation, XPSオリジナル
German Institute for Standardization, XPSオリジナル
ES-UNE, XPSオリジナル
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, XPSオリジナル
AENOR, XPSオリジナル
RU-GOST R, XPSオリジナル
ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., XPSオリジナル