ZH
RU
EN
ES

透過型電子顕微鏡の校正

透過型電子顕微鏡の校正は全部で 28 項標準に関連している。

透過型電子顕微鏡の校正 国際標準分類において、これらの分類：空気の質、 分析化学、 光学および光学測定、 計測学と測定の総合、 光学機器、 教育する、 金属材料試験、 オプトエレクトロニクス、レーザー装置、 製図。

American Society for Testing and Materials (ASTM), 透過型電子顕微鏡の校正

• ASTM D6056-96(2011) 作業条件下の空気中の単結晶セラミックウィスカー濃度を透過型電子顕微鏡で測定するための標準試験方法
• ASTM E3143-18a リポソームの低温透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
• ASTM E3143-18 リポソームの低温透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法
• ASTM E3143-18b リポソームの低温透過型電子顕微鏡検査の標準的な手法

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 透過型電子顕微鏡の校正

• JJG(地质) 1016-1990 透過型電子顕微鏡の校正手順
• JJG(教委) 12-1992 透過型電子顕微鏡の校正手順

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 透過型電子顕微鏡の校正

• GB/T 35098-2018 マイクロビーム解析 透過電子顕微鏡法 透過電子顕微鏡法 植物ウイルスの形態の同定

Professional Standard - Machinery, 透過型電子顕微鏡の校正

• JB/T 9352-1999 透過型電子顕微鏡検査方法
• JB/T 5383-1991 透過型電子顕微鏡の技術条件
• JB/T 5584-1991 透過型電子顕微鏡倍率試験方法
• JB/T 5585-1991 透過型電子顕微鏡分解能試験方法
• JB/T 5586-1991 透過型電子顕微鏡の分類と基本パラメータ

Group Standards of the People's Republic of China, 透過型電子顕微鏡の校正

• T/CSTM 00162-2020 透過型電子顕微鏡の校正方法

Professional Standard - Education, 透過型電子顕微鏡の校正

• JY/T 011-1996 透過型電子顕微鏡法の一般原理
• JY/T 0581-2020 透過型電子顕微鏡分析法の通則

International Organization for Standardization (ISO), 透過型電子顕微鏡の校正

• ISO/CD 25498:2023 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
• ISO/CD 19214:2023 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用して、線形結晶の見かけの成長方向を決定する方法。
• ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。
• ISO 25498:2018 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。

British Standards Institution (BSI), 透過型電子顕微鏡の校正

• BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
• BS ISO 25498:2010 マイクロビーム分析、分析電子顕微鏡、透過型電子顕微鏡を使用した選択領域の電子回折分析。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 透過型電子顕微鏡の校正

• GB/T 18907-2002 透過型電子顕微鏡による電子回折分析法を採用
• GB/T 21637-2008 コロナウイルス透過型電子顕微鏡による形態学的識別法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 透過型電子顕微鏡の校正

• KS D 2716-2008(2018) ナノ粒子径の測定 - 透過型電子顕微鏡
• KS D 2716-2008 ナノ粒子径測定技術 透過型電子顕微鏡

KR-KS, 透過型電子顕微鏡の校正

• KS D 2716-2023 ナノ粒子径の測定 - 透過型電子顕微鏡

工业和信息化部, 透過型電子顕微鏡の校正

• YB/T 4676-2018 透過型電子顕微鏡による鋼中の析出相の分析

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 透過型電子顕微鏡の校正

• DB31/T 315-2004 透過型電子顕微鏡の倍率校正方法

その他：   透過型電子顕微鏡の構造, 透過型電子顕微鏡の電子, 透過型電子顕微鏡, 透過型電子顕微鏡の分類, 透過型電子顕微鏡の測定方法, 透過型電子顕微鏡における選択領域回折, 透過型電子顕微鏡における 3 つのコントラスト, 透過型電子顕微鏡サンプル, 透過型電子顕微鏡サンプル, トランスミッションの校正, 透過型電子顕微鏡による検出, 透過型電子顕微鏡における 4 つのコントラスト, 透過型電子顕微鏡の起源, 透過型電子顕微鏡の主な構造, 透過型電子顕微鏡の操作, 透過型電子顕微鏡のコントラスト, 送信校正用, 高分解能透過型電子顕微鏡の構造, 透過型電子顕微鏡の校正, 透過型電子顕微鏡パラメータ.