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オージェ電子分光法

オージェ電子分光法は全部で 24 項標準に関連している。

オージェ電子分光法 国際標準分類において、これらの分類：光学および光学測定、 分析化学、 光学機器。

American Society for Testing and Materials (ASTM), オージェ電子分光法

• ASTM E983-10 オージェ電子分光法における化学効果とマトリックス効果を測定するための標準ガイド
• ASTM E983-94(1999) オージェ電子分光法における不要な電子ビームの影響を最小限に抑えるための標準ガイド
• ASTM E983-10(2018) オージェ電子分光法における不要な電子ビームの影響を最小限に抑えるための標準ガイド
• ASTM E983-05 オージェ電子分光法における不要な電子ビームの影響を最小限に抑えるための標準ガイド
• ASTM E983-19 オージェ電子分光法における不要な電子ビームの影響を最小限に抑えるための標準ガイド
• ASTM E984-06 化学効果およびマトリックス効果の同定におけるオージェ電子分光法の応用に関する標準ガイド
• ASTM E984-12 オージェ電子分光法を使用して化学効果とマトリックス効果を特定するための標準ガイド

British Standards Institution (BSI), オージェ電子分光法

• BS PD ISO/TR 18394:2016 表面化学分析、オージェ電子分光法、化学情報の導出
• BS ISO 29081:2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、帯電制御および帯電調整のためのレポート方法。
• BS ISO 15471:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• BS ISO 24236:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法、強度スケールの再現性と一貫性
• BS ISO 18516:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定

International Organization for Standardization (ISO), オージェ電子分光法

• ISO/TR 18394:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法、化学情報の導出
• ISO 29081:2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、帯電制御および帯電調整のためのレポート方法。
• ISO 15471:2004 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• ISO 15471:2016 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明
• ISO 18516:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, オージェ電子分光法

• GB/T 36533-2018 オージェ電子分光法によるケイ酸塩中の微粒子鉄の化学状態の測定

Association Francaise de Normalisation, オージェ電子分光法

• NF X21-059*NF ISO 24236:2006 表面化学分析、オージェ電子分光法、強度レベルの再現性と持続性
• NF X21-068*NF ISO 29081:2010 表面化学分析のためのオージェ電子分光法の帯電制御および校正方法に関する報告

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), オージェ電子分光法

• KS D ISO 15471:2005 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), オージェ電子分光法

• JIS K 0161:2010 表面化学分析、オージェ電子分光法、選択された機器性能パラメーターの説明

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, オージェ電子分光法

• GB/T 26533-2011 オージェ電子分光分析法の一般原理

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, オージェ電子分光法

• GB/T 35158-2017 オージェ電子分光計の校正方法

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