ZH
RU
EN
ES

X線光電子分光法の応用

X線光電子分光法の応用は全部で 93 項標準に関連している。

X線光電子分光法の応用 国際標準分類において、これらの分類：光学および光学測定、分析化学、非破壊検査、総合電子部品、長さと角度の測定、電気、磁気、電気および磁気測定、医療科学とヘルスケア機器の統合、放射線測定、半導体材料、原子力工学、非鉄金属、医療機器、表面処理・メッキ、金属腐食。

American Society for Testing and Materials (ASTM), X線光電子分光法の応用

ASTM E995-11 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法におけるバックグラウンド除去技術の適用に関する標準ガイド
ASTM E996-04 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標準的な方法
ASTM E996-10 オージェ電子分光計および X 線光電子分光法からのデータを報告するための標準的な方法
ASTM E2108-16 X線光電子分光計の電子結合エネルギースケールの標準的な手法
ASTM E995-16 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法におけるバックグラウンド減算技術の標準ガイド
ASTM E996-10(2018) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法でデータを報告するための標準的な方法
ASTM E996-19 オージェ電子分光法および X 線光電子分光法でデータを報告するための標準的な方法
ASTM E2735-14(2020) X線光電子分光法に必要なキャリブレーションを選択するための標準ガイド
ASTM E996-94(1999) オージェ電子分光法および X 線光電子分光法データを報告するための標準的な方法
ASTM E902-94(1999) X線光電子分光装置の動作特性を確認するための標準的な方法
ASTM E1523-97 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド
ASTM E1523-15 X線光電子分光法における電荷制御および電荷参照技術の標準ガイド
ASTM E1588-10e1 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析によるショット残渣分析の標準ガイド
ASTM E995-04 ヘリカル電子分光法およびX線光電子分光法におけるバックグラウンド減算の標準ガイド
ASTM E1217-11(2019) オージェ電子分光計および一部の X 線光電子分光計で検出される信号のサンプル領域を決定するための標準的な手法
ASTM E2108-10 X線光電子分光計を使用した電子エネルギー束スケールの決定の標準的な手法
ASTM E1588-16 走査電子顕微鏡/エネルギー散乱X線分析による撮影残渣分析の標準ガイド
ASTM E902-05 X線光電子分光装置の動作特性を確認するための標準的な方法
ASTM E1217-00 X線光電子分光計とオージェ電子分光計を使用した、検出信号に影響を与えるサンプル面積の決定の標準的な手法
ASTM E1217-05 X線光電子分光計とオージェ電子分光計を使用した、検出信号に影響を与えるサンプル面積の決定の標準的な手法
ASTM E2735-14 線光電子分光法 40;XPS 41 テストに必要なキャリブレーションを選択するための標準ガイド
ASTM E2735-13 X線光電子分光法（XPS）実験に必要なキャリブレーションを選択するための標準ガイド
ASTM E1217-11 X線光電子分光器およびオージェ電子分光器を使用して、検出信号に影響を与えるサンプルの領域を決定するための標準的な操作手順

International Organization for Standardization (ISO), X線光電子分光法の応用

ISO 16129:2018 表面化学分析 - X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する方法
ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
ISO 21270:2004 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピークフィッティングの最小レポート要件
ISO 10810:2019 表面化学分析 - X 線光電子分光分析ガイド
ISO 18554:2016 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法で分析された X 線材料の予期せぬ劣化の特定、評価、修正の手順。
ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 線光電子分光法バックグラウンド測定手順
ISO 14701:2018 表面化学分析 - X線光電子分光法 - シリコン酸化膜厚測定
ISO 14701:2011 表面化学分析、X 線光電子分光法、二酸化ケイ素の厚さの測定。
ISO 13424:2013 表面化学分析―X線光電子分光法、薄膜分析結果報告
ISO 15470:2017 表面化学分析、X 線光電子分光法、機器の性能パラメーターの説明
ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
ISO 16795:2004 原子力エネルギー蛍光 X 線分析によるガドリニウム燃料ペレットの Gd2O3 含有量の測定
ISO 17109:2022 表面化学分析、深さプロファイリング、単層および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法、および二次イオン質量分析法におけるスパッタリング率を決定する方法。
ISO 20903:2019 表面化学分析 - オージェ電子分光法および X 線光電子分光法 - ピーク強度と結果報告時に必要な情報を決定するために使用される方法

German Institute for Standardization, X線光電子分光法の応用

DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
DIN ISO 16129:2020 表面化学分析 X 線光電子分光法 - X 線光電子分光計の日常的な性能を評価する手順 (ISO 16129-2018)、英語テキスト
DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 線光電子分光計 - エネルギースケール校正 (ISO 15472:2010)
DIN ISO 15472:2020 表面化学分析用 X 線光電子分光計のエネルギー標準の校正 (ISO 15472:2010)、英語テキスト

British Standards Institution (BSI), X線光電子分光法の応用

BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
BS ISO 16129:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 X 線光電子分光装置の日常的な性能評価手順
BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
BS ISO 19830:2015 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法ピークフィッティングの最小レポート要件
BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
BS ISO 18554:2016 表面化学分析、電子分光法、X 線光電子分光法で分析された X 線材料の予期せぬ劣化の特定、評価、修正の手順。
BS ISO 10810:2010 表面化学分析、X線光電子分光分析、分析ガイド
BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X線光電子分光分析シリコン酸化膜厚測定
BS ISO 21270:2005 表面化学分析、X 線光電子およびオージェ電子分光計、強度スケールの直線性
BS ISO 16243:2011 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X 線光電子分光法による電荷制御および電荷補正方法のレポート
BS ISO 14701:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、シリカ厚さ測定
BS ISO 20903:2019 表面化学分析オージェ電子分光法および X 線光電子分光法ピーク強度の決定方法と結果報告時に必要な情報

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, X線光電子分光法の応用

GB/T 25184-2010 X線光電子分光装置による識別方法
GB/T 19500-2004 X線光電子分光分析法の一般原理
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X 線光電子分光計およびオージェ電子分光計の強度スケールの直線性
GB/T 31470-2015 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法検査における検出信号に対応する試料面積を決める一般則
GB/T 30704-2014 表面化学分析 X 線光電子分光分析ガイド
GB/T 22571-2008 表面化学分析 X線光電子分光装置エネルギースケールの校正
GB/T 28632-2012 表面化学分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、横方向分解能測定
GB/Z 32490-2016 表面化学分析のためのX線光電子分光法を使用したバックグラウンド測定手順
GB/T 28892-2012 表面化学分析 X 線光電子分光法選択された機器の性能パラメーターの表現
GB/T 25188-2010 X線光電子分光法によるシリコンウェーハ表面の極薄酸化シリコン層の厚さの測定
GB/T 28633-2012 表面化学分析、X 線光電子分光法、強度スケールの再現性と一貫性
GB/T 25185-2010 表面化学分析、X線光電子分光法、帯電制御・帯電補正方法に関する報告

Professional Standard - Electron, X線光電子分光法の応用

SJ/T 10458-1993 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法におけるサンプルハンドリングの標準ガイド
SJ/T 10714-1996 X線光電子分光装置の動作特性を確認する標準的な方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), X線光電子分光法の応用

KS D ISO 21270:2005 表面化学分析 X線光電子分光装置とオージェ電子分光装置強度スケールの直線性
KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析 X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置の強度スケールの直線性
KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析用のX線光電子分光計のいくつかの性能パラメータの説明
KS D ISO 15472:2003 表面化学分析、X線光電分光装置、エネルギースケールの校正
KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析における均質材料の定量分析のための実験的に決定された相対感度係数の使用に関するガイドラインオージェ電子分光法および X 線光電子分光法

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, X線光電子分光法の応用

GB/T 33352-2016 電子・電気製品含有制限物質スクリーニング一般適用規則蛍光X線分析法
GB/T 22571-2017 表面化学分析用X線光電子分光装置のエネルギースケールの校正

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, X線光電子分光法の応用

GB/T 41073-2021 表面化学分析の基本要件電子エネルギー分光法 X 線光電子分光法ピークフィッティングレポート
GB/T 36401-2018 表面化学分析報告書 X線光電子分光法による薄膜分析結果

Association Francaise de Normalisation, X線光電子分光法の応用

NF X21-071:2011 表面化学分析、X線光電子分光法、分析ガイドライン
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) によるデータの記録と報告
NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 線光電子分光法 (XPS) でのデータロギングとレポート
NF M60-513:1990 線およびγ線の標準光線による放射線量計および流量計の校正、および X 線およびγ線の 2 光子エネルギーに対する反応の測定 4 MeV ～ 9 MeV のエネルギーを持つ標準光子放射線
NF M60-460*NF ISO 16795:2006 原子力用蛍光X線分析法を用いたガドリニウム燃料ペレットのGd2O3含有量の測定

Standard Association of Australia （SAA）, X線光電子分光法の応用

AS ISO 15472:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。エネルギースケールの校正
AS ISO 15470:2006 表面化学分析。 X線光電子分光法。選択した機器のパフォーマンスパラメータの説明

未注明发布机构, X線光電子分光法の応用

BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析オージェ電子分光法およびX線光電子分光法の横方向分解能の測定
BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析X線光電子分光装置およびオージェ電子分光装置強度スケールの直線性

KR-KS, X線光電子分光法の応用

KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析・X線光電子分光装置・エネルギースケールの校正

Group Standards of the People's Republic of China, X線光電子分光法の応用

T/CSTM 01199-2024 多層金属薄膜の層構造測定・解析方法 X線光電子分光法

AT-ON, X線光電子分光法の応用

ONORM S 5233-1987 X線、G線、電子線による電離箱放射線療法用の線量計

Professional Standard - Non-ferrous Metal, X線光電子分光法の応用

YS/T 739-2010 蛍光X線分析によるアルミニウム電解質の分子比と主成分の測定

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), X線光電子分光法の応用

JIS T 0306:2002 X線光電子分光法を用いた金属系生体材料の不動態皮膜の状態解析