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스펙트럼 전반사

모두 31항목의 스펙트럼 전반사와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 스펙트럼 전반사와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 농업 및 임업, 분석 화학, 금속 재료 테스트, 반도체 소재, 광학 및 광학 측정, 도로 차량 장치, 천문학, 측지학, 지리학.

Tianjin Provincial Standard of the People's Republic of China, 스펙트럼 전반사

• DB12/T 1015-2020 중적외선 감쇠 전반사 분광법을 이용한 낙농장 분뇨의 질소 및 인 측정

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 스펙트럼 전반사

• GB/T 42360-2023 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분광 분석
• GB/T 24578-2015 실리콘 웨이퍼 표면의 금속 오염에 대한 전반사 X선 형광 분광법 테스트 방법
• GB/T 24578-2009 실리콘 웨이퍼 표면의 금속 오염에 대한 전반사 X선 형광 분광법 테스트 방법
• GB/T 30701-2014 표면 화학 분석: 실리콘 웨이퍼 작업 표준 샘플의 표면 원소에 대한 화학 포집 방법 및 전반사 X선 형광 분광법(TXRF) 측정
• GB/T 26828-2011 다중 스펙트럼 반사 방지 코팅 사양
• GB/T 36540-2018(英文版) 물의 VIS SWIR 분광 반사율 측정
• GB/T 36540-2018 물의 가시광선-단파 적외선 스펙트럼 반사율 측정

农业农村部, 스펙트럼 전반사

• NY/T 3284-2018 푸리에 변환 감쇠 전반사 적외선 스펙트럼 스트립 세트의 농약 고형 제제에 대한 작업 절차

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 스펙트럼 전반사

• GB/T 40110-2021 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 오염에 대한 TXRF(전반사 X선 형광 분광법) 측정

British Standards Institution (BSI), 스펙트럼 전반사

• PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에서의 전반사 X선 형광 분광학 응용
• BS PD ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
• BS ISO 17331:2004+A1:2010 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 작업 표준 물질의 표면에서 원소를 수집하는 화학적 방법과 전반사 X선 형광 분광법(TXRF)을 통한 결정

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 스펙트럼 전반사

• KS D ISO 14706:2003 표면 화학 분석 전반사 X선 형광 분광법을 이용한 실리콘 웨이퍼 표면의 주요 오염물질 측정
• KS A 3505-2010 빛을 반사하는 안전표지판
• KS A 3505-1987 빛을 반사하는 안전표지판

International Organization for Standardization (ISO), 스펙트럼 전반사

• ISO/TS 18507:2015 표면 화학 분석 생물학적 및 환경 분석에 전반사 X선 형광 분광법 활용
• ISO 17331:2004 표면 화학 분석 실리콘 웨이퍼 작업 기준 물질의 표면에서 원소를 수집하는 화학적 방법과 전반사 X선 형광 분광법을 통한 결정

American Society for Testing and Materials (ASTM), 스펙트럼 전반사

• ASTM E573-01(2021) 내부 반사 분광학의 표준 실습
• ASTM E573-96 내부 반사 분광법의 표준 사례
• ASTM E573-01 내부 반사 분광법의 표준 사례
• ASTM E573-01(2007) 내부 반사 분광법의 표준 사례
• ASTM E573-01(2013) 내부 반사 분광법의 표준 사례

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 스펙트럼 전반사

• JJF 1601-2016 확산 반사율 측정 분광계의 교정 사양

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, 스펙트럼 전반사

• DB37/T 2188-2012 Apple Blossom 반사 분광학 측정을 위한 기술 규정

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 스펙트럼 전반사

• GJB 10134-2021 위장섬유의 분광반사율 시험방법

German Institute for Standardization, 스펙트럼 전반사

• DIN 51003:2004 전반사 X선 형광 일반 원리 및 정의

ZA-SANS, 스펙트럼 전반사

• SANS 513:2005 반사경(반사경)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 스펙트럼 전반사

• GB/T 33988-2017 도시 지형의 가시광선-단파장 적외선 스펙트럼 반사율 측정

SE-SIS, 스펙트럼 전반사

• SIS SS-ISO 7669:1988 양극산화처리된 알루미늄 및 그 합금. 광전 반사계를 사용하여 전체 반사율 측정

Association of German Mechanical Engineers, 스펙트럼 전반사

• VDI/VDE 5575 Blatt 4-2011 광선 광학계 X선 거울 전반사 거울 및 다층 거울

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