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DE에너지 스펙트럼,
모두 365항목의 에너지 스펙트럼,와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 에너지 스펙트럼,와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 방사선 측정, 종합 전자 부품, 원자력공학, 광업 및 발굴, 수질, 비파괴 검사, 석유 및 가스 산업 장비, 입자 크기 분석, 스크리닝, 지질학, 기상학, 수문학, 길이 및 각도 측정, 광학 및 광학 측정, 방사선방호, 석유 및 천연가스 추출 및 처리, 광학 장비, 쓰레기, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 금속 재료 테스트, 전기, 자기, 전기 및 자기 측정, 천문학, 측지학, 지리학, 섬유제품, 범죄 예방, 페인트 및 바니시, 토양질, 토양과학, 건축 자재, 예술과 공예, 화학 제품, 식품 테스트 및 분석의 일반적인 방법, 전기 및 전자 테스트, 무기화학, 반도체 소재, 정보 기술 응용, 고무 및 플라스틱 제품, 계측 및 측정 합성, 어휘, 의류, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품, 반도체 개별 장치, 종이와 판지, 물리학, 화학, 비철금속, 태양광 공학.
Professional Standard - Nuclear Industry, 에너지 스펙트럼,
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 에너지 스펙트럼,
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 에너지 스펙트럼,
Professional Standard - Petroleum, 에너지 스펙트럼,
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 에너지 스펙트럼,
Professional Standard - Education, 에너지 스펙트럼,
Professional Standard - Agriculture, 에너지 스펙트럼,
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 에너지 스펙트럼,
Professional Standard - Electron, 에너지 스펙트럼,
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 에너지 스펙트럼,
American Society for Testing and Materials (ASTM), 에너지 스펙트럼,
International Organization for Standardization (ISO), 에너지 스펙트럼,
- ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항
- ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 척도의 선형성
- ISO 16129:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 - X선 광전자 분광계의 일상적인 성능을 평가하는 방법
- ISO 19017:2015 방사성 폐기물의 감마 분광학 측정 지침
- ISO 13167:2023 플루토늄, 아메리슘, 큐륨 및 넵투늄 알파 분광법을 위한 수질 테스트 방법
- ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
- ISO 10810:2019 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광학 분석 가이드
- ISO/TR 19319:2003 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 측면 해상도, 분석 영역 및 샘플 영역에 대한 분석가 육안 검사
- ISO/TR 18394:2016 표면 화학 분석, 오제 전자 분광학, 화학 정보 추출
- ISO 10810:2010 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 분석 지침
- ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
- ISO 15470:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 기기 성능 매개변수 설명
- ISO/DIS 18118:2023 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
- ISO/FDIS 18118:2023 표면 화학 분석 - 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 - 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
- ISO/CD TR 18392:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 배경 측정 절차
- ISO/DIS 17973:2023 표면 화학 분석에서 원소 분석 에너지 분해능 수준의 교정 오거 전자 분광계
- ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
- ISO 14701:2018 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법 - 산화규소 두께 측정
- ISO 16242:2011 표면 화학 분석 AES(Auger 전자 분광학) 데이터 기록 및 보고
- ISO/CD 17973 표면 화학 분석에서 분해능 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 규모 교정
- ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 이산화규소 두께 측정
- ISO 13424:2013 표면 화학 분석 - X선 광전자 분광법, 박막 분석 결과 보고
- ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
- ISO/DIS 13165-3 수질 "라듐-226" 3부: 공침전 및 감마 분광법을 이용한 테스트 방법
- ISO 29081:2010 표면 화학 분석, 오제 전자 분광학, 전하 제어 및 전하 조정 보고 방법.
- ISO/DIS 23548:2011 방사능측정 알파분광법을 이용한 알파방사성핵종 방출의 일반적인 시험방법
- ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 X선 에너지 분광학을 이용한 단일암 탄소나노튜브의 특성 규명.
- ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
- ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법
- ISO 19668:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 균질 물질의 원소 검출 한계 추정 및 보고
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 에너지 스펙트럼,
British Standards Institution (BSI), 에너지 스펙트럼,
- BS ISO 19830:2015 표면 화학 분석 전자 분광학 X선 광전자 분광학 피크 피팅에 대한 최소 보고 요구 사항
- BS ISO 16129:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광기 X선 광전자 분광기의 일상적인 성능 평가 절차
- BS ISO 21270:2004 표면 화학 분석 X선 광전자 분광계 및 Auger 전자 분광계 강도 규모 선형성
- BS ISO 19017:2015 방사성 폐기물의 감마 분광학 측정 지침
- BS EN ISO 19017:2017 방사성 폐기물의 감마 분광학 측정 가이드
- BS ISO 16129:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 X선 광전자 분광계의 일상적인 성능 평가 절차
- BS ISO 20903:2019 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고 시 필요한 정보
- BS ISO 10810:2019 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 가이드
- BS ISO 15471:2016 표면 화학 분석을 위한 Auger 전자 분광법을 위해 선택된 기기 성능 매개변수에 대한 설명
- BS ISO 10810:2010 표면 화학 분석, X선 광전자 분광학, 분석 가이드
- PD ISO/TR 18394:2016 표면 화학 분석 오거 전자 분광법을 통한 화학 정보 도출
- BS EN ISO 13165-3:2020 공침전 및 감마분광법을 이용한 수질 라듐-226 시험방법
- BS ISO 18118:2015 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용한 균질 재료의 정량 분석 가이드
- BS ISO 17109:2022 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 및 다층 필름의 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법...
- 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 표면 화학 분석의 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법 및 단일 이온 질량 분석법을 사용하는 스퍼터링 깊이 분석에서 스퍼터링 속도 결정 방법...
- 23/30461294 DC BS ISO 18118 표면 화학 분석 실험적으로 결정된 상대 감도 인자를 사용하는 Auger 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법을 사용하여 균질 물질의 정량 분석을 위한 가이드
- BS ISO 17109:2015 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 X선 광전자 분광법, Auger 전자 분광법, 단일 및 다층 필름을 사용하는 2차 이온 질량 분석법을 사용하여 스퍼터링 깊이 프로파일링에서 스퍼터링 속도를 결정하는 방법.
- BS ISO 16242:2011 표면 화학 분석 - AEC(Auger 전자 분광학) 데이터 기록 및 보고
- BS ISO 14701:2018 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 산화규소 두께 측정
- BS ISO 17973:2016 표면 화학 분석에서 분해능 오거 전자 분광계의 원소 분석을 위한 에너지 규모 교정
- BS ISO 14701:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 실리카 두께 측정
- BS ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
- PD ISO/TR 23173:2021 표면 화학 분석 전자 분광학 나노입자 코팅의 두께 및 조성 측정
- BS ISO 29081:2010 표면 화학 분석, 오제 전자 분광학, 전하 제어 및 전하 조정 보고 방법.
- BS EN ISO 10703:2015 수질, 방사성 핵종 활성 농도 측정, 고해상도 감마선 분광법을 이용한 방법
- BS EN ISO 10703:2021 수질의 방사성 핵종 활성 농도 측정에는 고해상도 감마선 분광법이 사용됩니다.
- 23/30447879 DC BS EN ISO 13165-3 수질 라듐-226 파트 3: 공침 및 감마 분광법을 사용한 테스트 방법
- BS ISO 19668:2017 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 추정 및 균질 재료의 원소 검출 한계 보고
- BS ISO 19318:2021 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법은 전하 제어 및 전하 보정 방법을 보고합니다.
- BS ISO 23547:2022 방사성 측정을 위한 감마선 분광기 교정에 대한 표준 사양 감마 방출 방사성 핵종 기준 측정
- BS EN ISO 23547:2023 방사성 측정을 위한 감마선 분광기 교정에 대한 표준 사양 감마 방출 방사성 핵종 기준 측정
- BS ISO 18589-3:2015 환경의 방사능 측정 토양 감마선 분광법을 이용한 감마 방사성 핵종 테스트 방법
- 20/30423741 DC BS ISO 19318 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법은 전하 제어 및 전하 보정 방법을 보고합니다.
- BS EN ISO 18589-3:2017 환경 방사능 측정 감마선 분광법을 이용한 토양의 감마 방출 방사성 핵종 테스트
- 21/30385419 DC BS ISO 23547 감마선 방출 방사성 핵종의 방사성 측정을 위한 감마선 분광계의 참조 측정 교정을 위한 표준 사양
- BS ISO 20903:2011 표면 화학 분석 오제 전자 분광법 및 X선 광전자 분광법 피크 강도 결정 방법 및 결과 보고에 필요한 정보
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 에너지 스펙트럼,
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 에너지 스펙트럼,
Professional Standard - Geology, 에너지 스펙트럼,
未注明发布机构, 에너지 스펙트럼,
German Institute for Standardization, 에너지 스펙트럼,
CEN - European Committee for Standardization, 에너지 스펙트럼,
Association Francaise de Normalisation, 에너지 스펙트럼,
Professional Standard - Machinery, 에너지 스펙트럼,
ES-UNE, 에너지 스펙트럼,
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 에너지 스펙트럼,
American National Standards Institute （ANSI), 에너지 스펙트럼,
RU-GOST R, 에너지 스펙트럼,
Xinjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, 에너지 스펙트럼,
CZ-CSN, 에너지 스펙트럼,
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 에너지 스펙트럼,
Professional Standard - Hygiene , 에너지 스펙트럼,
International Electrotechnical Commission (IEC), 에너지 스펙트럼,
KR-KS, 에너지 스펙트럼,
Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 에너지 스펙트럼,
Professional Standard - Judicatory, 에너지 스펙트럼,
Group Standards of the People's Republic of China, 에너지 스펙트럼,
SE-SIS, 에너지 스펙트럼,
国家质量监督检验检疫总局, 에너지 스펙트럼,
Qinghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 에너지 스펙트럼,
中华人民共和国国家卫生和计划生育委员会, 에너지 스펙트럼,
GOSTR, 에너지 스펙트럼,
卫生健康委员会, 에너지 스펙트럼,
Professional Standard - Public Safety Standards, 에너지 스펙트럼,
Professional Standard - Commodity Inspection, 에너지 스펙트럼,
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 에너지 스펙트럼,
Danish Standards Foundation, 에너지 스펙트럼,
Professional Standard - Environmental Protection, 에너지 스펙트럼,
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 에너지 스펙트럼,
Professional Standard - Aviation, 에너지 스펙트럼,
BELST, 에너지 스펙트럼,
Professional Standard - Medicine, 에너지 스펙트럼,
- YY/T 1766.3-2023 X-ray 컴퓨터 단층촬영 장비의 영상 품질 평가 방법 3부: 이중 에너지 영상 및 에너지 스펙트럼 응용의 성능 평가
AENOR, 에너지 스펙트럼,
GB-REG, 에너지 스펙트럼,
Professional Standard - Non-ferrous Metal, 에너지 스펙트럼,
- YS/T 644-2007 백금-루테늄 합금 필름의 테스트 방법 X선 광전자 분광법을 통한 합금 백금 및 합금 루테늄 함량 측정.
ISA - International Society of Automation, 에너지 스펙트럼,
IPC - Association Connecting Electronics Industries, 에너지 스펙트럼,