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DE측정현미경의 구조
모두 277항목의 측정현미경의 구조와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 측정현미경의 구조와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 석탄, 금속 생산, 금속 재료 테스트, 미생물학, 전선 및 케이블, 유체 동력 시스템, 광학 장비, 분말 야금, 광학 및 광학 측정, 공기질, 분석 화학, 섬유 섬유, 고무, 길이 및 각도 측정, 기계적 테스트, 표면 처리 및 도금, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 항공우주 제조용 재료, 비파괴 검사, 비철금속, 물리학, 화학, 원자력공학, 목재 가공 기술, 세라믹, 도로 공사, 윤활유, 산업용 오일 및 관련 제품, 건축 자재, 위험물 보호, 금속 부식, 플라스틱, 반도체 개별 장치, 집적 회로, 마이크로 전자공학, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 반도체 소재, 전자 및 통신 장비용 전자 기계 부품.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 측정현미경의 구조
American Society for Testing and Materials (ASTM), 측정현미경의 구조
International Organization for Standardization (ISO), 측정현미경의 구조
Group Standards of the People's Republic of China, 측정현미경의 구조
IT-UNI, 측정현미경의 구조
(U.S.) Ford Automotive Standards, 측정현미경의 구조
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 측정현미경의 구조
British Standards Institution (BSI), 측정현미경의 구조
Danish Standards Foundation, 측정현미경의 구조
Association Francaise de Normalisation, 측정현미경의 구조
CZ-CSN, 측정현미경의 구조
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 측정현미경의 구조
VN-TCVN, 측정현미경의 구조
KR-KS, 측정현미경의 구조
PT-IPQ, 측정현미경의 구조
BE-NBN, 측정현미경의 구조
FI-SFS, 측정현미경의 구조
Association of German Mechanical Engineers, 측정현미경의 구조
SE-SIS, 측정현미경의 구조
German Institute for Standardization, 측정현미경의 구조
PL-PKN, 측정현미경의 구조
RU-GOST R, 측정현미경의 구조
ES-UNE, 측정현미경의 구조
Professional Standard - Nuclear Industry, 측정현미경의 구조
AENOR, 측정현미경의 구조
Lithuanian Standards Office , 측정현미경의 구조
AT-ON, 측정현미경의 구조
CH-SNV, 측정현미경의 구조
European Committee for Standardization (CEN), 측정현미경의 구조
NO-SN, 측정현미경의 구조
工业和信息化部, 측정현미경의 구조
YU-JUS, 측정현미경의 구조
TIA - Telecommunications Industry Association, 측정현미경의 구조
Professional Standard - Commodity Inspection, 측정현미경의 구조
ESDU - Engineering Sciences Data Unit, 측정현미경의 구조
- SPB-M6-2-2010 7월 8일: 원자간력 현미경(AFM)으로 측정한 아스팔텐과 다양한 표면 사이의 콜로이드 상호작용
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 측정현미경의 구조
- GB/T 34894-2017 MEMS(Microelectromechanical Systems) 기술 광간섭을 기반으로 한 MEMS 미세구조 변형률 구배 측정 방법
- GB/T 34893-2017 MEMS 미세구조물의 광간섭 면내 길이 측정 방법을 기반으로 한 미세전자기계시스템(MEMS) 기술
- GB/T 34900-2017 MEMS(Microelectromechanical Systems) 기술: 광간섭을 기반으로 한 MEMS 미세구조의 잔류 변형률 측정 방법
ES-AENOR, 측정현미경의 구조
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), 측정현미경의 구조
International Electrotechnical Commission (IEC), 측정현미경의 구조
BELST, 측정현미경의 구조
- STB 2210-2011 주사전자현미경 측정을 사용하여 나노규모 탄소 및 비탄소 재료와 이를 기반으로 한 복합재의 매개변수를 결정하는 방법
- STB 2209-2011 주사전자현미경 측정을 이용하여 나노규모 탄소 및 비탄소 물질과 이를 기반으로 한 복합재의 원소 조성을 결정하는 기술