현미경의 다양한 구조

모두 33항목의 현미경의 다양한 구조와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 현미경의 다양한 구조와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 금속 생산, 금속 재료 테스트, 미생물학, 석탄, 광학 및 광학 측정, 광학 장비, 길이 및 각도 측정, 공기질, 분석 화학, 위험물 보호.

American Society for Testing and Materials (ASTM), 현미경의 다양한 구조

ASTM D5061-07 야금 코크스의 구조 성분을 현미경으로 측정하기 위한 표준 시험 방법
ASTM D5061-19 야금 코크스의 구조 성분을 현미경으로 측정하기 위한 표준 시험 방법
ASTM D7658-17(2021) 테이프 곰팡이 구조의 직접 현미경 검사를 위한 표준 테스트 방법
ASTM D8075-16 흑연광학현미경에서 관찰되는 미세구조 및 미세한 특징의 분류를 위한 표준가이드
ASTM D8075-16(2021) 흑연광학현미경에서 관찰되는 미세구조 및 미세한 특징의 분류를 위한 표준가이드
ASTM D7658-17 테이프로부터 곰팡이 구조를 현미경으로 직접 관찰하기 위한 표준 시험 방법
ASTM D5061-92(2004) 야금 코크스의 구조 구성 요소의 부피 비율을 현미경으로 검사하기 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-95 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 구조값 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-02 투과전자현미경을 이용한 미세진공 샘플링 및 먼지 내 석면 구조값 농도의 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-03 표면 하중에 대한 석면 구조값을 이용한 투과전자현미경에 의한 먼지의 미세 진공 샘플링 및 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-09 표면 하중에 대한 석면 구조값을 이용한 투과전자현미경에 의한 먼지의 미세 진공 샘플링 및 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D5755-09(2014)e1 표면 하중에 대한 석면 구조값을 이용한 투과전자현미경에 의한 먼지의 미세 진공 샘플링 및 간접 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D7391-09 광학현미경을 이용한 관성 충격 시료의 공기 곰팡이 구조 분류 및 정량화를 위한 표준 테스트 방법
ASTM D7391-17 광학현미경을 통한 관성 충격 샘플의 무부하 곰팡이 구조 분류 및 정량화를 위한 표준 테스트 방법
ASTM D7391-20 광학현미경을 통한 관성 충격 샘플의 무부하 곰팡이 구조 분류 및 정량화를 위한 표준 테스트 방법
ASTM D7391-17e1 광학현미경을 통한 관성 충격 샘플의 무부하 곰팡이 구조 분류 및 정량화를 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6480-05(2010) 투과 전자 현미경을 통한 표면 닦음 샘플의 석면 구조적 값 농도의 간접 준비 및 분석을 위한 표준 테스트 방법
ASTM D6480-99 표면 샘플링, 간접 준비 및 투과전자현미경을 통한 석면 구조수밀도 분석을 위한 표준 시험 방법
ASTM D6480-05 표면 닦기 샘플링, 간접 준비 및 투과 전자 현미경을 통한 석면 구조수 밀도 분석을 위한 표준 테스트 방법

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 현미경의 다양한 구조

JIS M 8816:1992 고체광물연료, 석탄의 기본미세구조 및 반사계수의 미세측정

IT-UNI, 현미경의 다양한 구조

UNI 7329-1974 복제물을 이용한 금속재료의 전자현미경 검사. 미세 구조 검사를 위한 복제본 준비

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 현미경의 다양한 구조

GB/Z 21738-2008 1차원 나노물질의 기본구조, 고해상도 투과전자현미경 검출방법
GB/T 28872-2012 살아있는 세포 샘플에서 나노구조를 검출하기 위한 자기 구동 태핑 모드 원자력 현미경 방법
GB/Z 26083-2010 흑연 표면의 옥틸옥시구리 프탈로시아닌 분자의 흡착구조 시험방법(주사터널링현미경)

International Organization for Standardization (ISO), 현미경의 다양한 구조

ISO 29301:2017 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 주기적인 구조를 가진 기준 물질의 이미지 배율을 교정하는 방법
ISO/FDIS 29301:2023 주기적인 구조를 갖는 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 보정하기 위한 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 방법
ISO 29301:2023 주기적인 구조를 갖는 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 보정하기 위한 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 방법
ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석 투과 전자 현미경 방법 주기적인 구조를 가진 기준 물질의 보정된 이미지 확대 방법
ISO 13095:2014 표면 화학 분석 원자력 현미경 나노 구조 측정을 위한 AFM 프로브 핸들 프로파일의 현장 식별 절차

British Standards Institution (BSI), 현미경의 다양한 구조

BS ISO 29301:2017 분석전자현미경을 위한 주기적인 구조를 갖는 기준물질을 이용한 이미지 배율 보정을 위한 마이크로빔 분석 방법
BS ISO 29301:2023 분석전자현미경을 위한 주기적인 구조를 갖는 기준물질을 이용한 이미지 배율 보정을 위한 마이크로빔 분석 방법
BS ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석적 투과전자현미경 주기적인 구조를 가진 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 교정하는 방법.
BS ISO 13095:2014 표면 화학 분석 원자력 현미경 나노 구조 측정을 위한 AFM 프로브 핸들 프로파일의 현장 식별 절차