주사전자현미경 및 광학전자현미경

모두 265항목의 주사전자현미경 및 광학전자현미경와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 주사전자현미경 및 광학전자현미경와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 장비, 어휘, 공기질, 광학 및 광학 측정, 길이 및 각도 측정, 건축 자재, 열역학 및 온도 측정, 비철금속, 전자 디스플레이 장치, 기르다, 섬유 섬유, 분석 화학, 표면 처리 및 도금, 금속 재료 테스트, 범죄 예방, 페인트 및 바니시, 광전자공학, 레이저 장비, 의료 장비, 철강 제품, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 정보 기술 응용, 세라믹, 물리학, 화학.

Professional Standard - Commodity Inspection, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

SN/T 4388-2015 가죽 식별 주사전자현미경 및 광학현미경
SN/T 3009-2011 금속 표면의 해수 부식을 주사전자현미경으로 식별하는 방법

Group Standards of the People's Republic of China, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

T/SPSTS 032-2023 주사 전기화학 현미경에 대한 일반 사양
T/QGCML 1940-2023 주사형 전자현미경 현장 고온 기계 시험 장치
T/CSTM 00795-2022 재료 실험 데이터 주사 전자 현미경 사진 요구 사항
T/CSTM 00346-2021 강철 및 통계적 주사전자현미경 분광학의 개재물 자동 분류
T/CSTM 00229-2020 페인트의 그래핀 재료 측정 주사 전자현미경-에너지 분광법
T/NLIA 004-2021 적층 가공된 알루미늄 합금의 주사전자현미경 현장 인장 시험 방법
T/SPSTS 030-2023 주사전자현미경을 이용한 그래핀 소재 시트 크기 측정
T/CNIA 0161-2023 변형된 알루미늄 및 알루미늄 합금의 미세조직 및 형태를 검사하는 방법 주사전자현미경법
T/GAIA 017-2022 주사전자현미경 및 에너지 분광학을 통한 알루미늄 및 알루미늄 합금 표면 코팅의 불소 함량 측정

SCC, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

13/30203227 DC BS ISO 13083. 표면 화학 분석. 스캐닝 프로브 현미경. 주사 확산 저항 현미경 및 주사 용량 현미경의 공간 분해능 정의 및 교정에 대한 표준
BS ISO 22493:2008 마이크로빔 분석. 주사전자현미경. 어휘
AWWA ACE56156 평판 스캐너와 주사 전자 현미경을 사용한 막 표면 오염 패턴 평가
VDI 3866 BLATT 5-2017 기술 제품의 석면 측정 - 주사 전자 현미경 방법
06/30128226 DC ISO 22493. 마이크로빔 분석. 주사전자현미경. 어휘
10/30165036 DC BS ISO 27911. 표면 화학 분석. 스캐닝 프로브 현미경. 근거리 광학현미경의 측면 해상도 정의 및 교정
DANSK DS/ISO 9220:2022 금속 코팅 – 코팅 두께 측정 – 주사전자현미경 방법
VDI 3866 BLATT 5-2017 기술 제품의 석면 측정 - 주사 전자 현미경 방법
BS EN ISO 9220:1995 금속 코팅. 코팅 두께 측정. 주사형 전자현미경 방법
DANSK DS/EN ISO 9220:1994 금속코팅 - 코팅두께 측정 - 주사전자현미경법
DANSK DS/ISO 19749:2021 나노기술 – 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정
AENOR UNE-EN ISO 9220:1996 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사전자현미경 방법(ISO 9220:1988)
NS-EN ISO 19749:2023 나노기술 - 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정(ISO 19749:2021)
DANSK DS/EN ISO 19749:2023 나노기술 – 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정(ISO 19749:2021)
NS-EN ISO 9220:1994 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO 9220:1988)
08/30138435 DC BS ISO 24597. 마이크로빔 분석. 주사전자현미경. 이미지 선명도 평가 방법
DANSK DS/EN ISO 10685-3:2012 안과 광학 - 안경테 및 선글라스 전자 카탈로그 및 식별 - 파트 3: 기술 정보
DANSK DS/ISO/TS 10798:2011 나노기술 - 주사전자현미경과 에너지 분산형 X선 분광분석을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성화
DIN EN ISO 19749 E:2022 초안 문서 - 나노기술 - 주사 전자 현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정(ISO 19749:2021); 독일어 및 영어 버전 prEN ISO 19749:2022
VDI 3861 BLATT 2-2008 배출 측정 — 흐르는 청정 가스에서 무기 섬유 입자 측정 — 주사 전자 현미경 방법
NS-EN ISO 10685-2:2016 안과 광학 - 안경테 및 선글라스 전자 카탈로그 및 식별 - 2부: 상업 정보(ISO 10685-2:2016)
DANSK DS/EN ISO 10685-2:2016 안과 광학 - 안경테 및 선글라스 전자 카탈로그 및 식별 - 파트 2: 상업 정보(ISO 10685-2:2016)
NS-EN ISO 10685-3:2012 안과 광학 - 안경테 및 선글라스 전자 카탈로그 및 식별 - 3부: 기술 정보(ISO 10685-3:2012)
NS-EN ISO 10685-2:2012 안과 광학 - 안경테 및 선글라스 전자 카탈로그 및 식별 - 2부: 상업 정보(ISO 10685-2:2012)
11/30192549 DC 학사 ISO 10685-2. 안과 광학. 안경테와 선글라스 전자 카탈로그 및 식별 정보. 제2부. 상업정보

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 주사전자현미경 및 광학전자현미경

JIS K 0132:1997 주사전자현미경의 일반 원리
JIS K 3850-1:2006 공기 중 섬유 분자 측정 1부: 광학 현미경 및 주사 전자 현미경
JIS K 3850-1:2000 공기 중의 섬유상 입자 측정 방법 1부: 광학 현미경 및 주사전자현미경
JIS K 0149-1:2008 마이크로빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
JIS B 7287-2:2017 안과용 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 라벨링 제2부: 상업 정보
JIS R 1633:1998 주사전자현미경 관찰을 위한 파인 세라믹 및 세라믹 분말의 시료 준비 방법
JIS B 7287-3:2017 안과용 광학 안경테와 선글라스의 전자 카탈로그 및 식별 파트 3: 기술 정보
JIS B 7287-1:2015 안과 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 식별 파트 1: 제품 식별 및 전자 카탈로그 제품 분류

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 주사전자현미경 및 광학전자현미경

KS D ISO 22493:2012 마이크로빔 분석주사 전자 현미경 용어
KS I 0051-1999(2019) 주사전자현미경의 일반 규칙
KS I 0051-2019 주사전자현미경의 일반 규칙
KS M 0044-1999 주사전자현미경의 일반 규칙
KS D 2713-2021 NSOM(Near-field Scanning Optical Microscope)의 공간 분해능 평가
KS I 0051-1999 주사전자현미경 시험 방법의 일반 원칙
KS D ISO 22493-2012(2017) 마이크로빔 분석 주사전자현미경 용어집
KS D ISO 22493:2022 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
KS D 2713-2016 NSOM(근거리 주사광학현미경)의 공간 분해능 평가
KS D 2713-2016(2021) NSOM(근거리 주사광학현미경)의 공간 분해능 평가
KS D ISO 16700:2013 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
KS D ISO 9220:2009 금속 피복 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경
KS D ISO 9220-2009(2022) 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
KS D ISO 9220-2009(2017) 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
KS D ISO 9220-2022 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사형 전자 현미경 방법
KS D ISO 16700-2013(2018) 마이크로빔 분석 - 주사전자현미경 - 이미지 확대 교정 가이드

International Organization for Standardization (ISO), 주사전자현미경 및 광학전자현미경

ISO/TS 21383:2021 마이크로빔 분석 주사전자현미경 정량적 측정을 위한 주사전자현미경 식별
ISO 22493:2008 마이크로빔 분석주사전자현미경 방법어휘
ISO 27911:2011 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 근접장 광학 현미경의 측면 해상도 정의 및 교정
ISO/WD TR 23683:2023 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 전기 스캐닝 프로브 현미경을 사용하여 반도체 장치의 캐리어 농도를 실험적으로 정량화하는 방법에 대한 가이드
ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경법 영상선명도 평가법
ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
ISO 16700:2016 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
ISO 9220:2022 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
ISO 9220:1988 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경
ISO 19749:2021 나노기술 주사전자현미경을 이용한 입자크기 및 형상분포 측정
ISO 21466:2019 마이크로빔 분석 주사전자현미경 CD-SEM을 통한 임계 크기 평가 방법
ISO 10685-2:2016 안과 광학 전자 카탈로그 및 안경테와 선글라스 식별 파트 2: 상업 정보
ISO 10685-3:2012 안과용 광학 안경테와 선글라스의 전자 카탈로그 및 식별 파트 3: 기술 정보
ISO 10685-2:2012 안과 광학 전자 카탈로그 및 안경테와 선글라스 식별 파트 2: 상업 정보
ISO 14966:2019 주변 공기 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정 주사 전자 현미경 방법
ISO 21222:2020 표면 화학 분석 주사 탐침 현미경 원자간력 현미경과 2점 JKR 방법을 사용하여 규격 재료의 탄성 계수를 결정하는 절차.
ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 X선 에너지 분광학을 이용한 단일암 탄소나노튜브의 특성 규명.
ISO 10685-1:2011 안과 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 식별 파트 1: 제품 식별 및 전자 카탈로그 제품 분류

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

JJF 1916-2021 주사전자현미경 교정 사양

Professional Standard - Machinery, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

JB/T 6842-1993 주사전자현미경 시험방법
JB/T 5384-1991 주사전자현미경.기술적 조건
JB/T 7503-1994 금속코팅의 단면두께 주사전자현미경 측정방법

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

JJG(教委) 11-1992 주사전자현미경 교정 절차
JJG 550-1988 주사전자현미경 파일럿 교정 절차

American Society for Testing and Materials (ASTM), 주사전자현미경 및 광학전자현미경

ASTM E2382-04 주사 터널링 현미경 및 원자간력 현미경의 스캐너 및 접촉 관련 품목에 대한 안내
ASTM E2382-04(2012) 주사 터널링 현미경 및 원자간력 현미경의 스캐너 및 접촉 관련 항목에 대한 표준 가이드
ASTM E986-97 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E986-04(2017) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E986-04(2024) 주사전자현미경 빔 크기 특성화를 위한 표준 실습
ASTM E766-98(2003) 주사전자현미경의 배율 교정
ASTM E766-98 주사전자현미경의 배율 교정
ASTM E986-04 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E986-04(2010) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
ASTM E766-14 주사전자현미경 배율 교정을 위한 표준 방법
ASTM E766-98(2008)e1 주사전자현미경의 배율계수에 대한 표준 교정 사양
ASTM C1723-16(2022) 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
ASTM C1723-10 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
ASTM C1723-16 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
ASTM E2090-00 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM E2090-12 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
ASTM E766-14(2019) 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
ASTM E2809-13 법의학 페인트 검사에서 주사전자현미경/X선 분광학 사용에 대한 표준 가이드
ASTM E2142-08(2015) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법
ASTM E2142-08 주사전자현미경을 이용한 철 내 개재물의 등급 및 분류를 위한 표준 시험 방법
ASTM E2142-08(2023) 주사전자현미경을 이용한 강철 내 개재물의 평가 및 분류를 위한 표준 시험 방법
ASTM E1588-95(2001) 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-08 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-10 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E1588-95 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
ASTM E766-14e1 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
ASTM E2090-06 광학 및 주사 전자 현미경을 사용하여 클린룸 와이퍼에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 구별 계수를 위한 표준 테스트 방법
ASTM E2090-12(2020) 광학 및 주사 전자 현미경을 사용하여 클린룸 와이퍼에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 구별 계수를 위한 표준 테스트 방법
ASTM B748-90(1997) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 방법
ASTM B748-90(2006) 주사전자현미경으로 단면을 측정하여 금속코팅의 두께를 측정하는 방법
ASTM E1588-20 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 총기 잔류물 분석의 표준 실습
ASTM E2142-01 주사전자현미경을 이용한 철강의 불순물 등급 및 분류를 위한 표준 테스트 방법

KR-KS, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

KS D ISO 22493-2022 마이크로빔 분석주사전자현미경어휘
KS D ISO 16700-2023 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경 이미지 배율 교정 가이드
KS C ISO 19749-2023 나노기술 - 주사전자현미경을 이용한 입자 크기 및 형태 분포 측정

Professional Standard - Education, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

JY/T 0584-2020 주사전자현미경 분석 방법의 일반 원리
JY/T 010-1996 분석용 주사전자현미경 방법의 일반 원리

GSO, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

BH GSO ISO 22493:2017 마이크로빔 분석 - 주사전자현미경 - 어휘
GSO ISO 22493:2015 마이크로빔 분석 - 주사전자현미경 - 어휘
BH GSO ISO 27911:2016 표면 화학 분석 -- 스캐닝 프로브 현미경 -- 근거리 광학 현미경의 측면 분해능 정의 및 교정
GSO ISO 27911:2013 표면 화학 분석 -- 스캐닝 프로브 현미경 -- 근거리 광학 현미경의 측면 분해능 정의 및 교정
GSO ISO 25498:2015 마이크로빔 분석 -- 분석전자현미경 -- 투과전자현미경을 이용한 선택영역 전자회절 분석
GSO ISO 9220:2013 금속코팅 - 코팅두께 측정 - 주사전자현미경법
GSO ISO/TS 24597:2013 마이크로빔 분석 - 주사전자현미경 - 이미지 선명도 평가 방법
OS GSO ISO/TS 24597:2013 마이크로빔 분석 - 주사전자현미경 - 이미지 선명도 평가 방법
OS GSO ISO 10685-3:2015 안과 광학 - 안경테 및 선글라스 전자 카탈로그 및 식별 - 파트 3: 기술 정보
BH GSO ISO 10685-2:2017 안과 광학 - 안경테 및 선글라스 전자 카탈로그 및 식별 - 2부: 상업 정보
GSO ISO 10685-1:2013 안과 광학 - 안경테 및 선글라스 전자 카탈로그 및 식별 - 1부: 제품 식별 및 전자 카탈로그 제품 계층 구조

British Standards Institution (BSI), 주사전자현미경 및 광학전자현미경

18/30319114 DC BS ISO 20171 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 검사법 주사 전자 현미경 검사법을 위한 태그된 이미지 파일 형식(TIFF/SEM)
BS ISO 27911:2011 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 근접장 광학 현미경의 측면 해상도 정의 및 교정
BS EN ISO 9220:1989 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
BS ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 이미지 확대 교정 안내
BS EN ISO 9220:2022 주사전자현미경을 이용한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
BS EN ISO 10685-3:2012 안과 광학 안경테와 선글라스의 전자 카탈로그 작성 및 식별 기술 정보
BS ISO 19749:2021 나노기술은 주사전자현미경을 사용하여 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
BS EN ISO 10685-2:2016 안과광학, 안경테, 선글라스 전자카탈로그, 감정서, 상업정보
BS EN ISO 10685-2:2012 안과광학, 안경테, 선글라스 전자카탈로그, 감정서, 상업정보
BS ISO 21466:2019 중요 치수를 평가하기 위한 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CDSEM 방법
BS ISO 16700:2016 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경의 이미지 배율 보정 가이드
BS EN ISO 19749:2023 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
21/30394409 DC BS ENISO 9220 금속 코팅의 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경
BS EN ISO 10685-2:2016(2017) 안과용 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 라벨링 제2부: 상업 정보
DD ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
BS EN ISO 10685-1:2011 안과 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 작성 및 식별 제품 식별 및 전자 카탈로그 제품 분류
18/30351679 DC BS ISO 19749 나노기술 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 형태 분포 측정
BS ISO 14966:2019 주사전자현미경을 통한 대기 중 무기섬유 입자의 농도 수치 측정
18/30344520 DC BS ISO 21466 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CD-SEM 임계 치수 평가 방법
BS 4793:1972(2011) 텔레비전 카메라 렌즈의 광학 성능 지정에 대한 권장 사항
BS ISO 21222:2020 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 원자간력 현미경과 2점 JKR 방법을 사용하여 규격 재료의 탄성 계수를 결정하는 절차

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

GB/T 36422-2018 주사전자현미경법을 이용한 화학섬유의 미세한 형태 및 직경 측정
GB/T 16594-1996 미크론 수준의 길이를 주사전자현미경으로 측정하는 방법
GB/T 31563-2015 금속 코팅 두께 측정을 위한 주사전자현미경 방법
GB/T 17722-1999 금속캡층 두께의 주사전자현미경 측정방법
GB/T 17359-1998 전자탐침과 주사전자현미경을 이용한 X선 에너지 분광법의 정량분석 일반원리
GB/T 16594-2008 미크론 단위 길이의 주사 전자 현미경 측정 방법에 대한 일반 규칙
GB/T 20307-2006 나노크기 길이의 주사전자현미경 측정 방법에 대한 일반 규칙
GB/T 30834-2014 강철의 비금속 개재물 평가 및 통계적 주사전자현미경법
GB/T 30834-2022 강철의 비금속 개재물 평가 및 통계적 주사전자현미경법
GB/T 17362-2008 금제품의 주사전자현미경 및 X선 에너지분광법 분석방법
GB/T 27788-2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경 이미지 확대 보정 지침
GB/T 17362-1998 금 장신구의 주사전자현미경 및 X선 에너지 분광법 분석방법
GB/T 18295-2001 석유 및 가스 저장소의 사암 시료에 대한 주사전자현미경 분석 방법
GB/T 25189-2010 마이크로빔 분석주사형 전자현미경 에너지 분광계의 정량 분석 매개변수 결정 방법
GB/T 14593-2008 캐시미어, 양모 및 이들의 혼합섬유의 정량분석법 주사전자현미경법
GB/T 43661-2024 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 2D 도펀트 이미징과 같은 응용 분야를 위한 전기 스캐닝 프로브 현미경(SSRM 및 SCM과 같은 ESPM)의 공간 분해능 정의 및 교정
GB/T 19267.6-2003 범죄 수법의 흔적 증거에 대한 물리화학적 조사 제6부, 주사전자현미경
GB/T 28873-2012 나노입자 생물형태 효과에 대한 환경주사전자현미경 검출 방법의 일반 원리

Professional Standard - Public Safety Standards, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

GA/T 1939-2021 법과학 현물검사 주사전자현미경/X선 에너지분광학
GA/T 1938-2021 법의학 금속 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1937-2021 법의학 고무 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1418-2017 법과학 증거유리의 원소 조성 조사 주사전자현미경/에너지분광학
GA/T 1522-2018 법의학 사격 잔류물 검사 주사전자현미경/X선 분광법
GA/T 1521-2018 법과학 플라스틱 원소 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
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GA/T 823.3-2018 실제 페인트 증거 조사를 위한 법의학 방법 3부: 주사 전자 현미경/X선 분광학

工业和信息化部, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

SJ/T 11759-2020 태양전지 전극 그리드 라인 종횡비 레이저 스캐닝 공초점 현미경 측정
YS/T 1491-2021 주사전자현미경을 이용한 니켈계 고온합금분말의 구형도 측정방법

Professional Standard - Petroleum, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

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SY/T 5162-1997 암석시료의 주사전자현미경 분석방법
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Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

DB31/T 297-2003 주사전자현미경 배율 교정 방법

Association of German Mechanical Engineers, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

VDI 3866 Blatt 5-2004 주사 전자 현미경을 통한 기술 제품의 석면 측정

国家能源局, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

SY/T 5162-2021 암석시료의 주사전자현미경 분석방법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

GB/T 33834-2017 마이크로빔 분석 주사전자현미경 생물학적 시료의 주사전자현미경 분석방법

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

DB44/T 1527-2015 마이크로빔 분석 주사전자현미경 이미지 선명도 평가 방법

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

DB32/T 4546-2023 주사전자현미경을 이용한 규조영상의 자동검사 기술규격
DB32/T 3459-2018 그래핀 필름의 미세 영역 커버리지를 테스트하기 위한 주사 전자 현미경 방법

Professional Standard - Judicatory, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

SF/T 0139-2023 토양검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광법

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

GB/T 27788-2020 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경 이미지의 배율 보정 지침
GB/T 38783-2020 귀금속 복합재료의 코팅 두께 측정을 위한 주사전자현미경 방법
GB/T 35099-2018 마이크로빔 분석 주사전자현미경-에너지분광학 단일입자 형태학 및 대기 미세입자의 원소 분석

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

GJB 737.11-1993 불꽃 화학 물질에 대한 테스트 방법 입자 크기 측정 주사 전자 현미경

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

VDI 3866 BLATT 5-2015 기술 제품의 석면 측정 - 주사 전자 현미경 방법
VDI 3866 Blatt 5-2003 Technischen Produkten의 Bestimmune von Asbest - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren
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VDI 3877 Blatt 1-2009 Messen von Innenraumverunreinigungen - Messen von auf Oberflaechen abgelagerten Faserstaeuben - Rasterelektronenmikroskopisches Verfahren

Association Francaise de Normalisation, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

NF X21-005:2006 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
NF A91-108:1995 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
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NF T16-403*NF ISO 19749:2021 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
NF T25-111-4:1991 탄소 섬유 - 질감 및 구조 - 4부: 주사 전자 현미경 파쇄법
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경을 이용한 이미지 선명도 평가 방법
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NF EN ISO 10685-1:2012 안과용 광학 - 안경 및 선글라스 프레임의 카탈로그 및 식별 - 1부: 제품 식별 및 전자 카탈로그 계층 구조
NF S11-560-2:2013 안과 광학 전자 카탈로그 및 안경테와 선글라스 식별 파트 2: 상업 정보
NF S11-560-2*NF EN ISO 10685-2:2016 안과용 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 감정 제2부: 상업 정보
NF S11-560-3*NF EN ISO 10685-3:2013 안과용 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 식별 정보 3부: 기술 정보
FD T16-203:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.
NF S11-560-1*NF EN ISO 10685-1:2012 안과용 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 식별 1부: 제품 식별 및 전자 카탈로그 제품 분류

SE-SIS, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

SIS SS-ISO 9220:1989 금속 코팅. 코팅 두께 측정. 주사전자현미경 방법
SIS SS CECC 00013-1985 기본 사양. 반도체 칩의 주사전자현미경 관찰

European Committee for Standardization (CEN), 주사전자현미경 및 광학전자현미경

EN ISO 9220:2022 금속 피복 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경
EN ISO 19749:2023 나노기술 주사전자현미경을 이용한 입자크기 및 형상분포 측정
EN ISO 9220:1994 금속 피복 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경 방법(ISO 9220-1988)
prEN ISO 9220:2021 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO/DIS 9220:2021)
EN ISO 10685-3:2012 안과용 광학 안경테, 선글라스 전자 카탈로그 및 식별 정보 파트 3: 기술 정보

RU-GOST R, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

GOST R 8.594-2009 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 주사전자현미경
GOST R ISO 27911-2015 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 근접장 광학 현미경의 측면 해상도 정의 및 교정
GOST R 8.636-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템, 주사형 전자현미경, 교정 방법
GOST 8.594-2009 국가 측정 균일성 보증 시스템 주사전자현미경 식별방법
GOST R 8.631-2007 국가 측정 균일성 보증 시스템 주사형 전자 측정 현미경 검증 방법

Danish Standards Foundation, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

DS/EN ISO 9220:1995 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
DS/ISO 19749:2021 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
DS/EN ISO 10685-3:2013 안과용 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 라벨링 제3부: 기술 정보
DS/EN ISO 10685-2:2013 안과용 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 라벨링 제2부: 상업 정보
DS/ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.

German Institute for Standardization, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

DIN EN ISO 9220:2022-05 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사전자현미경
DIN EN ISO 9220:2021 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO/DIS 9220:2021)
DIN EN ISO 10685-3:2013-03 안과용 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 라벨링 제3부: 기술 정보
DIN SPEC 52407:2015-03 원자현미경(AFM)과 투과주사전자현미경(TSEM)을 이용한 입자 측정을 위한 나노기술 준비 및 평가 방법
DIN EN ISO 19749:2023-07 나노기술 - 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 형태 분포 측정(ISO 19749:2021)
DIN EN ISO 19749:2023 나노기술 - 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정(ISO 19749:2021)
DIN EN ISO 10685-1:2012-03 안과용 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 라벨링 1부: 제품 라벨링 및 전자 카탈로그 제품 계층 구조

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

DB35/T 110-2000 페인트 증거물 검출을 위한 전자탐침 및 주사전자현미경 X선 에너지 분광분석 방법

GOSTR, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

GOST R 58566-2019 광학 및 포토닉스 광학 및 전자 시스템을 위한 렌즈 테스트 방법
PNST 508-2020 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 특징으로 하는 나노기술 단일벽 탄소나노튜브

ES-UNE, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

UNE-EN ISO 9220:2022 금속코팅의 코팅두께 측정을 위한 주사전자현미경 방법
UNE-EN ISO 19749:2023 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
UNE-EN ISO 10685-2:2016 안과용 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 라벨링 제2부: 상업 정보

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

GJB 5891.6-2006 불꽃놀이 시험 방법 6부: 입자 크기 측정을 위한 주사 전자 현미경 방법

AENOR, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

UNE-EN ISO 9220:1996 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정(ISO 9220:1988)
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Lithuanian Standards Office , 주사전자현미경 및 광학전자현미경

LST EN ISO 9220:2001 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO 9220:1988)
LST EN ISO 10685-3:2013 안과용 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 라벨링 제3부: 기술 정보(ISO 10685-3:2012)
LST EN ISO 10685-2:2013 안과용 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 라벨링 제2부: 상업 정보(ISO 10685-2:2012)

GOST, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

GOST R 70038-2022 광학 및 포토닉스. 광전자 시스템용 렌즈. 초점 거리 측정 방법
GOST R ISO 14966-2022 주변 공기. 무기 섬유 입자의 수치 농도 결정. 주사전자현미경법

AT-ON, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

OENORM EN ISO 9220:2021 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사 전자 현미경 방법(ISO/DIS 9220:2021)

PL-PKN, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

PN T04880-1972 전자관. 오실로스코프 튜브 및 전파 이미징 거울. 전기 및 광학 테스트 방법

CEN - European Committee for Standardization, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

EN ISO 10685-2:2012 안과용 안경테, 선글라스 전자 카탈로그 및 식별 정보 제2부: 상업 정보

BE-NBN, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

NBN EN ISO 9220:1995 금속 보호층. 보호층 두께 측정: 주사전자현미경(ISO 9220-1988) 사용

未注明发布机构, 주사전자현미경 및 광학전자현미경

SEMI F73-0309-2009 스테인레스 스틸 부품의 젖은 표면 상태의 주사 전자 현미경(SEM) 평가를 위한 테스트 방법
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DIN EN ISO 10685-2 E:2011-08 안과용 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 식별 제2부: 상업 정보(초안)
DIN EN ISO 10685-3 E:2011-08 안과용 광학 안경테 및 선글라스의 전자 카탈로그 및 식별 파트 3: 기술 정보(초안)

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