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주사전자현미경 및 광학

모두 51항목의 주사전자현미경 및 광학와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 주사전자현미경 및 광학와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 길이 및 각도 측정, 광학 장비, 어휘, 분석 화학, 비철금속, 공기질, 열역학 및 온도 측정, 전자 디스플레이 장치, 섬유 섬유, 물리학, 화학, 범죄 예방, 광학 및 광학 측정, 페인트 및 바니시, 의료 과학 및 의료 기기 통합.


Professional Standard - Commodity Inspection, 주사전자현미경 및 광학

  • SN/T 4388-2015 가죽 식별 주사전자현미경 및 광학현미경

American Society for Testing and Materials (ASTM), 주사전자현미경 및 광학

  • ASTM E2382-04 주사 터널링 현미경 및 원자간력 현미경의 스캐너 및 접촉 관련 품목에 대한 안내
  • ASTM E2382-04(2012) 주사 터널링 현미경 및 원자간력 현미경의 스캐너 및 접촉 관련 항목에 대한 표준 가이드
  • ASTM E986-97 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM E986-04(2017) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM E2809-13 법의학 페인트 검사에서 주사전자현미경/X선 분광학 사용에 대한 표준 가이드
  • ASTM E1588-95(2001) 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1588-08 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1588-10 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1588-95 주사전자현미경/에너지 분산 분광법을 이용한 총상 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E2090-06 광학 및 주사 전자 현미경을 사용하여 클린룸 와이퍼에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 구별 계수를 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E2090-12(2020) 광학 및 주사 전자 현미경을 사용하여 클린룸 와이퍼에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 구별 계수를 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E1588-20 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 총기 잔류물 분석의 표준 실습
  • ASTM E2090-00 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E2090-12 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E280-98(2004)e1 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1588-07 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E2809-22 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드
  • ASTM E1588-07e1 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법을 이용한 사격 잔류물 분석을 위한 표준 가이드
  • ASTM E280-21 법의학 고분자 검사에서 주사전자현미경/에너지 분산형 X선 분광법(SEM/EDS) 사용을 위한 표준 가이드

Group Standards of the People's Republic of China, 주사전자현미경 및 광학

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 주사전자현미경 및 광학

International Organization for Standardization (ISO), 주사전자현미경 및 광학

  • ISO 27911:2011 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 근접장 광학 현미경의 측면 해상도 정의 및 교정
  • ISO 22493:2008 마이크로빔 분석주사전자현미경 방법어휘
  • ISO/WD TR 23683:2023 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 전기 스캐닝 프로브 현미경을 사용하여 반도체 장치의 캐리어 농도를 실험적으로 정량화하는 방법에 대한 가이드
  • ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경법 영상선명도 평가법
  • ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 X선 에너지 분광학을 이용한 단일암 탄소나노튜브의 특성 규명.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 주사전자현미경 및 광학

  • JIS K 3850-1:2006 공기 중 섬유 분자 측정 1부: 광학 현미경 및 주사 전자 현미경
  • JIS K 3850-1:2000 공기 중의 섬유상 입자 측정 방법 1부: 광학 현미경 및 주사전자현미경
  • JIS K 0149-1:2008 마이크로빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 주사전자현미경 및 광학

  • GB/T 36422-2018 주사전자현미경법을 이용한 화학섬유의 미세한 형태 및 직경 측정

British Standards Institution (BSI), 주사전자현미경 및 광학

  • BS ISO 27911:2011 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 근접장 광학 현미경의 측면 해상도 정의 및 교정
  • DD ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.

工业和信息化部, 주사전자현미경 및 광학

  • SJ/T 11759-2020 태양전지 전극 그리드 라인 종횡비 레이저 스캐닝 공초점 현미경 측정

Professional Standard - Public Safety Standards, 주사전자현미경 및 광학

  • GA/T 1939-2021 법과학 현물검사 주사전자현미경/X선 에너지분광학
  • GA/T 1938-2021 법의학 금속 검사 주사전자현미경/X선 분광법
  • GA/T 1937-2021 법의학 고무 검사 주사전자현미경/X선 분광법
  • GA/T 1418-2017 법과학 증거유리의 원소 조성 조사 주사전자현미경/에너지분광학
  • GA/T 1522-2018 법의학 사격 잔류물 검사 주사전자현미경/X선 분광법
  • GA/T 1521-2018 법과학 플라스틱 원소 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
  • GA/T 1519-2018 법과학 토너 성분 조성 검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광학
  • GA/T 1520-2018 법의학 흑색 화약 및 불꽃 분말 원소 조성 검사 주사 전자 현미경/X선 에너지 분광학
  • GA/T 823.3-2018 실제 페인트 증거 조사를 위한 법의학 방법 3부: 주사 전자 현미경/X선 분광학

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 주사전자현미경 및 광학

  • GB/T 35099-2018 마이크로빔 분석 주사전자현미경-에너지분광학 단일입자 형태학 및 대기 미세입자의 원소 분석

RU-GOST R, 주사전자현미경 및 광학

  • GOST R ISO 27911-2015 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 근접장 광학 현미경의 측면 해상도 정의 및 교정

GOSTR, 주사전자현미경 및 광학

  • PNST 508-2020 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 특징으로 하는 나노기술 단일벽 탄소나노튜브

Danish Standards Foundation, 주사전자현미경 및 광학

  • DS/ISO/TS 10798:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.

Association Francaise de Normalisation, 주사전자현미경 및 광학

  • FD T16-203:2011 나노기술은 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화하기 위해 주사 전자 현미경과 에너지 분산형 X선 분광학을 사용합니다.




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