투과전자현미경 및 전자회절

모두 119항목의 투과전자현미경 및 전자회절와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 투과전자현미경 및 전자회절와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 광학 장비, 광학 및 광학 측정, 분석 화학, 계측 및 측정 합성, 기르다, 어휘, 광전자공학, 레이저 장비, 금속 재료 테스트, 소방, 기술 도면, 표면 처리 및 도금, 복합강화재료, 물리학, 화학, 공기질, 섬유제품.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 투과전자현미경 및 전자회절

GB/T 18907-2002 투과전자현미경으로 선택된 전자회절 분석방법
GB/T 18907-2013 마이크로빔 분석, 분석전자현미경, 투과전자현미경, 선정된 전자회절분석법
GB/T 19501-2004 전자 후방 산란 회절 분석 방법의 일반 원리
GB/T 21637-2008 코로나바이러스 투과전자현미경 형태학적 동정방법
GB/T 18873-2002 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 18873-2008 생물학적 얇은 시료의 투과전자현미경-X선 분광학 정량분석의 일반원리
GB/T 19501-2013 마이크로빔 분석의 일반 원리 전자 후방 산란 회절 분석 방법
GB/T 17507-2008 생물학적 얇은 표준의 투과전자현미경 및 X선 에너지 분광학 분석을 위한 일반 기술 조건
GB/T 36165-2018 전자 후방 산란 회절(EBSD) 방법을 통한 금속의 평균 입자 크기 결정
GB/T 30703-2014 마이크로빔 분석을 위한 지침 전자 후방 산란 회절 방향 분석 방법
GB/T 28044-2011 나노물질의 생물학적 효과에 대한 투과전자현미경 검출 방법에 대한 일반 규칙
GB 7667-1996 전자현미경 X선 누출량
GB 7667-2003 전자현미경 X선 누출량
GB/T 38532-2020 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 결정
GB/Z 21738-2008 1차원 나노물질의 기본구조, 고해상도 투과전자현미경 검출방법
GB/T 20724-2006 얇은 결정 두께에 대한 수렴빔 전자 회절 측정 방법
GB/T 28044-2011(英文版) 투과전자현미경을 통한 나노물질의 생물학적 효과 검출 방법에 대한 일반 지침

International Organization for Standardization (ISO), 투과전자현미경 및 전자회절

ISO/CD 25498:2023 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
ISO/CD 23699 마이크로빔 분석 - 전자 후방 산란 전자 회절 - 어휘
ISO/CD 19214:2023 마이크로빔 분석, 분석전자현미경 및 투과전자현미경을 사용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 방법.
ISO 13067:2011 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
ISO 21363:2020 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 분포 측정 프로토콜
ISO 13794:2019 주변 공기 - 석면 섬유 측정 - 간접 전달 투과 전자 현미경
ISO 10312:2019 주변 공기 석면 섬유 측정 직접 전달 투과 전자 현미경.
ISO 23749:2022 마이크로빔 분석, 전자 후방 산란 회절, 강철의 오스테나이트 정량 측정
ISO 13067:2020 마이크로빔 분석 - 전자 후방 산란 회절 - 평균 입자 크기 측정
ISO 24173:2009 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
ISO/DIS 24173:2023 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
ISO/TS 10797:2012 나노기술 투과전자현미경을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명
ISO/TS 22292:2021 나노기술 투과전자현미경을 이용한 막대 지지 나노 물체의 3차원 이미지 재구성

British Standards Institution (BSI), 투과전자현미경 및 전자회절

BS ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 투과전자현미경을 이용한 선택된 영역 전자회절 분석
BS ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
PD ISO/TS 10797:2012 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화합니다.
BS ISO 13067:2011 마이크로빔 분석 후방 산란 전자 회절 평균 입자 크기 측정
BS ISO 13067:2020 평균 입자 크기의 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 측정
15/30292710 DC 투과전자현미경에 의한 선형 결정 성장 방향 결정을 위한 BS ISO 19214 가이드
BS ISO 13794:2019 간접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
BS ISO 10312:2019 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
BS ISO 23749:2022 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 통한 강철 내 오스테나이트의 정량적 측정
BS EN ISO 21363:2022 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
BS ISO 21363:2020 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
BS ISO 24173:2009 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 이용한 방위각 측정 기준
PD ISO/TS 22292:2021 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 막대 모양 나노 물체의 3D 이미지를 재구성합니다.
19/30365236 DC BS ISO 13067 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
21/30398224 DC BS ISO 23749 마이크로빔 분석을 통한 전자 후방 산란 회절을 통한 강철의 오스테나이트 정량 측정
BS PD ISO/TS 22292:2021 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 막대로 지지된 나노 물체의 3D 이미지를 재구성합니다.
18/30351714 DC BS ISO 21363 나노기술 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정
23/30435799 DC BS ISO 24173 마이크로빔 분석에 의한 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드

Professional Standard - Machinery, 투과전자현미경 및 전자회절

JB/T 9352-1999 투과전자현미경 시험 방법
JB/T 5383-1991 투과전자현미경 기술 조건
JB/T 5584-1991 투과전자현미경 배율 시험방법
JB/T 5585-1991 투과전자현미경 분해능 시험방법
JB/T 5586-1991 투과전자현미경 분류 및 기본 매개변수

Group Standards of the People's Republic of China, 투과전자현미경 및 전자회절

T/CSTM 00162-2020 투과전자현미경 교정방법
T/CSTM 00166.3-2020 그래핀 재료 특성화 3부 투과전자현미경
T/CNTAC 21-2018 섬유 내 그래핀 물질의 식별 방법 투과전자현미경

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 투과전자현미경 및 전자회절

JJG(地质) 1016-1990 투과전자현미경 교정 절차
JJG(教委) 12-1992 투과전자현미경 교정 절차

Professional Standard - Education, 투과전자현미경 및 전자회절

JY/T 011-1996 투과전자현미경 방법의 일반 원리
JY/T 0581-2020 투과전자현미경 분석 방법에 대한 일반 규칙

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 투과전자현미경 및 전자회절

GB/T 35098-2018 마이크로빔 분석 투과전자현미경 투과전자현미경 식물 바이러스 형태 식별
GB/T 41076-2021 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 통한 강철 내 오스테나이트 정량 분석

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 투과전자현미경 및 전자회절

DB31/T 315-2004 투과전자현미경 배율 교정 방법
DB31/T 1156-2019 전기 화재 용융 마크 기술 식별 전자 후방 산란 회절 방법

IX-IX-IEC, 투과전자현미경 및 전자회절

IEC TS 62607-6-17:2023 나노제조의 주요 제어 특성 6-17부: 그래핀 기반 재료 주문 매개변수: X선 회절 및 투과 전자 현미경

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 투과전자현미경 및 전자회절

KS D 2716-2008(2018) 나노입자 직경 측정 - 투과전자현미경
KS D 2716-2008 나노입자 직경 측정 기술 투과전자현미경
KS D 8544-2006 금속 코팅 코팅 두께 측정 투과 전자 현미경
KS D 8544-2016(2021) 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 투과 전자 현미경
KS I ISO 10312-2008(2018) 직접투과전자현미경을 통한 주변 공기 석면 섬유 측정
KS D 8544-2016 금속 코팅 코팅 두께 측정 코팅 투과 전자 현미경 방법
KS I ISO 13794-2008(2018) 간접투과전자현미경을 통한 대기 중의 석면 섬유 함량 측정

KR-KS, 투과전자현미경 및 전자회절

KS D 2716-2023 나노입자 직경 측정 - 투과전자현미경
KS C ISO 21363-2023 나노기술 - 투과전자현미경을 사용하여 입자 크기 및 모양 분포 측정

工业和信息化部, 투과전자현미경 및 전자회절

YB/T 4676-2018 투과전자현미경을 이용한 철강의 석출상 분석
YB/T 4677-2018 강철 전자 후방 산란 회절(EBSD) 방법의 질감 결정

United States Navy, 투과전자현미경 및 전자회절

NAVY UFGS-01 33 29-2010 저에너지 전자 회절(TM) 파일

American Society for Testing and Materials (ASTM), 투과전자현미경 및 전자회절

ASTM E3143-18a 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
ASTM E3143-18 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
ASTM E3143-18b 리포솜의 저온투과 전자현미경에 대한 표준 관행
ASTM E3143-18b(2023) 리포솜의 저온 투과 전자 현미경 검사를 수행하기 위한 표준 관행

Association Francaise de Normalisation, 투과전자현미경 및 전자회절

NF ISO 24173:2009 마이크로빔 분석 후방산란 전자 회절 방향 측정 가이드
NF X21-014:2012 마이크로빔 분석, 전자 후방 산란 회절, 평균 입자 크기 측정
FD T16-209:2012 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화합니다.
NF T16-404:2020 나노기술 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 형상 분포 측정
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
NF ISO 13794:2020 간접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 중 석면 섬유 측정
NF ISO 10312:2020 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
NF X21-011*NF ISO 24173:2009 마이크로빔 분석을 위한 전자 후방 산란 회절 방향 측정 가이드
NF X43-050:2021 투과전자현미경 간접법을 이용한 석면섬유 농도의 공기질 측정
NF EN ISO 21363:2022 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정
NF X43-067*NF ISO 10312:2020 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
NF X43-054*NF ISO 13794:2020 간접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정

Professional Standard - Commodity Inspection, 투과전자현미경 및 전자회절

SN/T 2649.1-2010 수출입 화장품 내 석면 측정 1부: X선 회절-주사 전자현미경
SN/T 3514-2013 전기강판의 결정립 방향성 및 비방향성을 식별하는 방법 조직 결정을 위한 X선 회절 방법

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 투과전자현미경 및 전자회절

GB/T 34331-2017 오이녹색반점모자이크바이러스의 투과전자현미경 검출방법
GB/T 34168-2017 금, 은 나노입자 소재의 생물학적 효과를 투과전자현미경으로 검출하는 방법
GB/T 34172-2017 금속 및 합금의 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 위상 분석 방법

PH-BPS, 투과전자현미경 및 전자회절

PNS ISO 21363:2021 나노기술 투과전자현미경을 이용한 입자크기 및 형상분포 측정

Danish Standards Foundation, 투과전자현미경 및 전자회절

DS/ISO/TS 10797:2012 나노기술은 투과전자현미경을 사용하여 단일벽 탄소 나노튜브를 특성화합니다.

German Institute for Standardization, 투과전자현미경 및 전자회절

DIN ISO 13067:2021-08 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
DIN ISO 13067:2015 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정(ISO 13067-2011)
DIN ISO 24173:2013-04 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
DIN ISO 13067:2021 평균 입자 크기의 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 측정(ISO 13067:2020)
DIN SPEC 52407:2015-03 원자현미경(AFM)과 투과주사전자현미경(TSEM)을 이용한 입자 측정을 위한 나노기술 준비 및 평가 방법
DIN EN ISO 21363:2022-03 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정(ISO 21363:2020)

European Committee for Standardization (CEN), 투과전자현미경 및 전자회절

EN ISO 21363:2022 나노기술 - 투과전자현미경을 통한 입자 크기 분포 측정 프로토콜
prEN ISO 21363:2021 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포의 나노기술 측정(ISO 21363:2020)

AENOR, 투과전자현미경 및 전자회절

UNE 77236:1999 직접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정
UNE 77253:2003 간접 전달 투과 전자 현미경을 통한 대기 석면 섬유 측정

ES-UNE, 투과전자현미경 및 전자회절

UNE-EN ISO 21363:2022 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.

International Electrotechnical Commission (IEC), 투과전자현미경 및 전자회절

ISO TS 10797:2012 나노기술 투과전자현미경을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명

AT-ON, 투과전자현미경 및 전자회절

OENORM EN ISO 21363:2021 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포의 나노기술 측정(ISO 21363:2020)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 투과전자현미경 및 전자회절

JIS K 3850-3:2000 공기 중 섬유 입자 측정 방법 3부: 간접 전달 투과 전자 현미경
JIS K 3850-2:2000 공기 중 섬유상 입자 측정 방법 2부: 직접 전달 투과 전자 현미경

未注明发布机构, 투과전자현미경 및 전자회절

DIN EN ISO 21363:2022 나노기술 – 투과전자현미경을 이용한 입자 크기 및 입자 형태 분포 측정

GOSTR, 투과전자현미경 및 전자회절

PNST 507-2020 투과전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 사용하여 특성화한 나노기술 단일벽 탄소나노튜브