ZH
EN
ES
Значение эллипсометра
Значение эллипсометра, Всего: 18 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Значение эллипсометра, являются: Станки, Метрология и измерения в целом, Неразрушающий контроль, Линейные и угловые измерения.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Значение эллипсометра
British Standards Institution (BSI), Значение эллипсометра
German Institute for Standardization, Значение эллипсометра
- DIN EN ISO 23131:2023-01 Эллипсометрия. Принципы (ISO 23131:2021); Немецкая версия EN ISO 23131:2022.
- DIN EN ISO 23131:2023 Эллипсометрия. Принципы (ISO 23131:2021)
- DIN 50989-2:2021-04 Эллипсометрия. Часть 2. Модель сыпучего материала; Текст на немецком и английском языках
- DIN 50989-3:2022-04 Эллипсометрия. Часть 3. Прозрачная однослойная модель
- DIN 50989-6:2023-03 Эллипсометрия. Часть 6. Модель эффективных материалов; Текст на немецком и английском языках. Примечание. Дата выпуска: 27 января 2023 г.
- DIN 50989-4:2022-09 Эллипсометрия. Часть 4. Полупрозрачная однослойная модель; Текст на немецком и английском языках
- DIN 50989-5:2023-03 Эллипсометрия. Часть 5. Модель нескольких слоев и периодических слоев; Текст на немецком и английском языках. Примечание. Дата выпуска: 27 января 2023 г.
- DIN 50989-1:2018 Эллипсометрия. Часть 1: Принципы; Текст на немецком и английском языках
Association Francaise de Normalisation, Значение эллипсометра
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Значение эллипсометра
ES-UNE, Значение эллипсометра
International Organization for Standardization (ISO), Значение эллипсометра
- IEC TR 63258:2021 Нанотехнологии. Руководство по применению эллипсометрии для оценки толщины наноразмерных пленок.
- IEC/TR 63258:2021 Нанотехнологии. Руководство по применению эллипсометрии для оценки толщины наноразмерных пленок.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Значение эллипсометра
- GB/T 31225-2014 Метод определения толщины оксида кремния на подложке Si с помощью эллипсометра