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Valor del elipsómetro

Valor del elipsómetro, Total: 18 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Valor del elipsómetro son: Herramientas de máquina, Metrología y medición en general., Pruebas no destructivas, Medidas lineales y angulares..


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Valor del elipsómetro

British Standards Institution (BSI), Valor del elipsómetro

Association Francaise de Normalisation, Valor del elipsómetro

German Institute for Standardization, Valor del elipsómetro

  • DIN EN ISO 23131:2023-01 Elipsometría - Principios (ISO 23131:2021); Versión alemana EN ISO 23131:2022
  • DIN EN ISO 23131:2023 Elipsometría - Principios (ISO 23131:2021)
  • DIN 50989-3:2022-04 Elipsometría - Parte 3: Modelo transparente de una sola capa; Texto en alemán e inglés.
  • DIN 50989-2:2021-04 Elipsometría - Parte 2: Modelo de material a granel; Texto en alemán e inglés.
  • DIN 50989-6:2023-03 Elipsometría - Parte 6: Modelo de materiales efectivos; Texto en alemán e inglés / Nota: Fecha de emisión 2023-01-27
  • DIN 50989-4:2022-09 Elipsometría - Parte 4: Modelo semitransparente de una sola capa; Texto en alemán e inglés.
  • DIN 50989-5:2023-03 Elipsometría - Parte 5: Modelo de capas múltiples y capas periódicas; Texto en alemán e inglés / Nota: Fecha de emisión 2023-01-27
  • DIN 50989-1:2018 Elipsometría - Parte 1: Principios; Texto en alemán e inglés.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Valor del elipsómetro

ES-UNE, Valor del elipsómetro

International Organization for Standardization (ISO), Valor del elipsómetro

  • IEC TR 63258:2021 Nanotecnologías: una guía para la aplicación de elipsometría para evaluar el espesor de películas a nanoescala
  • IEC/TR 63258:2021 Nanotecnologías: una guía para la aplicación de elipsometría para evaluar el espesor de películas a nanoescala

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Valor del elipsómetro

  • GB/T 31225-2014 Método de prueba para el espesor del óxido de silicio sobre sustrato de Si mediante elipsómetro




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