ZH
EN
ES
Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия, Всего: 285 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия, являются: Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Образование, Словари, Защита от преступности, Термодинамика и измерения температуры, Электронные устройства отображения, Линейные и угловые измерения, Обработка поверхности и покрытие, Строительные материалы, Качество воздуха, Фотография, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Полупроводниковые приборы, Краски и лаки, Изделия из железа и стали, Медицинское оборудование, Керамика, Испытание металлов, Текстильные волокна, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Цветные металлы, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Физика. Химия, Устройства хранения данных, Ингредиенты краски, Приложения для обработки изображений документов, Микропроцессорные системы, Рыбалка и рыбоводство, Электронные лампы.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 7542:1993 Размеры фотопленки для использования в электронном сканере
- JIS T 1507:1989 Электронное линейно-сканирующее ультразвуковое диагностическое оборудование
- JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
International Organization for Standardization (ISO), Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
- ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
- ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
- ISO 14966:2019 Воздух окружающий. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 22493:2014 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO 11312:1993 Фотография; размеры пленки; пленка для использования в электронном сканере
- ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 16067-2:2004 Фотография. Электронные сканеры фотографических изображений. Измерения пространственного разрешения. Часть 2. Пленочные сканеры.
- ISO 14966:2002/cor 1:2007 Воздух атмосферный - Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц - Метод сканирующей электронной микроскопии; Техническое исправление 1
- ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- ISO 21550:2004 Фотография. Электронные сканеры фотографических изображений. Измерения динамического диапазона.
- ISO 16067-1:2003 Фотография. Измерения пространственного разрешения электронных сканеров фотографических изображений. Часть 1. Сканеры для отражающих сред.
- ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- ISO 17751-2:2014 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 12653-1:2000 Электронная обработка изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 1. Характеристики.
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
Professional Standard - Machinery, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
- JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
- JB/T 7503-1994 Толщина поперечного сечения металлических покрытий Метод измерения сканирующим электронным микроскопом
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
- JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
- KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS A ISO 16067-2-2005(2020) Фотография-Электронные сканеры для фотографических изображений-Измерение пространственного разрешения-Часть 2:Сканеры для пленок
- KS A ISO 16067-2:2005 Фотография-Электронные сканеры для фотографических изображений-Измерение пространственного разрешения-Часть 2: Пленочные сканеры
- KS A ISO 16067-1:2005 Фотография. Измерение пространственного разрешения электронных сканеров фотографических изображений. Часть 1. Сканеры для отражающих сред.
- KS X ISO/IEC 15780:2013 Информационные технологии-Картридж с магнитной лентой шириной 8 мм-Запись со спиральной разверткой-AIT-формат 1
- KS A ISO 21550:2005 Фотография-Электронные сканеры для фотографических изображений-Измерения динамического диапазона
- KS A ISO 21550-2005(2020) Фотография-Электронные сканеры для фотографических изображений-Измерения динамического диапазона
- KS A ISO 16067-1-2005(2020) Фотография. Измерение пространственного разрешения электронных сканеров фотографических изображений. Часть 1. Сканеры для отражающих сред.
- KS K ISO 17751-2:2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- KS X ISO 12653-1-2007(2017) Электронная обработка изображений. Тестовая цель для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 1: Характеристики.
- KS X ISO 12653-1-2007(2022) Электронная обработка изображений. Тестовая цель для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 1: Характеристики.
- KS X ISO 12653-1:2007 Электронная обработка изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 1: Характеристики.
- KS C IEC TR 61948-3:2020 Приборы для ядерной медицины. Рутинные испытания. Часть 3. Позитронно-эмиссионные томографы.
- KS C IEC TR 61948-3:2017 Приборы ядерной медицины ─ Рутинные исследования ─ Часть 3: Позитронно-эмиссионные томографы
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 33838-2017 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
KR-KS, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- KS K ISO 17751-2-2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- KS C IEC TR 61948-3-2020 Приборы для ядерной медицины. Рутинные испытания. Часть 3. Позитронно-эмиссионные томографы.
Professional Standard - Education, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
British Standards Institution (BSI), Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- BS EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS CECC 00013:1985 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: базовая спецификация: проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
- BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
- BS ISO 14966:2019 Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
- 18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
- BS ISO 22493:2014 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарный запас
- BS ISO 16067-2:2004 Фотография. Электронные сканеры фотографических изображений. Измерения пространственного разрешения. Пленочные сканеры
- 18/30351679 DC BS ISO 19749. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- 18/30375050 DC BS ISO 14966. Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
- BS ISO 16067-1:2003 Фотография. Измерения пространственного разрешения электронных сканеров фотографических изображений. Сканеры для светоотражающих носителей
- BS EN ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей - метод сканирующей электронной микроскопии
- BS ISO 21550:2004 Фотография. Электронные сканеры фотографических изображений. Измерения динамического диапазона.
- DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- BS ISO 12653-1:2000 Электронная обработка изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Характеристики.
- BS ISO 12653-1:2001 Электронная визуализация. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Характеристики
- BS EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Метод сканирующей электронной микроскопии
- PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Общие положения и определения. Формат обмена данными сканирования ближнего поля
- 12/30228339 DC БС ИСО 16000-27. Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- BS ISO 12653-2:2000 Электронное отображение изображений. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Метод использования.
- BS ISO 12653-2:2001 Электронная визуализация. Тестовая мишень для черно-белого сканирования офисных документов. Способ применения
- PD IEC/TR 61948-3:2018 Отслеживаемые изменения. Приборы ядерной медицины. Рутинные тесты. Позитронно-эмиссионные томографы
- BS DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
American Society for Testing and Materials (ASTM), Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08(2015) Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
- ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
- ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E1588-95(2001) Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
- ASTM E1588-08 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E1588-10 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E2142-01 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E1588-95 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
- ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E1588-20 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM D605-82(1996)e1 Стандартные спецификации для силикатного магниевого пигмента (талька)
- ASTM D6059-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте методом сканирующей электронной микроскопии
- ASTM F1372-93(2005) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
- ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
- ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров
- ASTM F1372-93(2012) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E3309-21 Стандартное руководство по составлению отчетов о судебно-медицинском анализе остатков огнестрельного оружия (pGSR) с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии (SEM/EDS)
Professional Standard - Petroleum, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
国家能源局, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
Association Francaise de Normalisation, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- NF T25-111-4:1991 Углеродные волокна. Текстура и структура. Часть 4. Фрактография с помощью сканирующего электронного микроскопа.
- NF EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом сканирующей электронной микроскопии
- NF X21-010:2009 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь.
- NF Z42-010-1:1992 Электронное отображение изображений. Сканирование офисных документов. Часть 1: Субподряд на сканирование. Руководство по подробным техническим инструкциям для бюро.
- NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение волокнистой пыли, осажденной на поверхностях, методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2: метод сканирующей электронной микроскопии.
- NF Z42-010-2:1993 Электронные изображения. Сканирование офисных документов. Часть 2. Приобретение систем управления электронными изображениями. Руководство по запросу предложений.
Professional Standard - Judicatory, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
Group Standards of the People's Republic of China, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- T/QGCML 1940-2023
- T/CSTM 00795-2022 Материалы экспериментальных данных. Требования к изображениям сканирующего электронного микроскопа.
- T/CSTM 00229-2020 Идентификация графеновых материалов в материалах покрытий методом сканирующего электронного микроскопа-энергодисперсионного спектрометра
- T/NLIA 004-2021 Метод испытания на растяжение SEM на месте для алюминиевого сплава, полученного аддитивным способом
- T/CSTM 00346-2021 Автоматическая классификация и статистика включений в стали — метод энергодисперсионного спектра сканирующего электронного микроскопа.
- T/GAIA 017-2022 Определение содержания фтора в поверхностном покрытии алюминия и алюминиевых сплавов методом растрового электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
- T/SAS 0003-2018 Сцинтилляционные кристаллы германата висмута для позитронно-эмиссионной томографии.
- T/CIRA 42-2022 Метод определения однородности сканирования луча электронного ускорителя для алюминиевых стержней, используемых при радиационной обработке
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM
- GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 16594-1996 Измерение длины в микронах с помощью SEM
- GB/T 31563-2015 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 17722-1999 Измерение толщины позолоченного покрытия с помощью SEM
- GB/T 16594-2008 Общие правила измерения длины в микронном масштабе с помощью СЭМ
- GB/T 20307-2006 Общие правила измерения длины в нанометровом масштабе с помощью SEM
- GB/T 17362-2008 Метод рентгеноэнергетического спектрального анализа золотых изделий на сканирующем электронном микроскопе
- GB/T 27788-2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- GB/T 17362-1998 Неразрушающий метод рентгеновского ЭДС анализа с помощью СЭМ для золотых ювелирных изделий
- GB/T 19267.6-2003 Физическое и химическое исследование следов доказательств в судебной медицине. Часть 6. Сканирующая электронная микроскопия.
- GB/T 23414-2009 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- GB/T 28873-2012 Общее руководство по сканирующей электронной микроскопии окружающей среды для определения биологических эффектов на топографию, вызванных наночастицами
- GB/T 30834-2014 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали. Сканирующий электронный микроскоп.
- GB/T 36422-2018 Искусственное волокно. Метод испытания микроморфологии и диаметра. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 30834-2022 Рейтинг и классификация включений в стали — метод растрового электронного микроскопа.
- GB/T 17361-1998 Метод идентификации аутигенного глинистого минерала в осадочных породах с помощью SEM и XEDS.
- GB/T 17361-2013 Микролучевой анализ. Идентификация аутигенного глинистого минерала в осадочных породах методом сканирующего электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
- GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.
- GB/T 19267.6-2008 Физико-химическая экспертиза следов доказательств в судебной медицине. Часть 6: Сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергодисперсионная спектрометрия.
- GB/T 14593-2008 Метод количественного анализа кашемира, шерсти и их смесей. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 20493.1-2006 Электронная обработка изображений Тестовый образец для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 1: Характеристики
Professional Standard - Commodity Inspection, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
- SN/T 3009-2011 Идентификация коррозии морской водой на металлической поверхности с помощью СЭМ
- SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.
SE-SIS, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.
European Committee for Standardization (CEN), Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
- EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
- prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
RU-GOST R, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
- GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
- GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
- GOST ISO 16000-27-2017 Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- GOST R 56108-2014 Медицинское электрооборудование. Позитронно-эмиссионный томограф. Технические требования для государственных закупок
- GOST R 56109-2014 Медицинское электрооборудование. Позитронно-эмиссионные томографы в сочетании с рентгеновским оборудованием для компьютерной томографии. Технические требования для государственных закупок
- GOST 19438.21-1979 Маломощные электронные лампы и лампы для выходных каскадов телевизионной линии развертки. Методы измерения электрических параметров и испытания на срок службы
Danish Standards Foundation, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- DS/IEC/TR 61948-3:2006 Приборы ядерной медицины. Рутинные испытания. Часть 3. Позитронно-эмиссионные томографы.
German Institute for Standardization, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
- DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
- DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
- DIN EN ISO 19749:2023-07 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
- DIN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988); Немецкая версия EN ISO 9220:1994.
- DIN ISO 16000-27:2014-11 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)
- DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016); Немецкая версия EN ISO 17751-2:2016 / Примечание. Заменяется стандартом DIN EN ISO 17751-2 (2022-09).
- DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO/DIS 17751-2:2022); Немецкая и английская версия prEN ISO 17751-2:2022 / Примечание: Дата выпуска 19.08.2022*I...
- DIN ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)
Professional Standard - Public Safety Standards, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1937-2021 Судебная медицина Проверка резины Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1522-2018 Судмедэкспертиза Осмотр остатков стрельбы Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 909-2010 Метод сбора и упаковки следов огнестрельных улик (исследование SEM/EDS)
- GA/T 1520-2018 Судебно-медицинская экспертиза черного пороха, проверка элементного состава пиротехнического порошка, сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергетическая спектрометрия
- GA/T 1418-2017 Исследование элементного состава судебно-медицинской экспертизы стеклянных доказательств, сканирующая электронная микроскопия/энергетическая спектроскопия
- GA/T 823.3-2018 Методы исследования красочных доказательств в судебной медицине. Часть 3: Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок
- DB32/T 4546-2023 Технические условия на автоматизированный просмотр изображений диатомей с использованием сканирующих электронных микроскопов
ES-UNE, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- UNE-EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2023 г.)
- UNE-EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016)
Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- DB35/T 110-2000 Электронный зонд и сканирующий электронный микроскоп. Метод рентгеновского энергетического спектрального анализа для обнаружения красочных вещественных доказательств.
Association of German Mechanical Engineers, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- VDI 3866 Blatt 5-2004 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
- VDI 3866 Blatt 5-2017 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
- VDI 3861 Blatt 2-2008 Выбросы из стационарных источников. Измерение неорганических волокнистых частиц в выхлопных газах. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
Professional Standard - Chemical Industry, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- HG/T 3640-1999 Фотография.Размер пленки.Пленка для использования в электронном сканере.
Professional Standard - Electron, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- SJ/T 11008-1996 Подробные спецификации электронных компонентов. Интегральные схемы полупроводниковых телевизоров. Схемы развертки линии и поля CD11235CP.
- SJ/T 10987-1996 Подробные спецификации электронных компонентов. Интегральные схемы полупроводниковых телевизоров. Схемы развертки магнитного поля CD5435CP.
- SJ/T 11087-1996 Подробные спецификации электронных компонентов. Полупроводниковые интегральные схемы. CD7698CP схемы горизонтальной и вертикальной развертки и обработки сигнала цветности.
- SJ/T 10784-1996 Подробные спецификации электронных компонентов. Полупроводниковые интегральные схемы. Схемы горизонтальной и вертикальной развертки CD7609CP (применимо для сертификации).
- SJ/T 11006-1996 Полупроводниковые телевизионные интегральные схемы. Общие принципы методов измерения для схем строчной и вертикальной развертки.
AENOR, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).
Lithuanian Standards Office , Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)
AT-ON, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- DB44/T 1527-2015 Микролучевой анализ Метод оценки четкости изображения сканирующего электронного микроскопа
未注明发布机构, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- GB/T 27788-2020 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- GB/T 35099-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Морфология и элементный анализ одиночных мелких частиц в окружающем воздухе.
- GB/T 38783-2020 Способ определения толщины покрытия композитов благородных металлов с помощью сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 39867-2021 Сцинтилляционный кристалл германата висмута для позитронно-эмиссионной томографии.
- GB/T 40826-2021 Метод испытания ручного определения длины штапель безворсового кашемира — метод планшетного сканера
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- GJB 737.11-1993 Методы испытаний пиротехнических химикатов. Определение размера частиц. Сканирующая электронная микроскопия.
BE-NBN, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- CNS 14197-1998 Электрическое линейное сканирующее ультразвуковое диагностическое оборудование
工业和信息化部, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- YS/T 1491-2021 Способ определения сферичности порошка жаропрочных сплавов на основе никеля методом сканирующей электронной микроскопии
- SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия
American National Standards Institute (ANSI), Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- ANSI/ASTM D6059:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом сканирующей электронной микроскопии
- ANSI/ESD SP14.5-2021 Тестирование чувствительности к электростатическому разряду. Проверка устойчивости к ближнему полю. Сканирование уровня компонента/модуля/платы.
NEMA - National Electrical Manufacturers Association, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- NEMA NU 2-2012 Измерения производительности позитронно-эмиссионных томографов
- NEMA NU 2-2018 Измерения производительности позитронно-эмиссионных томографов (ПЭТ)
Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- GJB 5891.6-2006 Метод испытания загрузки материала для инициирования взрывного устройства Часть 6. Измерение размера зерна Сканирующая электронная микроскопия
PT-IPQ, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- NP 3081-1985 Электронный компонент. Проверка полупроводниковых чипов при сканировании микроэлектроники, основные характеристики
GOSTR, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- PNST 508-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика методами сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.
Professional Standard - Military and Civilian Products, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- WJ 2299-1995 Правила поверки спектрометра последовательного сканирования с индуктивно-связанной плазмой
US-FCR, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- DB15/T 1341-2018 Спецификация для калибровки электронного сканера для диаграммы длины ручного ряда кардного кашемира
- DB15/T 981-2016 Кардочесальный кашемир, метод измерения длины ряда вручную, метод рисования, метод электронного сканера
Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- DB37/T 420.2-2004 Протокол диагностики болезни скорпионовых пальцев у марикультурных рыб, часть 2: Метод диагностики с помощью сканирующей электронной микроскопии
Professional Standard - Aviation, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- HB 20094.4-2012 Метод испытаний определения металлов износа в рабочей жидкости для авиации. Часть 4. Сканирующая электронная микроскопия и энергодисперсионная спектрометрия.
BELST, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- STB 2210-2011 Наноразмерные углеродные и неуглеродные материалы и композиты на их основе. Метод определения параметров с использованием измерений сканирующей электронной микроскопии
Indonesia Standards, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- SNI IEC/TR 61948-3:2012 Приборы для ядерной медицины. Рутинные испытания. Часть 3. Позитронно-эмиссионные томографы.
ZA-SANS, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- SANS 12653-1:2006 Электронная обработка изображений. Тестовая цель для черно-белого сканирования офисных документов. Часть 1. Характеристики
Professional Standard - Nuclear Industry, Электронно-полевая сканирующая электронная микроскопия
- EJ/T 20150.23-2018 После освещения топливной сборки со стержневыми реакторами PWR. Часть 23: СЭМ-анализ труб оболочек твэлов