ZH
EN
ES
измеряется с помощью электронного микроскопа
измеряется с помощью электронного микроскопа, Всего: 44 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к измеряется с помощью электронного микроскопа, являются: Линейные и угловые измерения, Жидкостные энергетические системы, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Качество воздуха, Материалы для аэрокосмического строительства, Обработка поверхности и покрытие, Физика. Химия.
American Society for Testing and Materials (ASTM), измеряется с помощью электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2859-11(2017) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
- ASTM E285-08(2015) Стандартный метод испытаний теплоизоляционных материалов ацетиленовой абляцией
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), измеряется с помощью электронного микроскопа
- KS I ISO 4407:2012 Силовая гидравлическая жидкость. Загрязнение жидкости. Определение загрязнения твердыми частицами счетным методом с использованием оптического микроскопа.
- KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
- KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
- KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
- KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
- KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
International Organization for Standardization (ISO), измеряется с помощью электронного микроскопа
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
- ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 23420:2021 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения энергетического разрешения для анализа спектра потерь энергии электронов.
- ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
- ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
- ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
Professional Standard - Machinery, измеряется с помощью электронного микроскопа
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, измеряется с помощью электронного микроскопа
- GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
- GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), измеряется с помощью электронного микроскопа
- JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
KR-KS, измеряется с помощью электронного микроскопа
- KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
British Standards Institution (BSI), измеряется с помощью электронного микроскопа
- BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
- BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
German Institute for Standardization, измеряется с помощью электронного микроскопа
- DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
PH-BPS, измеряется с помощью электронного микроскопа
- PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
Group Standards of the People's Republic of China, измеряется с помощью электронного микроскопа
- T/CSTM 00003-2019 Измерение толщины двумерных материалов Атомно-силовая микроскопия (АСМ)
SE-SIS, измеряется с помощью электронного микроскопа
- SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
European Committee for Standardization (CEN), измеряется с помощью электронного микроскопа
- EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
Association Francaise de Normalisation, измеряется с помощью электронного микроскопа
- NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
RU-GOST R, измеряется с помощью электронного микроскопа
- GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
Danish Standards Foundation, измеряется с помощью электронного микроскопа
- DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), измеряется с помощью электронного микроскопа