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RUFluoreszenzspektroskopie Silizium
Für die Fluoreszenzspektroskopie Silizium gibt es insgesamt 14 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Fluoreszenzspektroskopie Silizium die folgenden Kategorien: schwarzes Metall, analytische Chemie, Glas, Feuerfeste Materialien, Allgemeine Methoden der Lebensmittelprüfung und -analyse.
European Committee for Standardization (CEN), Fluoreszenzspektroskopie Silizium
- CEN/TR 10354:2011 Chemische Analyse von Eisenwerkstoffen – Analyse von Ferrosilicium – Bestimmung von Si und Al mittels Röntgenfluoreszenzspektrometrie
- PD CEN/TR 10354:2011 Chemische Analyse von Eisenwerkstoffen – Analyse von Ferrosilicium – Bestimmung von Si und Al mittels Röntgenfluoreszenzspektrometrie
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Fluoreszenzspektroskopie Silizium
- KS D ISO 14706:2003 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
- KS E 3076-2017 Methoden zur röntgenfluoreszenzspektrometrischen Analyse von Quarzstein und Quarzsand
- KS E 3076-2022 Methoden zur röntgenfluoreszenzspektrometrischen Analyse von Quarzstein und Quarzsand
Association Francaise de Normalisation, Fluoreszenzspektroskopie Silizium
- FD A06-326*FD CEN/TR 10354:2011 Chemische Analyse von Eisenwerkstoffen - Analyse von Ferrosilicium - Bestimmung von Si und Al in Ferrosilicium mittels Röntgenfluoreszenzspektrometrie
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Fluoreszenzspektroskopie Silizium
- GB/T 40110-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
- GB/T 40915-2021 Bestimmung des SiO2-, Al2O3-, Fe2O3-, K2O-, Na2O-, CaO- und MgO-Gehalts von Natron-Kalk-Silikatglas mittels röntgenfluoreszenzspektrometrischer Methode
British Standards Institution (BSI), Fluoreszenzspektroskopie Silizium
- BS ISO 14706:2000 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
- BS ISO 14706:2014 Chemische Oberflächenanalyse. Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern mittels Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
- BS ISO 14706:2001 Chemische Oberflächenanalyse. Bestimmung der Oberflächenelementkontamination auf Siliziumwafern mittels Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF).
- BS 1902-9.2:1987 Methoden zur Prüfung feuerfester Materialien – Chemische Analyse mit instrumentellen Methoden – Analyse von feuerfesten Siliciumdioxidmaterialien mittels Röntgenfluoreszenz
Group Standards of the People's Republic of China, Fluoreszenzspektroskopie Silizium
- T/CQCAA 0005-2020 Bestimmung von Quecksilber in Siliziumdioxid – Atomfluoreszenzspektrometrie
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Fluoreszenzspektroskopie Silizium