ZH
RU
EN
Análisis en profundidad de la espectroscopía electrónica Auger.
Análisis en profundidad de la espectroscopía electrónica Auger., Total: 9 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis en profundidad de la espectroscopía electrónica Auger. son: Componentes electrónicos en general., Química analítica.
Professional Standard - Electron, Análisis en profundidad de la espectroscopía electrónica Auger.
- SJ/T 10457-1993 Guía estándar para espectroscopia electrónica de barrena de perfilado de profundidad
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis en profundidad de la espectroscopía electrónica Auger.
- GB/T 41064-2021 Análisis químico de superficies—Perfiles de profundidad—Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
British Standards Institution (BSI), Análisis en profundidad de la espectroscopía electrónica Auger.
- BS ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopia electrónica Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas.
- BS ISO 17109:2022 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopía fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía electrónica Auger y perfilado del departamento de pulverización catódica por espectrometría de masas de iones secundarios utilizando una o varias capas delgadas...
- 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X, espectroscopia de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios. Perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando sistemas simples y...
International Organization for Standardization (ISO), Análisis en profundidad de la espectroscopía electrónica Auger.
- ISO 17109:2015 Análisis químico de superficies - Perfilado de profundidad - Método para la determinación de la velocidad de pulverización catódica en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X, espectroscopía de electrones Auger y espectrometría de masas de iones secundarios perfilado de profundidad de pulverización catódica utilizando películas delgadas de una o varias capas
American Society for Testing and Materials (ASTM), Análisis en profundidad de la espectroscopía electrónica Auger.