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monocristal de rayos x

monocristal de rayos x, Total: 15 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en monocristal de rayos x son: Cerámica, Materiales semiconductores, Educación, pruebas de metales, Química analítica.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, monocristal de rayos x

• JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X

International Organization for Standardization (ISO), monocristal de rayos x

• ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
• ISO/CD 5861 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.
• ISO/DIS 5861:2023 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Método de calibración de intensidad para instrumentos Al Kα XPS monocromáticos de cristal de cuarzo.

British Standards Institution (BSI), monocristal de rayos x

• BS ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
• 20/30360821 DC BS ISO 22278. Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo

Group Standards of the People's Republic of China, monocristal de rayos x

• T/IAWBS 017-2022 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de curva de oscilación de rayos X de cristal doble de sustrato de cristal único de diamante
• T/IAWBS 015-2021 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de Ga2O3
• T/IAWBS 016-2022 Método de prueba FWHM de curva oscilante de doble cristal de rayos X para oblea única de carburo de silicio

Professional Standard - Education, monocristal de rayos x

• JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
• JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, monocristal de rayos x

• GB/T 32188-2015 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de GaN
• GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor

German Institute for Standardization, monocristal de rayos x

• DIN 50433-1:1976 Ensayos de materiales inorgánicos semiconductores; determinación de la orientación de monocristales mediante difracción de rayos X

Professional Standard - Aviation, monocristal de rayos x

• HB 6742-1993 Determinación de la orientación del cristal de láminas de cristal único mediante fotografía Laue con retrosoplado de rayos X

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