ZH
EN
ES
рентгеновский монокристалл
рентгеновский монокристалл, Всего: 15 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к рентгеновский монокристалл, являются: Керамика, Полупроводниковые материалы, Образование, Испытание металлов, Аналитическая химия.
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, рентгеновский монокристалл
- JJF 1256-2010 Спецификация калибровки рентгеновского оборудования для ориентации монокристаллов
International Organization for Standardization (ISO), рентгеновский монокристалл
- ISO 22278:2020 Тонкая керамика (современная керамика, усовершенствованная техническая керамика) — Метод испытания кристаллического качества монокристаллической тонкой пленки (пластины) с использованием метода XRD с параллельным рентгеновским лучом.
- ISO/CD 5861 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Метод калибровки интенсивности для монохроматированных кварцевых приборов Al Kα XPS.
- ISO/DIS 5861:2023 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Метод калибровки интенсивности для монохроматированных кварцевых приборов Al Kα XPS.
British Standards Institution (BSI), рентгеновский монокристалл
- BS ISO 22278:2020 Тонкая керамика (современная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания кристаллического качества монокристаллической тонкой пленки (пластины) методом рентгеноструктурного анализа с параллельным рентгеновским лучом
- 20/30360821 DC BS ISO 22278. Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, современная техническая керамика). Метод испытания кристаллического качества монокристаллической тонкой пленки (пластины) методом рентгеноструктурного анализа с параллельным рентгеновским лучом
Group Standards of the People's Republic of China, рентгеновский монокристалл
- T/IAWBS 017-2022 Метод испытаний на полную ширину на половине высоты кривой рентгеновского качания двойного кристалла монокристаллической алмазной подложки
- T/IAWBS 015-2021 Метод испытания полной ширины на половине высоты двойной кристаллической рентгеновской кривой качания монокристаллической подложки Ga2O3
- T/IAWBS 016-2022 Метод рентгеновского испытания кривой качания двойного кристалла на полувысоте для одиночной пластины карбида кремния
Professional Standard - Education, рентгеновский монокристалл
- JY/T 0588-2020 Общие правила определения кристаллической и молекулярной структуры низкомолекулярных соединений методом рентгеновской дифракции монокристаллов
- JY/T 008-1996 Общие правила определения кристаллической и молекулярной структуры низкомолекулярных соединений с помощью четырехкружного монокристаллического рентгеновского дифрактометра
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, рентгеновский монокристалл
- GB/T 32188-2015 Метод испытания полной ширины на половине высоты двойной кристаллической рентгеновской кривой качания монокристаллической подложки GaN
- GB/T 42676-2023 Рентгенодифракционный метод проверки качества монокристалла полупроводника
German Institute for Standardization, рентгеновский монокристалл
- DIN 50433-1:1976 Испытание полупроводниковых неорганических материалов; определение ориентации монокристаллов методом рентгеновской дифракции
Professional Standard - Aviation, рентгеновский монокристалл
- HB 6742-1993 Определение кристаллической ориентации монокристаллических лезвий методом рентгеновской обратной фотографии Лауэ