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instrumento de orientación de cristal único de rayos X
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National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, instrumento de orientación de cristal único de rayos X
- JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X
Professional Standard - Machinery, instrumento de orientación de cristal único de rayos X
- JB/T 5482-2011 Aparato de orientación de rayos X.
- JB/T 5482-2004 Condiciones técnicas del instrumento de orientación de cristales de rayos X.
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, instrumento de orientación de cristal único de rayos X
- GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
Professional Standard - Aviation, instrumento de orientación de cristal único de rayos X
- HB 6742-1993 Determinación de la orientación del cristal de láminas de cristal único mediante fotografía Laue con retrosoplado de rayos X
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, instrumento de orientación de cristal único de rayos X
机械电子工业部, instrumento de orientación de cristal único de rayos X
- JB/T 5982-1991 Condiciones técnicas del instrumento direccional de rayos X.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), instrumento de orientación de cristal único de rayos X
- JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.
Professional Standard - Education, instrumento de orientación de cristal único de rayos X
- JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
- JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos
American Society for Testing and Materials (ASTM), instrumento de orientación de cristal único de rayos X
- ASTM F847-94(1999) Métodos de prueba estándar para medir la orientación cristalográfica de planos en obleas de silicio monocristalino mediante técnicas de rayos X
- ASTM E975-03 Práctica estándar para la determinación por rayos X de austenita retenida en acero con orientación cristalográfica casi aleatoria
- ASTM E975-03(2008) Práctica estándar para la determinación por rayos X de austenita retenida en acero con orientación cristalográfica casi aleatoria
- ASTM E975-00 Práctica estándar para la determinación por rayos X de austenita retenida en acero con orientación cristalográfica casi aleatoria
- ASTM E975-13 Práctica estándar para la determinación por rayos X de austenita retenida en acero con orientación cristalográfica casi aleatoria
- ASTM E975-22 Método de prueba estándar para la determinación por rayos X de austenita retenida en acero con orientación cristalográfica casi aleatoria
Professional Standard - Commodity Inspection, instrumento de orientación de cristal único de rayos X
- SN/T 3514-2013 Método de identificación de análisis de textura para aceros eléctricos de grano orientado y no orientado. Difracción de rayos X (XRD)
International Organization for Standardization (ISO), instrumento de orientación de cristal único de rayos X
- ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
British Standards Institution (BSI), instrumento de orientación de cristal único de rayos X
- BS ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
- 20/30360821 DC BS ISO 22278. Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
German Institute for Standardization, instrumento de orientación de cristal único de rayos X
- DIN 50433-1:1976 Ensayos de materiales inorgánicos semiconductores; determinación de la orientación de monocristales mediante difracción de rayos X
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, instrumento de orientación de cristal único de rayos X
- GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
KR-KS, instrumento de orientación de cristal único de rayos X
- KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total