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電子顕微鏡の使い方

電子顕微鏡の使い方は全部で 34 項標準に関連している。

電子顕微鏡の使い方 国際標準分類において、これらの分類:機械の安全性、 医療機器、 分析化学、 物理学、化学、 ゴムやプラスチックの原料、 光学および光学測定、 塗料とワニス、 金属材料試験、 光学機器、 表面処理・メッキ、 潤滑剤、工業用油および関連製品、 建設技術。


US-CFR-file, 電子顕微鏡の使い方

  • CFR 33-149.403-2013 航行および航行可能な海域 パート 149: 深海港: 設計、建設、および設備 セクション 149.403: 代替または補助の消火および防火設備または手順を使用するにはどうすればよいですか?
  • CFR 40-86.1861-17-2014 環境保護 パート 86: 新しいおよび使用中の高速道路車両およびエンジンからの排出ガスの制御 セクション 86.1861-17: NMOG、NOx、および蒸発排出物クレジット プログラムはどのように機能しますか?

Danish Standards Foundation, 電子顕微鏡の使い方

  • DS-håndbog 116.3.6:2021 周波数変換器の使用に関するガイダンス、漏れ電流と迷走電流 - その意味
  • DS/ISO/TS 10797:2012 ナノテクノロジーでは透過型電子顕微鏡を使用して単層カーボン ナノチューブの特性を評価します
  • DS/ISO/TS 22292:2021 ナノテクノロジー透過型電子顕微鏡を使用したロッド支持ナノオブジェクトの 3D 画像再構成
  • DS/ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。

Group Standards of the People's Republic of China, 電子顕微鏡の使い方

International Organization for Standardization (ISO), 電子顕微鏡の使い方

  • ISO/CD 25498:2023 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
  • ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析走査型プローブ顕微鏡電気走査型プローブ顕微鏡を使用した半導体デバイスのキャリア濃度の実験的定量化に関するガイド
  • ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジー: 走査型電子顕微鏡と X 線エネルギー分光法を使用したシングルアーム カーボン ナノチューブの特性評価。
  • ISO 8322-10:1995 建築構造物 測定器 使用精度を決定する手順 パート 10: 非ガラス反射板と最大 150 m の距離用の電子距離プリズム (従来のガラスプリズム) の違い。
  • ISO/FDIS 29301:2023 マイクロビーム解析 周期構造を有する標準物質を使用した画像倍率の校正のための分析電子顕微鏡法
  • ISO 29301:2023 マイクロビーム解析 周期構造を有する標準物質を使用した画像倍率の校正のための分析電子顕微鏡法

British Standards Institution (BSI), 電子顕微鏡の使い方

  • BS ISO 25498:2018 マイクロビーム分析 分析電子顕微鏡法 透過型電子顕微鏡を使用した選択領域電子回折分析
  • PD ISO/TS 10797:2012 ナノテクノロジーでは透過型電子顕微鏡を使用して単層カーボン ナノチューブの特性を評価します
  • PD ISO/TS 22292:2021 ナノテクノロジーでは、透過型電子顕微鏡を使用して棒状のナノオブジェクトの 3D 画像を再構成します。
  • DD ISO/TS 10798:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。

Association Francaise de Normalisation, 電子顕微鏡の使い方

  • FD T16-209:2012 ナノテクノロジーでは透過型電子顕微鏡を使用して単層カーボン ナノチューブの特性を評価します
  • FD T16-203:2011 ナノテクノロジーでは、走査型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して、単層カーボン ナノチューブの特性を評価します。

International Electrotechnical Commission (IEC), 電子顕微鏡の使い方

  • ISO TS 10797:2012 ナノテクノロジー: 透過型電子顕微鏡を使用した単層カーボン ナノチューブの特性評価
  • ISO TS 22292:2021 ナノテクノロジー – 透過型電子顕微鏡を使用したロッド支持ナノオブジェクトの 3D 画像再構成

BE-NBN, 電子顕微鏡の使い方

  • NBN EN ISO 9220:1995 金属保護層。 保護層の厚さの測定: 走査型電子顕微鏡 (ISO 9220-1988) を使用

American Society for Testing and Materials (ASTM), 電子顕微鏡の使い方

  • ASTM D3849-14a カーボンブラックの標準試験法 電子顕微鏡によるカーボンブラックの形態的特性の測定
  • ASTM E2809-13 法医学塗料検査における走査型電子顕微鏡/X 線分光法の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E280-98(2004)e1 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E2809-22 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM E280-21 法医学ポリマー検査における走査型電子顕微鏡/エネルギー分散型 X 線分光法 (SEM/EDS) の使用に関する標準ガイド
  • ASTM B651-83(2019) デュアルビーム干渉顕微鏡を使用した、ニッケルプラスクロムまたは銅-ニッケル-ニッケル-クロム電気めっき表面の腐食スポット測定の標準試験方法
  • ASTM D7416-08 特定の 5 つの部品を使用した使用中の潤滑剤分析の標準手法 (スイッチング磁場による誘電率時間分解誘電率レーザー粒子計数器顕微鏡デブリ分析および軌道ビジョン)

German Institute for Standardization, 電子顕微鏡の使い方

  • DIN SPEC 52407:2015-03 原子間力顕微鏡 (AFM) および透過型走査型電子顕微鏡 (TSEM) を使用した粒子測定のためのナノテクノロジーの準備および評価方法

未注明发布机构, 電子顕微鏡の使い方

  • DIN EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジー – 透過型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと粒子形状分布の測定

IT-UNI, 電子顕微鏡の使い方

  • UNI 7329-1974 レプリカを使用した金属材料の電子顕微鏡検査。 微細構造検査用レプリカの作成

GOSTR, 電子顕微鏡の使い方

  • PNST 507-2020 透過型電子顕微鏡とエネルギー分散型 X 線分光法を使用して特性評価されたナノテクノロジー単層カーボン ナノチューブ

BELST, 電子顕微鏡の使い方

  • STB 2210-2011 走査型電子顕微鏡測定を使用して、ナノスケールの炭素材料および非炭素材料およびそれらに基づく複合材料のパラメータを決定する方法




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