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스캐닝 현미경

모두 107항목의 스캐닝 현미경와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 스캐닝 현미경와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 비철금속, 광학 장비, 길이 및 각도 측정, 어휘, 광학 및 광학 측정, 분석 화학, 공기질, 기르다, 범죄 예방, 열역학 및 온도 측정, 전자 디스플레이 장치, 표면 처리 및 도금, 건축 자재, 비파괴 검사, 기계적 테스트.


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 스캐닝 현미경

British Standards Institution (BSI), 스캐닝 현미경

  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 검사법 주사 전자 현미경 검사법을 위한 태그된 이미지 파일 형식(TIFF/SEM)
  • BS ISO 21466:2019 중요 치수를 평가하기 위한 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CDSEM 방법
  • BS ISO 16700:2016 마이크로빔 분석을 위한 주사전자현미경의 이미지 배율 보정 가이드
  • BS EN ISO 9220:1989 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
  • BS ISO 18115-2:2013 표면 화학 분석 용어집 스캐닝 프로브 현미경에 대한 용어
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CD-SEM 임계 치수 평가 방법
  • BS EN ISO 9220:2022 주사전자현미경을 이용한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
  • BS ISO 28600:2011 표면 화학 분석 - 스캐닝 프로브 현미경을 위한 데이터 전송 형식
  • BS ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 이미지 확대 교정 안내
  • BS ISO 18115-2:2021 스캐닝 프로브 현미경에 사용되는 표면 화학 분석 용어집

International Organization for Standardization (ISO), 스캐닝 현미경

  • ISO/TS 21383:2021 마이크로빔 분석 주사전자현미경 정량적 측정을 위한 주사전자현미경 식별
  • ISO/WD TR 23683:2023 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 전기 스캐닝 프로브 현미경을 사용하여 반도체 장치의 캐리어 농도를 실험적으로 정량화하는 방법에 대한 가이드
  • ISO 22493:2008 마이크로빔 분석주사전자현미경 방법어휘
  • ISO 21466:2019 마이크로빔 분석 주사전자현미경 CD-SEM을 통한 임계 크기 평가 방법
  • ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경법 영상선명도 평가법
  • ISO 9220:2022 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
  • ISO 9220:1988 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경
  • ISO 16700:2004 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
  • ISO 16700:2016 미세전자빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내
  • ISO 11039:2012 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 드리프트 속도 결정을 위한 표준
  • ISO 18115-2:2021 표면 화학 분석 용어집 2부: 주사 탐침 현미경 용어

BE-NBN, 스캐닝 현미경

  • NBN EN ISO 9220:1995 금속 보호층. 보호층 두께 측정: 주사전자현미경(ISO 9220-1988) 사용

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 스캐닝 현미경

  • JIS K 0132:1997 주사전자현미경의 일반 원리
  • JIS K 3850-1:2006 공기 중 섬유 분자 측정 1부: 광학 현미경 및 주사 전자 현미경
  • JIS K 3850-1:2000 공기 중의 섬유상 입자 측정 방법 1부: 광학 현미경 및 주사전자현미경
  • JIS K 0149-1:2008 마이크로빔 분석 주사전자현미경 보정된 이미지 배율 안내

KR-KS, 스캐닝 현미경

German Institute for Standardization, 스캐닝 현미경

  • DIN EN ISO 9220:1995 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경 방법(ISO 9220:1988), 독일어 버전 EN ISO 9220:1994
  • DIN EN ISO 9220:2022-05 금속 코팅 - 코팅 두께 측정 - 주사전자현미경

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 스캐닝 현미경

Professional Standard - Machinery, 스캐닝 현미경

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 스캐닝 현미경

Professional Standard - Education, 스캐닝 현미경

  • JY/T 0582-2020 주사 탐침 현미경 분석 방법의 일반 원리
  • JY/T 0584-2020 주사전자현미경 분석 방법의 일반 원리
  • JY/T 010-1996 분석용 주사전자현미경 방법의 일반 원리
  • JY/T 0586-2020 레이저 스캐닝 공초점 현미경 분석 방법의 일반 원리

American Society for Testing and Materials (ASTM), 스캐닝 현미경

  • ASTM E766-98(2003) 주사전자현미경의 배율 교정
  • ASTM E766-98 주사전자현미경의 배율 교정
  • ASTM E2382-04(2020) 주사 터널링 현미경 및 원자력 현미경의 스캐너 및 팁 관련 인공물에 대한 표준 가이드
  • ASTM E2382-04 주사 터널링 현미경 및 원자간력 현미경의 스캐너 및 접촉 관련 품목에 대한 안내
  • ASTM E986-97 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM E986-04(2017) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM E766-14 주사전자현미경 배율 교정을 위한 표준 방법
  • ASTM E766-98(2008)e1 주사전자현미경의 배율계수에 대한 표준 교정 사양
  • ASTM E2382-04(2012) 주사 터널링 현미경 및 원자간력 현미경의 스캐너 및 접촉 관련 항목에 대한 표준 가이드
  • ASTM E986-04 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM E986-04(2010) 주사전자현미경의 빔 크기 특성화를 위한 표준 관행
  • ASTM C1723-16(2022) 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
  • ASTM C1723-10 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
  • ASTM C1723-16 주사전자현미경을 이용한 경화콘크리트 검사의 표준지침
  • ASTM E2090-00 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E2090-12 광전자현미경 및 주사전자현미경을 사용하여 클린룸 스크러버 도구에서 방출된 입자 및 섬유의 크기 차이를 계산하기 위한 표준 테스트 방법
  • ASTM E1813-96e1 스캐닝 검출 현미경 프로브의 측정 및 보고에 대한 표준 관행
  • ASTM E1813-96(2002) 스캐닝 검출 현미경 프로브의 측정 및 보고에 대한 표준 관행
  • ASTM E766-14(2019) 주사전자현미경의 배율 교정을 위한 표준 관행
  • ASTM E1813-96(2007) 스캐닝 검출 현미경 프로브의 측정 및 보고에 대한 표준 관행

Professional Standard - Petroleum, 스캐닝 현미경

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, 스캐닝 현미경

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 스캐닝 현미경

  • GB/T 29190-2012 스캐닝 프로브 현미경 표류율 측정 방법
  • GB/T 42659-2023 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 스캐닝 프로브 현미경을 사용한 기하학적 양 결정: 측정 시스템 교정
  • GB/T 18295-2001 석유 및 가스 저장소의 사암 시료에 대한 주사전자현미경 분석 방법

国家能源局, 스캐닝 현미경

Professional Standard - Commodity Inspection, 스캐닝 현미경

  • SN/T 4388-2015 가죽 식별 주사전자현미경 및 광학현미경

Association Francaise de Normalisation, 스캐닝 현미경

Group Standards of the People's Republic of China, 스캐닝 현미경

Professional Standard - Judicatory, 스캐닝 현미경

  • SF/T 0139-2023 토양검사 주사전자현미경/X선 에너지 분광법

SE-SIS, 스캐닝 현미경

European Committee for Standardization (CEN), 스캐닝 현미경

RU-GOST R, 스캐닝 현미경

  • GOST R 8.594-2009 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 주사전자현미경

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 스캐닝 현미경

  • GB/T 36052-2018 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 데이터 전송 형식
  • GB/T 33834-2017 마이크로빔 분석 주사전자현미경 생물학적 시료의 주사전자현미경 분석방법

Danish Standards Foundation, 스캐닝 현미경

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, 스캐닝 현미경

  • DB32/T 3459-2018 그래핀 필름의 미세 영역 커버리지를 테스트하기 위한 주사 전자 현미경 방법

ES-UNE, 스캐닝 현미경

Professional Standard - Public Safety Standards, 스캐닝 현미경

  • GA/T 1938-2021 법의학 금속 검사 주사전자현미경/X선 분광법
  • GA/T 1937-2021 법의학 고무 검사 주사전자현미경/X선 분광법

Association of German Mechanical Engineers, 스캐닝 현미경

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