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에이에스 전자

모두 10항목의 에이에스 전자와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 에이에스 전자와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학, 연료.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 에이에스 전자

• KS M 1062-2005 ICP-AES/MS 및 AAS를 통한 전자 제품의 납 및 카드뮴 측정

Association Francaise de Normalisation, 에이에스 전자

• NF ISO 16242:2012 표면 화학 분석 AES(Auger 전자 분광학) 데이터 로깅 및 보고
• NF X21-072*NF ISO 16242:2012 표면 화학 분석 AES(Auger 전자 분광학) 데이터 기록 및 보고

International Organization for Standardization (ISO), 에이에스 전자

• ISO 16531:2013 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 AES(원자 방출 분광학) 및 XPS(광전자 분광학)의 깊이 프로파일링을 위한 이온빔 보정 및 전류 또는 전류 밀도 관련 측정 방법.
• ISO 16242:2011 표면 화학 분석 AES(Auger 전자 분광학) 데이터 기록 및 보고

German Institute for Standardization, 에이에스 전자

• DIN ISO 16242:2020-05 표면 화학 분석은 AES(Auger Electron Spectroscopy)로 데이터를 기록하고 보고합니다.
• DIN ISO 16242:2020 표면 화학 분석을 위한 AES(Auger 전자 분광학)의 데이터 기록 및 보고(ISO 16242:2011), 영어 텍스트

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 에이에스 전자

• GB/T 32565-2016 표면 화학 분석을 위한 AES(Auger 전자 분광학) 데이터 기록 및 보고에 대한 사양 요구 사항

American Society for Testing and Materials (ASTM), 에이에스 전자

• ASTM D6357-11 유도결합플라즈마원자방출분광법(ICP-AES), 유도결합플라즈마 질량분석기(ICP-MASS) 및 흑연로 원자흡수분광법을 이용한 종합 석탄 처리 후 석탄, 코크스 및 연소 잔재물의 미량 원소 측정을 위한 테스트 방법

RU-GOST R, 에이에스 전자

• GOST R ISO 16242-2016 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 표면 화학 분석 AES(Auger 전자 분광학) 데이터 기록 및 보고

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