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전반사 X선 형광 분석

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Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 전반사 X선 형광 분석

• JIS K 0181:2021 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석

International Organization for Standardization (ISO), 전반사 X선 형광 분석

• ISO 20289:2018 표면 화학 분석 - 물의 전반사 X선 형광 분석

British Standards Institution (BSI), 전반사 X선 형광 분석

• BS ISO 20289:2018 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분석

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 전반사 X선 형광 분석

• KS D ISO 14706-2003(2018) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.

KR-KS, 전반사 X선 형광 분석

• KS D ISO 14706-2003(2023) 표면 화학 분석 - 전반사 X선 형광 분석기는 실리콘 웨이퍼 표면의 원소 불순물을 측정합니다.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 전반사 X선 형광 분석

• GB/T 42360-2023 표면 화학 분석 물의 전반사 X선 형광 분광 분석

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