ZH
EN
ES
СЭМ оптика
СЭМ оптика, Всего: 338 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к СЭМ оптика, являются: Словари, Оптическое оборудование, Цветные металлы, Линейные и угловые измерения, Качество воздуха, Термодинамика и измерения температуры, Оптика и оптические измерения, Электронные устройства отображения, Текстильные волокна, Аналитическая химия, Образование, Обработка поверхности и покрытие, Медицинское оборудование, Защита от преступности, Краски и лаки, Испытание металлов, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Строительные материалы, Кинематография, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом, Электротехника в целом, Сети передачи и распределения электроэнергии, Физика. Химия, Информационные науки. Издательский, Наборы символов и кодирование информации, Изделия из железа и стали, Керамика, Рыбалка и рыбоводство, Применение информационных технологий, Транспорт, Полупроводниковые приборы, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Топливо, Ингредиенты краски, Фотография, Продукция текстильной промышленности.
Professional Standard - Commodity Inspection, СЭМ оптика
- SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
- SN/T 3009-2011 Идентификация коррозии морской водой на металлической поверхности с помощью СЭМ
- SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), СЭМ оптика
- KS D ISO 22493:2012 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS D 2713-2016 Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
- KS D 2713-2016(2021) Оценка пространственного разрешения NSOM (сканирующего оптического микроскопа ближнего поля)
- KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
- KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- KS D ISO 22493-2012(2017) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Словарь
- KS D ISO 22493:2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2022) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 9220-2009(2017) Металлические покрытия-Измерение толщины покрытия-Метод сканирующего электронного микроскопа
- KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ-Сканирующая электронная микроскопия-Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS P ISO 16971:2020 Офтальмологические инструменты — Оптический когерентный томограф для заднего отрезка глаза человека
- KS C IEC TR 61948-3:2020 Приборы для ядерной медицины. Рутинные испытания. Часть 3. Позитронно-эмиссионные томографы.
- KS C IEC TR 61948-3:2017 Приборы ядерной медицины ─ Рутинные исследования ─ Часть 3: Позитронно-эмиссионные томографы
- KS K ISO 17751-2:2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), СЭМ оптика
- JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии
- JIS K 3850-1:2006 Определение содержания в воздухе волокнистых частиц. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 3850-1:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 1. Метод оптической микроскопии и метод сканирующей электронной микроскопии.
- JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- JIS K 0147-2:2017 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
- JIS B 7208:1972 16-миллиметровые пленки для испытаний на однородность освещения со сканирующим лучом кинофильма
- JIS B 7207:1972 35-мм кинопленки для проверки однородности освещения со сканирующим лучом, сервисный тип
- JIS B 7206:1972 Пленки для проверки однородности освещения со сканирующим лучом кинофильма, 35 мм, лабораторного типа
- JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
- JIS B 7287-2:2017 Оптика офтальмологическая. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация.
- JIS B 7287-3:2017 Оптика офтальмологическая. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 3. Техническая информация.
American Society for Testing and Materials (ASTM), СЭМ оптика
- ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
- ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E1588-95(2001) Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
- ASTM E1588-08 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E1588-10 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E1588-95 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
- ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2090-06 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E2090-12(2020) Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E1588-20 Стандартная практика анализа остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM B748-90(2006) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(1997) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E2142-08(2015) Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
- ASTM E280-98(2004)e1 Стандартные эталонные рентгенограммы толстостенных (от 4 &189; до 12 дюймов [от 114 до 305 мм]) стальных отливок
- ASTM E1588-07e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E1588-07 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E280-21 Стандартные эталонные рентгенограммы стальных отливок с толстыми стенками (от 412 до 12 дюймов (от 114 до 305 мм))
- ASTM E2809-22 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (СЭМ/ЭДС) при судебно-медицинской экспертизе полимеров
- ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-01 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM B748-90(2016) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E3309-21 Стандартное руководство по составлению отчетов о судебно-медицинском анализе остатков огнестрельного оружия (pGSR) с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии (SEM/EDS)
- ASTM B748-90(2001) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E3284-23 Стандартная практика обучения судебно-медицинской экспертизе остатков выстрелов капсюля (pGSR) с использованием сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии (SEM/EDS)
- ASTM F1372-93(1999) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM F1372-93(2020) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM D605-82(1996)e1 Стандартные спецификации для силикатного магниевого пигмента (талька)
- ASTM D6059-96(2011) Стандартный метод испытаний для определения концентрации переносимых по воздуху монокристаллических керамических усов на рабочем месте методом сканирующей электронной микроскопии
- ASTM F1372-93(2005) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM F1372-93(2012) Стандартный метод испытаний для анализа состояния металлической поверхности компонентов газораспределительной системы с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ)
- ASTM E1588-10e1 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
International Organization for Standardization (ISO), СЭМ оптика
- ISO 22493:2008 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь
- ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
- ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения ближнепольного оптического микроскопа.
- ISO/CD 16971-1 Офтальмологические инструменты. Оптические когерентные томографы. Часть 1. Оптические когерентные томографы для заднего отрезка глаза человека.
- ISO/DIS 16971-1:2011 Офтальмологические инструменты. Оптические когерентные томографы. Часть 1. Оптические когерентные томографы для заднего отрезка глаза человека.
- ISO/WD TR 23683:2023 Химический анализ поверхности. сканирующая зондовая микроскопия. Руководство по экспериментальному количественному определению концентрации носителей заряда в полупроводниковых устройствах с использованием электрической сканирующей зондовой микроскопии.
- ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- ISO 11039:2012 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Измерение скорости дрейфа.
- ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
- ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности - формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
- ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
- ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
- ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM.
- ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 17123-9:2018 Оптика и оптические инструменты. Полевые процедуры испытаний геодезических и геодезических инструментов. Часть 9. Наземные лазерные сканеры.
- ISO 18115-2:2010 Анализ химического состава поверхностей — Словарь — Часть 2: Термины, используемые в микроскопии с помощью зонда и выметания (премьерное издание)
- ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
- ISO 11952:2014 Химический анализ поверхности - Сканирующая зондовая микроскопия - Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
- ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
- ISO 14966:2019 Воздух окружающий. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
- ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 14966:2002/cor 1:2007 Воздух атмосферный - Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц - Метод сканирующей электронной микроскопии; Техническое исправление 1
- ISO 10685-2:2016 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация
- ISO 10685-3:2012 Оптика офтальмологическая. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 3. Техническая информация.
- ISO 10685-2:2012 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация
- ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- ISO/FDIS 17751-2 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 21915-1:2020 Текстиль. Качественный и количественный анализ некоторых целлюлозных волокон (лиоцелла, купро) и их смесей. Часть 1. Идентификация волокон с помощью сканирующей электронной микроскопии и метода спектрального анализа.
- ISO 17751-2:2014 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- ISO 22581:2021 Химический анализ поверхности. Информация, полученная в режиме, близком к реальному времени, при сканировании рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Правила идентификации и коррекции загрязнения поверхности углеродосодержащими веществами.
Group Standards of the People's Republic of China, СЭМ оптика
- T/QGCML 1940-2023
- T/CSTM 00795-2022 Материалы экспериментальных данных. Требования к изображениям сканирующего электронного микроскопа.
- T/CSTM 00229-2020 Идентификация графеновых материалов в материалах покрытий методом сканирующего электронного микроскопа-энергодисперсионного спектрометра
- T/NLIA 004-2021 Метод испытания на растяжение SEM на месте для алюминиевого сплава, полученного аддитивным способом
- T/CSTM 00346-2021 Автоматическая классификация и статистика включений в стали — метод энергодисперсионного спектра сканирующего электронного микроскопа.
- T/GAIA 017-2022 Определение содержания фтора в поверхностном покрытии алюминия и алюминиевых сплавов методом растрового электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
- T/CEC 616-2022 Технические характеристики летающих роботов лазерного сканирования для линий электропередачи
- T/CEC 448-2021 Технический регламент эксплуатации беспилотных летательных аппаратов лазерного сканирования воздушных линий электропередачи
- T/CES 183-2022 Спецификация сбора данных с помощью лазерного сканирования беспилотных летательных аппаратов с неподвижным крылом для воздушной линии электропередачи
- T/TIAA 014-2018 Оптические методы измерения устройств индикации электронного зеркала заднего вида автомобиля
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, СЭМ оптика
- JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
- JJF 1951-2021 Спецификация калибровки оптических 3D-измерительных систем на основе сканирования структурированным светом
Professional Standard - Machinery, СЭМ оптика
- JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
- JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация
- JB/T 5478-1991 Ручной сканирующий фотоэлектрический спектрометр прямого считывания
- JB/T 7503-1994 Толщина поперечного сечения металлических покрытий Метод измерения сканирующим электронным микроскопом
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, СЭМ оптика
- JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
- JJG 550-1988 Регламент поверки сканирующего электронного микроскопа
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, СЭМ оптика
- GB/T 36422-2018 Искусственное волокно. Метод испытания микроморфологии и диаметра. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 16594-1996 Измерение длины в микронах с помощью SEM
- GB/T 31563-2015 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 17722-1999 Измерение толщины позолоченного покрытия с помощью SEM
- GB/T 16594-2008 Общие правила измерения длины в микронном масштабе с помощью СЭМ
- GB/T 20307-2006 Общие правила измерения длины в нанометровом масштабе с помощью SEM
- GB/T 42659-2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Калибровка измерительной системы.
- GB/T 17362-2008 Метод рентгеноэнергетического спектрального анализа золотых изделий на сканирующем электронном микроскопе
- GB/T 27788-2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- GB/T 17362-1998 Неразрушающий метод рентгеновского ЭДС анализа с помощью СЭМ для золотых ювелирных изделий
- GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM
- GB/T 30834-2014 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали. Сканирующий электронный микроскоп.
- GB/T 18295-2001 Метод анализа проб песчаника нефтяных и газовых пластов с помощью сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 30834-2022 Рейтинг и классификация включений в стали — метод растрового электронного микроскопа.
- GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.
- GB/T 14593-2008 Метод количественного анализа кашемира, шерсти и их смесей. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 19267.6-2003 Физическое и химическое исследование следов доказательств в судебной медицине. Часть 6. Сканирующая электронная микроскопия.
- GB/T 28873-2012 Общее руководство по сканирующей электронной микроскопии окружающей среды для определения биологических эффектов на топографию, вызванных наночастицами
- GB/T 17361-1998 Метод идентификации аутигенного глинистого минерала в осадочных породах с помощью SEM и XEDS.
- GB/T 17361-2013 Микролучевой анализ. Идентификация аутигенного глинистого минерала в осадочных породах методом сканирующего электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
- GB/T 19267.6-2008 Физико-химическая экспертиза следов доказательств в судебной медицине. Часть 6: Сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергодисперсионная спектрометрия.
- GB/T 40905.2-2022 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
British Standards Institution (BSI), СЭМ оптика
- BS ISO 27911:2011 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)
- BS ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарный запас. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
- BS ISO 28600:2011 Химический анализ поверхности. Формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии
- BS ISO 18115-2:2021 Химический анализ поверхности. Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
- BS EN ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- BS ISO 18115-2:2010 Химический анализ поверхности - Словарь - Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
- BS ISO 11775:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера
- BS ISO 21466:2019 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CDSEM
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- BS ISO 17123-9:2018 Оптика и оптические приборы. Полевые процедуры испытаний геодезических и геодезических приборов. Наземные лазерные сканеры.
- BS ISO 19749:2021 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
- BS IEC 62906-5-5:2022 Лазерные дисплеи - Оптические методы измерения лазерных дисплеев прямой проекции сетчатки с растровым сканированием
- BS EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- BS ISO 11952:2019 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ: Калибровка измерительных систем
- BS ISO 14966:2019 Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
- 18/30344520 DC BS ISO 21466. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Метод оценки критических размеров с помощью CD-SEM
- BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
- 12/30265696 DC БС ИСО 18115-2 АМД1. Химический анализ поверхности. Словарный запас. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии
- 18/30351679 DC BS ISO 19749. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- BS EN ISO 11715-1:1998 Офтальмологическая оптика. Формат файлов цифровых данных для передачи данных для профилирования очковых линз. Двумерные трассеры.
- BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- BS ISO 14966:2002 Воздух атмосферный. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- 18/30375050 DC BS ISO 14966. Окружающий воздух. Определение численной концентрации неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии
- 19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- PD IEC/TR 61948-3:2018 Отслеживаемые изменения. Приборы ядерной медицины. Рутинные тесты. Позитронно-эмиссионные томографы
- BS DD ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- BS CECC 00013:1985 Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: базовая спецификация: проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
- 21/30432306 DC БС ЕН МЭК 62906-5-5. Лазерные дисплеи. Часть 5-5. Оптические методы измерения растровых лазерных дисплеев прямой проекции сетчатки
- 20/30423331 DC БС ЕН МЭК 62906-5-5. Лазерные дисплеи. Часть 5-5. Оптические методы измерения растровых лазерных дисплеев прямой проекции сетчатки
- BS EN ISO 10685-2:2016 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Коммерческая информация
- BS EN ISO 10685-2:2012 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Коммерческая информация
- BS EN ISO 10685-3:2012 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Техническая информация
- 19/30402600 DC БС МЭК 62906-5-5. Лазерные отображающие устройства. Часть 5-5. Оптические методы измерения растровых сканирующих устройств прямой проекции сетчатки
- 18/30363457 DC БС ЕН 62906-5-5. Лазерные отображающие устройства. Часть 5-5. Оптические методы измерения растровых сканирующих устройств прямой проекции сетчатки
- BS EN ISO 17751-2:2023 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей - метод сканирующей электронной микроскопии
- BS EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Метод сканирующей электронной микроскопии
- BS 4793:1972 Рекомендации по определению оптических характеристик объективов для телекамер
- 12/30228339 DC БС ИСО 16000-27. Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- PD IEC TR 61948-2:2019 Отслеживаемые изменения. Приборы ядерной медицины. Рутинные тесты. Сцинтилляционные камеры и однофотонная эмиссионная компьютерная томография
- BS ISO 11505:2013 Химический анализ поверхности. Общие процедуры количественного профилирования состава по глубине методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда
- BS EN ISO 10685-1:2011 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Идентификация продукта и иерархия продуктов в электронном каталоге
KR-KS, СЭМ оптика
- KS D ISO 22493-2022 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Словарь.
- KS P ISO 16971-2020 Офтальмологические инструменты — Оптический когерентный томограф для заднего отрезка глаза человека
- KS C ISO 19749-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- KS C IEC TR 61948-3-2020 Приборы для ядерной медицины. Рутинные испытания. Часть 3. Позитронно-эмиссионные томографы.
- KS K ISO 17751-2-2019 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
Professional Standard - Education, СЭМ оптика
- JY/T 0584-2020 Общие правила аналитических методов сканирующей электронной микроскопии
- JY/T 0586-2020 Общие правила аналитических методов лазерной сканирующей конфокальной микроскопии
- JY/T 010-1996 Общие принципы аналитической сканирующей электронной микроскопии
工业和信息化部, СЭМ оптика
- SJ/T 11759-2020 Измерение соотношения сторон линии электродной сетки фотоэлектрического элемента Лазерная сканирующая конфокальная микроскопия
- YS/T 1491-2021 Способ определения сферичности порошка жаропрочных сплавов на основе никеля методом сканирующей электронной микроскопии
Professional Standard - Public Safety Standards, СЭМ оптика
- GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1938-2021 Судмедэкспертиза Проверка металлов Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1937-2021 Судебная медицина Проверка резины Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1418-2017 Исследование элементного состава судебно-медицинской экспертизы стеклянных доказательств, сканирующая электронная микроскопия/энергетическая спектроскопия
- GA/T 1522-2018 Судмедэкспертиза Осмотр остатков стрельбы Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1521-2018 Судебная медицина Исследование элементного состава пластмасс Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1519-2018 Судмедэкспертиза Проверка элементного состава тонера Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 1520-2018 Судебно-медицинская экспертиза черного пороха, проверка элементного состава пиротехнического порошка, сканирующий электронный микроскоп/рентгеновская энергетическая спектрометрия
- GA/T 823.3-2018 Методы исследования красочных доказательств в судебной медицине. Часть 3: Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
- GA/T 909-2010 Метод сбора и упаковки следов огнестрельных улик (исследование SEM/EDS)
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, СЭМ оптика
- GB/T 33834-2017 Микролучевой анализ — Сканирующая электронная микроскопия — Анализ биологических образцов с помощью сканирующего электронного микроскопа.
- GB/T 36052-2018 Химический анализ поверхности — формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии.
Professional Standard - Petroleum, СЭМ оптика
- SY/T 5162-2014 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY/T 5162-1997 Аналитический метод образца горной породы с помощью сканирующего электронного микроскопа
- SY 5162-2014 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ оптика
- DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
Association of German Mechanical Engineers, СЭМ оптика
- VDI 3866 Blatt 5-2004 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
- VDI 3866 Blatt 5-2017 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
- VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002 Оптические 3D-измерительные системы - Оптические системы на основе сканирования площади
- VDI/VDE 2634 Blatt 2-2012 Оптические 3-D измерительные системы - Оптические системы, основанные на сканировании площади
- VDI/VDE 2634 Blatt 3-2008 Оптические 3D-измерительные системы — системы множественного просмотра, основанные на сканировании площади.
- VDI 3861 Blatt 2-2008 Выбросы из стационарных источников. Измерение неорганических волокнистых частиц в выхлопных газах. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI 3492-2004 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
- VDI 3492-2013 Измерение воздуха в помещении. Измерение окружающего воздуха. Измерение неорганических волокнистых частиц. Метод сканирующей электронной микроскопии.
国家能源局, СЭМ оптика
- SY/T 5162-2021 Метод анализа образцов горных пород с помощью сканирующей электронной микроскопии
- NB/T 35109-2018 Процедуры измерения трехмерного лазерного сканирования для гидроэнергетических проектов
Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ оптика
- DB44/T 1527-2015 Микролучевой анализ Метод оценки четкости изображения сканирующего электронного микроскопа
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ оптика
- DB32/T 4546-2023 Технические условия на автоматизированный просмотр изображений диатомей с использованием сканирующих электронных микроскопов
- DB32/T 3459-2018 Сканирующая электронная микроскопия для измерения микроплощади покрытия графеновых пленок
Professional Standard - Judicatory, СЭМ оптика
Professional Standard - Medicine, СЭМ оптика
- YY/T 1895-2023 Устройство для внутрисосудистой оптической когерентной томографии
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, СЭМ оптика
- GB/T 27788-2020 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- GB/T 38783-2020 Способ определения толщины покрытия композитов благородных металлов с помощью сканирующего электронного микроскопа
- GB/T 35099-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Морфология и элементный анализ одиночных мелких частиц в окружающем воздухе.
- GB/T 35097-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Определение количественной концентрации неорганических волокнистых частиц в окружающем воздухе.
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, СЭМ оптика
- GJB 737.11-1993 Методы испытаний пиротехнических химикатов. Определение размера частиц. Сканирующая электронная микроскопия.
- GJB 8381-2015 Комбинированный метод стрик-фотографии и лазерной интерферометрии для цилиндрических испытаний взрывчатых веществ
Association Francaise de Normalisation, СЭМ оптика
- NF X21-069-2:2010 Химический анализ поверхности - Словарь - Часть 2: термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
- NF A91-108:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- NF S12-130*NF ISO 16971:2015 Офтальмологические инструменты - Оптический когерентный томограф для заднего отрезка глаза человека
- NF ISO 16971:2015 Офтальмологические инструменты - Оптический когерентный томограф заднего отрезка глаза человека
- NF X21-010:2009 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Словарь.
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ - Сканирующая электронная микроскопия - Методы оценки резкости изображения
- XP ISO/TS 24597:2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Методы оценки резкости изображения.
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- NF T25-111-4:1991 Углеродные волокна. Текстура и структура. Часть 4. Фрактография с помощью сканирующего электронного микроскопа.
- NF EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом сканирующей электронной микроскопии
- FD T16-203:2011 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение волокнистой пыли, осажденной на поверхностях, методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- NF S11-560-2:2013 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация
- NF S11-560-2*NF EN ISO 10685-2:2016 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация.
- NF X43-404-27*NF ISO 16000-27:2014 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- NF S11-560-3*NF EN ISO 10685-3:2013 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 3: техническая информация.
- NF G07-142-2*NF EN ISO 17751-2:2016 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2: метод сканирующей электронной микроскопии.
- NF EN ISO 10685-1:2012 Офтальмологическая оптика. Каталог и идентификация оправ для очков и солнцезащитных очков. Часть 1. Идентификация продукции и иерархия электронного каталога.
SE-SIS, СЭМ оптика
- SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- SIS SS CECC 00013-1985 Базовая спецификация: проверка полупроводниковых кубиков с помощью сканирующего электронного микроскопа.
European Committee for Standardization (CEN), СЭМ оптика
- EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220: 1988).
- EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
- prEN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
- EN ISO 10685-3:2012 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 3. Техническая информация (ISO 10685-3:2012).
RU-GOST R, СЭМ оптика
- GOST R 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы
- GOST R ISO 27911-2015 Государственная система обеспечения единства измерений. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение и калибровка латерального разрешения оптического микроскопа ближнего поля
- GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
- GOST 8.594-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.631-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы проверки
- GOST R IEC/TO 61948-2-2008 Приборы ядерной медицины. Рутинные тесты. Часть 2. Сцинтилляционные камеры и однофотонная эмиссионная компьютерная томография.
- GOST ISO 16000-27-2017 Воздух в помещении. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующей электронной микроскопии) (прямой метод)
- GOST R 56123-2014 Медицинское электрооборудование. Однофотонные эмиссионные компьютерные томографы. Технические требования для государственных закупок
Danish Standards Foundation, СЭМ оптика
- DS/EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
- DS/ISO 19749:2021 Нанотехнологии – Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии.
- DS/ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
- DS/IEC/TR 61948-3:2006 Приборы ядерной медицины. Рутинные испытания. Часть 3. Позитронно-эмиссионные томографы.
- DS/EN ISO 10685-3:2013 Оптика офтальмологическая. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 3. Техническая информация.
- DS/EN ISO 10685-2:2013 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация
- DS/IEC/TR 61948-2:2003 Приборы для ядерной медицины. Рутинные испытания. Часть 2. Сцинтилляционные камеры и однофотонная эмиссионная компьютерная томография.
German Institute for Standardization, СЭМ оптика
- DIN EN ISO 9220:2022-05 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022); Немецкая версия EN ISO 9220:2022.
- DIN EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021); Немецкая и английская версия prEN ISO 9220:2021.
- DIN 66223-5:1985 Шрифты для оптического распознавания символов; формат для портативного сканера
- DIN EN ISO 19749:2023-07 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021)
- DIN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988); Немецкая версия EN ISO 9220:1994.
- DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
- DIN ISO 16000-27:2014-11 Воздух помещений. Часть 27. Определение осевшей волокнистой пыли на поверхностях методом СЭМ (сканирующая электронная микроскопия) (прямой метод) (ISO 16000-27:2014)
- DIN 6855-4:2016-11 Проверка стабильности приборов ядерной медицины. Часть 4. Позитронно-эмиссионные томографы (ПЭТ)
- DIN EN ISO 10685-3:2013-03 Оптика офтальмологическая. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 3. Техническая информация (ISO 10685-3:2012); Немецкая версия EN ISO 10685-3:2012.
- DIN EN ISO 17751-2:2016-11 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO 17751-2:2016); Немецкая версия EN ISO 17751-2:2016 / Примечание. Заменяется стандартом DIN EN ISO 17751-2 (2022-09).
- DIN EN ISO 17751-2:2022-09 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии (ISO/DIS 17751-2:2022); Немецкая и английская версия prEN ISO 17751-2:2022 / Примечание: Дата выпуска 19.08.2022*I...
ES-UNE, СЭМ оптика
- UNE-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022)
- UNE-EN ISO 19749:2023 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью сканирующей электронной микроскопии (ISO 19749:2021) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в мае 2023 г.)
- UNE-EN ISO 10685-2:2016 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация (ISO 10685-2:2016, исправленная версия от 15 мая 2016 г.)
未注明发布机构, СЭМ оптика
- JIS K 0182:2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
- BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
- BS 4793:1972(2011) Рекомендации по определению оптических характеристик объективов для телекамер
- BS EN ISO 10685-2:2016(2017) Оптика офтальмологическая. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация.
- DIN EN IEC 61675-1:2022 Системы визуализации в ядерной медицине – характеристики и условия испытаний – Часть 1: Позитронно-эмиссионные томографы
Association for Information and Image Management (AIIM), СЭМ оптика
- AIIM MS52-1991 Рекомендуемая практика требований и характеристик документов, предназначенных для оптического сканирования
Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ оптика
- DB35/T 110-2000 Электронный зонд и сканирующий электронный микроскоп. Метод рентгеновского энергетического спектрального анализа для обнаружения красочных вещественных доказательств.
Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, СЭМ оптика
- GJB 5891.6-2006 Метод испытания загрузки материала для инициирования взрывного устройства Часть 6. Измерение размера зерна Сканирующая электронная микроскопия
AENOR, СЭМ оптика
- UNE-EN ISO 9220:1996 МЕТАЛЛИЧЕСКИЕ ПОКРЫТИЯ. ИЗМЕРЕНИЕ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЯ. МЕТОД РАССИВАЮЩЕЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ. (ИСО 9220:1988).
Lithuanian Standards Office , СЭМ оптика
- LST EN ISO 9220:2001 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988)
GOSTR, СЭМ оптика
- GOST R 58566-2019 Оптика и фотоника. Линзы для оптико-электронных систем. Методы испытаний
- PNST 508-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика методами сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.
AT-ON, СЭМ оптика
- OENORM EN ISO 9220:2021 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO/DIS 9220:2021)
Professional Standard - Electricity, СЭМ оптика
- DL/T 1346-2014 Рабочий код вертолетного лазерного сканирования ЛЭП
- DL/T 1346-2021 Технический регламент эксплуатации вертолетного лазерного сканирования воздушных линий электропередачи
BE-NBN, СЭМ оптика
- NBN EN ISO 9220:1995 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988).
Professional Standard - Military and Civilian Products, СЭМ оптика
- WJ 2299-1995 Правила поверки спектрометра последовательного сканирования с индуктивно-связанной плазмой
Professional Standard - Energy, СЭМ оптика
- DL/T 2333-2021 Технический регламент наземных трехмерных лазерных сканирующих измерений проектов передачи и преобразования электроэнергии
- NB/SH/T 0902-2015 Стандартный метод испытаний для измерения фазового разделения асфальтенсодержащего тяжелого мазута, вызванного н-гептаном, как числа разделяемости с помощью оптического сканирующего устройства
Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, СЭМ оптика
- DB37/T 420.2-2004 Протокол диагностики болезни скорпионовых пальцев у марикультурных рыб, часть 2: Метод диагностики с помощью сканирующей электронной микроскопии
International Electrotechnical Commission (IEC), СЭМ оптика
- IEC 62906-5-5:2022 Лазерные дисплеи. Часть 5-5. Оптические методы измерения лазерных дисплеев прямой проекции сетчатки с растровым сканированием.
American National Standards Institute (ANSI), СЭМ оптика
- ANSI/ASTM D6059:2001 Метод испытаний для определения концентрации аэрозольных монокристаллических керамических усов в рабочей среде методом сканирующей электронной микроскопии
Professional Standard - Civil Aviation, СЭМ оптика
- MH/T 1064.3-2017 Правила техники безопасности при работе с вертолетом. Часть 3. Операция лазерного сканирования.
未注明发布机构, СЭМ оптика
- JIS K 0182:2023 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
- BS CECC 13:1985(1999) Гармонизированная система оценки качества электронных компонентов: Базовая спецификация: Проверка полупроводниковых кристаллов сканирующим электронным микроскопом.
- BS 4793:1972(2011) Рекомендации по определению оптических характеристик объективов для телекамер
- BS EN ISO 10685-2:2016(2017) Оптика офтальмологическая. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация.
- DIN EN IEC 61675-1:2022 Системы визуализации в ядерной медицине – характеристики и условия испытаний – Часть 1: Позитронно-эмиссионные томографы
Professional Standard - Aviation, СЭМ оптика
- HB 20094.4-2012 Метод испытаний определения металлов износа в рабочей жидкости для авиации. Часть 4. Сканирующая электронная микроскопия и энергодисперсионная спектрометрия.
Society of Motion Picture and Television Engineers (SMPTE), СЭМ оптика
- SMPTE RP 81-2004 Технические характеристики пленки для проверки однородности сканирующего луча для 16-мм кинофотографических аудиовоспроизведений
- SMPTE RP 69-2002 Технические характеристики пленки для проверки однородности сканирующего луча для 35-мм аудиовоспроизведений кинофильмов
- SMPTE RP 81-1994 Технические характеристики пленки для проверки однородности сканирующего луча для 16-мм кинофотографических аудиовоспроизведений
Professional Standard - Nuclear Industry, СЭМ оптика
- EJ/T 20150.23-2018 После освещения топливной сборки со стержневыми реакторами PWR. Часть 23: СЭМ-анализ труб оболочек твэлов
Indonesia Standards, СЭМ оптика
- SNI IEC/TR 61948-3:2012 Приборы для ядерной медицины. Рутинные испытания. Часть 3. Позитронно-эмиссионные томографы.
- SNI IEC/TR 61948-2:2012 Приборы для ядерной медицины. Плановые испытания. Часть 2. Сцинтилляционные камеры и однофотонная эмиссионная компьютерная томография.
CEN - European Committee for Standardization, СЭМ оптика
- EN ISO 10685-2:2012 Офтальмологическая оптика. Электронный каталог и идентификация оправ и солнцезащитных очков. Часть 2. Коммерческая информация
PL-PKN, СЭМ оптика
- PN T04880-1972 Электронные лампы Осциллографические и радароскопические трубки Методы электрических и оптических испытаний
IN-BIS, СЭМ оптика
- IS 233 Pt.6-1978 Методы определения параметров длины хлопковых волокон Часть VI Оценка длины и однородности длины методом оптического сканирования